Новости

26.09.2024

Выставка состоится 21–24 октября 2024 г. в ЦВК «ЭКСПОЦЕНТР» в павильоне №2. Наш стенд № 23C96 в зале 3.

17.09.2024

Промэнерголаб стал официальным дистрибьютором индийской компании MICROLIT. MICROLIT проектирует и разрабатывает высокоточные приборы для работы с жидкостями для ведущих лабораторий мира в отраслях здравоохранения и медико-биологической промышленности.

20.09.2023

Портфолио компании Bellin Laser включает в себя целый спектр импульсных лазеров: фс, пс, нс, а также линейку высокомощных волоконных лазеров.

28.03.2022

Мы проведем эксперимент с несколькими образцами и кантилеверами полностью удаленно

28.02.2022

В ходе данного вебинара мы рассмотрим эти функции и увидим, как пользователи могут тестировать различные свойства (например, жесткостью пружины или радиусом вершины) на одном и том же образце, чтобы оптимизировать выбор правильного кантилевера.

21.02.2022

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 16-й международной специализированной выставке лазерной, оптической и оптоэлектронной техники «ФОТОНИКА. МИР ЛАЗЕРОВ И ОПТИКИ-2022».

07.02.2022

В ходе данного вебинара мы обсудим изучение характеристик сегнетоэлектрического бислоя hBN с помощью сканирующей зондовой микроскопии на автоматическом АСМ Park FX40. В первой части демонстрации будет дан обзор формирования сегнетоэлектрических образцов hBN и принципов работы силовой микроскопии с зондом Кельвина (KPFM).

01.02.2022

В ходе данного вебинаре будет показано, как эти проблемы решаются с помощью АСМ следующего поколения модели FX40 компании Park Systems. 

24.01.2022

Эта серия вебинаров покажет вам, как новый автоматизированный АСМ Park FX40 преодолевает эти препятствия, внедряя инновационные и упрощенные стандарты в наноизображения АСМ. 

25.11.2021

В обычном планарном кремниевом полевом транзисторе (FET) управляемость затвором становится слабее, когда его поперечный размер становится меньше, чем толщина транзистора, что приводит к неблагоприятным эффектам короткого канала, включая ток утечки, насыщение подвижности носителей в канале, канальная деградация горячих носителей и зависящий от времени пробой диэлектрика. Следовательно, необходимо уменьшить толщину корпуса транзистора, чтобы обеспечить эффективное электростатическое управление затвором.

24.11.2021

Конференция Euromembrane 2021 состоится с 28 ноября по 2 декабря 2021 года в Копенгагене.

17.11.2021

В ходе данного вебинара будет представлен обзор наших недавних результатов АСМ анализа по MFM-визуализации текстур в модельных наноструктурах и спинтронных устройствах. В частности, мы расскажем о сложности борьбы с возмущениями, вызванными кантилевером, которые присущи этому методу, а также об адаптации MFM для работы непосредственно с электрически подключенными устройствами.

16.11.2021

Alligator 200 поставляется со встроенным жидкостным насосом, который перекачивает отфильтрованную жидкость непосредственно в отходы, что устраняет недостатки традиционной фильтрации.

08.11.2021

19  - 22 октября 2021 г. компания POROMETER участвовала в INDEX 2021 - ведущем мероприятии по нетканым материалам в Женеве. POROMETER выделила серию порометров сканирующего давления POROLUX ™, наиболее подходящих для определения характеристик нетканых материалов в целях контроля качества, а также исследований и разработок.

27.10.2021

В ходе данного вебинара будет представлен обзор наших недавних результатов АСМ анализа, связанных с исследованием композитов на основе PVDF, с особым акцентом на понимание взаимосвязей «структура-свойство» в этих системах.

13.10.2021

В ходе данного вебинара мы остановимся на последних достижениях в области визуализации со сверхвысоким разрешением на атомно-силовых микроскопах для больших образцов.

30.09.2021

В ходе данного вебинара будет представлено два примера из работы научной группы, которые иллюстрируют силовую микроскопию с зондом Кельвина (KPFM) для определения характеристик новых тонких полупроводниковых пленок.

19.08.2021

NSFE – это открытый европейский форум пользователей АСМ, посвященный обмену передовыми исследованиями в области материаловедения и биологических наук с использованием атомно-силовой микроскопии (АСМ).

17.08.2021

Компания Park Systems продолжает курс онлайн-лекций по изучению принципов работы атомно-силовой микроскопии (АСМ). Курс охватывает принципы работы АСМ в виде теоретических лекций и интерактивных демонстрационных сессий с реальным взаимодействием с участниками.

12.08.2021

Наша компания примет участие в XV Международной конференции по импульсным лазерам и применениям лазеров – AMPL-2021, которая состоится 12 - 17 сентября 2021 г. в г. Томск.

26.07.2021

Компания B&W Tek представила PTRam – самокалибрующаяся портативную рамановскую систему для приложений разработки процессов.

09.07.2021

В ходе данного вебинара мы покажем, как режим PinPoint компании Park Systems позволяет измерять кривые «сила-расстояние» с высокой скоростью для каждого пикселя, что позволяет изучать механические свойства, такие как модуль Юнга, адгезия или рассеяние механической энергии в локальном масштабе.

05.07.2021

Компания Park Systems представляет новый АСМ революционного класса Park FX40 – автономный АСМ, выполняющий все настройки и измерения, чтобы Вы могли сконцентрироваться на своих исследованиях.

18.06.2021

Институт микроструктуры материалов и систем им. Фраунгофера IMWS и компания Park Systems приглашают Вас на Международный симпозиум по анализу отказов и испытаниям материалов – FAMT 2021, который состоится 1 июля 2021.

16.06.2021

Этот улучшенный режим позволяет пользователям выполнять высокоточное количественное картирование распределения потенциала одновременно с получением данных о топографии исследуемого образца.

25.05.2021

Уникальные функции автоматизации, такие как FastApproach, AdaptiveScan и StepScan, позволяют пользователям максимально эффективно использовать рабочее время

14.05.2021

Компания POROMETER организует новый веб-семинар посвященный теме: "Автоматическое определение первой точки пузырька (FBP): советы и рекомендации".

05.05.2021

В ходе данного вебинара будет представлено два примера из работы научной группы, которые иллюстрируют силовую микроскопию с зондом Кельвина (KPFM) для определения характеристик новых тонких полупроводниковых пленок.

29.04.2021

В этом вебинаре мы расскажем, как настроить полуконтактный и NCM режимы сканирования на наших микроскопах и как различать эти режимы во время сканирования в реальном времени. Кроме того, мы покажем результаты, которые подчеркивают преимущество NCM режима.

21.04.2021

В этой серии обучающих вебинаров вы узнаете все о том, как «чувствовать» поверхность материала с помощью кантилевера АСМ, чтобы собрать разнообразную информацию о вашем образце.

19.04.2021

Данный вебинар будет посвящен практическим аспектам получения данных высокого разрешения и наномеханических данных в режимах PinPoint и True Non-Contact на ряде пептидных нанотрубок.

05.04.2021

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем режим PinPoint C-AFM от компании Park Systems, позволяющий получать стабильные изображения распределения токов с высоким разрешением на оптически активных полупроводниках.

29.03.2021

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 15-й международной специализированной выставке лазерной, оптической и оптоэлектронной техники «ФОТОНИКА. МИР ЛАЗЕРОВ И ОПТИКИ-2021».

29.03.2021

Институт микроструктуры материалов и систем им. Фраунгофера IMWS и компания Park Systems приглашают Вас на Международный симпозиум по анализу отказов и испытаниям материалов – FAMT 2021, который состоится 1 июля 2021.

15.03.2021

В центре внимания этого вебинара будет находится сканирующая микроскопия сопротивления растеканию (SSRM), хорошо зарекомендовавший себя метод измерения профилей распределения легирующих примесей.

24.02.2021

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем возможности атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для одновременного изображения пьезоэлектрических и наномеханических свойств ПВДФ-волокон с помощью пьезоэлектрических силовой микроскопии (PFM) в режиме PinPoint.

24.02.2021

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем возможности атомно-силовых микроскопов компании Park Systems для одновременного изображения пьезоэлектрических и наномеханических свойств ПВДФ-волокон с помощью пьезоэлектрических силовой микроскопии (PFM) в режиме PinPoint.

16.02.2021

Современные проблемы в области полупроводников, преобразования энергии и исследования мягких материалов требуют наномасштабного предоставления информации о функциональных свойствах и морфологии материалов, которую удобнее всего получить с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ).

08.02.2021

В ходе данного вебинара мы опишем и продемонстрируем характеристики полимеров с помощью картирования методом анализа PinPoint на атомно-силовом микроскопе модели NX10 компании Park Systems. Кроме того, мы продемонстрируем примеры измерений, в которых карты электрических свойств получают одновременно с топографическими и наномеханическими данными.

27.01.2021

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как атомно-силовую микроскопию (АСМ) можно использовать для получения изображений с ультравысоким разрешением отдельных молекул ПТФЭ на полукристаллической поверхности коммерческой тефлоновой ленты.

26.01.2021

В ходе данного вебинара будет представлена методика фотоиндуцированной силовой микроскопии (PiFM), новый метод наномасштабной ИК-спектроскопии/микроскопии, основанный на атомно-силовой микроскопии (AFM).

14.01.2021

Новая система SYLOS3 обеспечит уникальные параметры, никогда ранее не достигнутые в коммерчески доступных системах. Пиковая мощность более 15 ТВт при частоте следования импульсов в 1 кГц и длительности импульса менее 8 фс. По сравнению с системой SYLOS2A (4.5 ТВт, 6.3 фс, 1 кГц), уже установленной в ELI-ALPS, новая система будет обеспечивать более чем в 3 раза большую пиковую и среднюю мощность.

30.11.2020

В ходе данного вебинара мы опишем и продемонстрируем характеристики полимеров с помощью картирования методом анализа PinPoint на атомно-силовом микроскопе модели NX10 компании Park Systems. Кроме того, мы продемонстрируем примеры измерений, в которых карты электрических свойств получают одновременно с топографическими и наномеханическими данными.

16.11.2020

NSFE – это открытый европейский форум пользователей АСМ, посвященный обмену передовыми исследованиями в области материаловедения и биологических наук с использованием атомно-силовой микроскопии (АСМ).

05.11.2020

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как атомно-силовую микроскопию (АСМ) можно использовать для получения изображений с ультравысоким разрешением отдельных молекул ПТФЭ на полукристаллической поверхности коммерческой тефлоновой ленты.

23.10.2020

В этом вебинаре мы продемонстрируем, как атомно-силовую микроскопию (АСМ) можно использовать для получения изображений с ультравысоким разрешением отдельных молекул PTFE на полукристаллической поверхности коммерческой тефлоновой ленты.

16.10.2020

Компания Porometer организует новый вебинар, за которым последует виртуальная демонстрация лаборатории!

15.10.2020

На данном вебинаре будут представлены различные режимы атомно-силовых микроскопов для исследования таких свойств образца, как электрические, механические, магнитные, термические и электрохимические свойства.

14.10.2020

Компания Park Systems представляет Вашему вниманию новую серию вебинаров, посвященную исследованию полимеров

14.10.2020

Компания Park Systems представляет Вашему вниманию специальный онлайн-симпозиум по нанотехнологиям «NanoScientific симпозиум по нанотехнологиям в современном меняющемся мире».

13.10.2020

Компания LIGHT CONVERSION объявила, что два ее продукта признаны одними из лучших на церемонии награждения Laser Focus World Innovators Awards 2020.

12.10.2020

Компания Microtrac MRB выпустила новый продукт BELPORE LP / MP / HP для исследования тонкодисперсных и пористых материалов.

31.08.2020

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как высокий вакуум (10-5 торр) значительно улучшает чувствительность и разрешающую способность электрических режимов АСМ при анализе TMD.

25.08.2020

Боковая силовая микроскопия с зондом Кельвина (KPFM) – это новый режим от Park Systems, который позволяет одновременно получать изображения топографии и поверхностного потенциала с высоким пространственным разрешением и улучшенной чувствительностью по сравнению с обычным режимом подъема и другими методами KPFM.

24.08.2020

Компания Park Systems представит бесплатный вебинар «Что такое хороший атомно-силовой микроскоп?».

17.08.2020

Новые методы полимеризации не должны проводиться в лабораторных колбах с использованием линии Шленка.

07.08.2020

В ходе данного вебинара будут объяснены основы EC-AFM и исследования локализованного...

24.07.2020

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как создавать структуры нанометровых размеров и обсудим основные параметры, которые следует учитывать в технологическом процессе, используя нанолитографию на атомно-силовом микроскопе Park NX10.

20.07.2020

В ходе данного вебинара будет дано полное представление о функциях атомно-силовых микроскопов в высоком вакууме.

13.07.2020

Вебинар призван помочь понять передовые разработки в области материаловедения и приложений с использованием атомно-силовой микроскопии.

06.07.2020

В ходе данного вебинара будет представлен вклад MFM в различных экспериментальных конфигурациях в проводимых исследованиях ферромагнитных и антиферромагнитных скирмионов, а также проведено теоретическое введение в MFM с высоким вакуумом.

23.06.2020

Устойчивый к флуоресценции амановский спектрометр для анализа наркотических, взрывчатых и опасных химических веществ TacticID®-1064 ST от B&WTek.

23.06.2020

Компания B&WTek представила новейшие разработки в области рамановской спектроскопии.

17.06.2020

Вебинар призван помочь исследователям понять передовые разработки в области материаловедения и приложений с использованием атомно-силовой микроскопии.

17.06.2020

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как получать изображения в жидкости...

15.06.2020

В ходе данного вебинара для демонстрации фотоэлектрического отклика от сегнетоэлектрических материалов будут использованы тонкие пленки эпитаксиально выращенных BiFeO3 и Pb(Zr,Ti)O3.

15.06.2020

Новый выпуск журнала Nano Scientific от компании Park Systems.

09.06.2020

В ходе вебинара мы планируем углубиться в тему уникальной и инновационной трехмерной...

08.06.2020

В ходе данного вебинара будет продемонстрировано, как собирать наномеханические свойства в режиме...

03.06.2020

В ходе данного вебинара будет продемонстрирован метод автоматической обработки изображений, реализованный в программном обеспечении SmartScan.

29.05.2020

Наша компания примет участие в научном европейском онлайн-форуме по сканирующей зондовой микроскопии...

28.05.2020

В ходе данного вебинара будет продемонстрирован режим сканирующей ион-проводящей микроскопии...

26.05.2020

В ходе данного вебинара будут объяснены основы EC-AFM и исследования локализованного...

26.05.2020

В ходе данного вебинара мы проведем обзор и введение в сканирующую емкостную микроскопию с ...

22.05.2020

Комплекс Ramboss-Sports представляет собой новую систему для рамановской конфокальной микроскопии и картирования. Данная система является системой модульного типа, включающая в себя такие основные компоненты, как источник лазерного излучения, измерительная камера для образца, видеомикроскоп и моторизированный предметный столик.

20.05.2020

В ходе данного вебинара мы продемонстрируем, как создавать структуры нанометровых размеров и обсудим основные параметры, которые следует учитывать в технологическом процессе, используя нанолитографию.

20.05.2020

Этот вебинар призван помочь исследователям понять передовые разработки в области материаловедения и приложений с использованием атомно-силовой микроскопии.

18.05.2020

В ходе данного вебинара Вам будет представлен, с точки зрения инженера, вклад MFM в различных экспериментальных конфигурациях в проводимых исследованиях ферромагнитных и антиферромагнитных скирмионов, а также проведено теоретическое введение в MFM с высоким вакуумом.

12.05.2020

В ходе данного вебинара будет продемонстрировано, как получить профиль легирования для образца с помощью SCM режима, а также будут рассмотрены базовый принцип, настройка оборудования и анализ полученных данных.

30.04.2020

В ходе данного вебинара мы познакомим Вас с возможностями метрологического контроля прямо на линии производства, которые необходимы для полной автоматизации контроля качества.

30.04.2020

В ходе данного вебинара будет продемонстрировано как одновременно получить высокоточные топографические данные и зарегистрировать магнитные изменения вдоль поверхности образца с помощью АСМ серии NX и программного обеспечения Smart Scan.

28.04.2020

В ходе данного вебинара мы представим обзор трех доступных режимов PFM. Какой режим наиболее подходит для Ваших образцов.

21.04.2020

Узнайте, как функции автоматизации в атомно-силовых микроскопах могут быть легко внедрены в Ваш рабочий процесс, чтобы повысить производительность Вашей лаборатории.

16.04.2020

Компания Park Systems запускает новую серию онлайн-демонстраций. Каждую неделю наши инженеры из технической поддержки будут проводить короткие узконаправленные демонстрации и обсуждать каждое применений с участниками вебинаров.

15.04.2020

Данный вебинар даст представление и расскажет о нужных материалах, предоставит обзор различий и химического состава фото- и даже терморегулируемых смол для 3D печати.

14.04.2020

В ходе данного вебинара мы расскажем Вам о быстрой настройке автоматизации для исследовательских приложений с помощью программы Smart Scan и режима StepScan.

08.04.2020

9 Апреля 2020 г. 12:00 – 13:30 (Москва). Вебинар послужит теоретическим введением в KPFM и покажет онлайн примеры экспериментов с режиме KPFM с регистрацией в боковой полосе частот с помощью атомно-силового микроскопа NX20.

07.04.2020

Зарядитесь энергией атомно-силовой микроскопии (АСМ) и присоединяйтесь к нам на онлайн-курсах по АСМ применениям в различных областях от исследовательской до промышленной сферы.

31.03.2020

Компания ROCKER – ведущий мировой производитель, специализирующийся на разработке и производстве приборов вакуумного фильтрования, лабораторных вакуумных насосов и компрессоров представила новую серию химически стойких вакуумных насосов Chemker 600.

06.03.2020

Наша компания примет участие в семинаре «Преимущества атомно-силовой микроскопии: расширяя границы магнитно-силовой микроскопии».

28.02.2020

Наша компания примет участие в XXIV международном симпозиуме «Нанофизика и наноэлектроника».

21.02.2020

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 15-й международной специализированной выставке лазерной, оптической и оптоэлектронной техники «ФОТОНИКА. МИР ЛАЗЕРОВ И ОПТИКИ-2020».

24.09.2019

Наша компания примет участие в Международной конференции «Ultrafast Optical Science» (UltrafastLight-2019), которая пройдет в Москве с 30 сентября по 4 октября 2019 года, на базе Физического института им. П.Н. Лебедева Российской академии наук (ФИАН).

24.09.2019

Компания Park Systems выпустила журнал об атомно-силовой микроскопии Nano Scientific.

23.09.2019

Приглашаем посетить стенд нашей компании на Международной конференции «Магнитный резонанс - современное состояние и перспективы на будущее» (EPR-75), которая состоится 23 - 27 сентября 2019 года в г. Казань.

14.08.2019

Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2019»

14.08.2019

Наша компания примет участие в III Международной Балтийской конференции по магнетизму (IBCM).

25.07.2019

Приглашаем Вас посетить Научный европейский форум по сканирующей зондовой микроскопии (NSFE 2019)  который состоится 11 – 13 сентября 2019 г. в г. Болонья, Италия.

20.06.2019

Компания B&W Tek анонсирует ввод в эксплуатацию портативного рамановского анализатора NanoRam-1064, предназначенного для неразрушающего контроля входного сырья, который является идеальным дополнением в линейке ручных анализаторов.

15.02.2019

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 14-й международной специализированной выставке лазерной, оптической и оптоэлектронной техники «ФОТОНИКА. МИР ЛАЗЕРОВ И ОПТИКИ-2019».

25.10.2018

Наша компания примет участие в 6-м Российском симпозиуме "Полупроводниковые лазеры: физика и технология", который состоится 13 - 16 ноября 2018 г. в г. Санкт-Петербург.

17.09.2018

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 16-й Международной выставке технологий, оборудования...

17.08.2018

Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия...

17.08.2018

Приглашаем посетить стенд нашей компании на ежегодной Международной конференции «Современное развитие магнитного резонанса 2018»...

17.08.2018

Приглашаем посетить стенд нашей компании на III Международной конференции «Спиновая физика, спиновая химия и спиновые технологии» (SPCT-2018)».

17.08.2018

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 22-й Ежегодной Международной Конференции...

28.06.2018

Компания B&W Tek объявляет о запуске нового компактного ручного рамановского спектрометра TacticID-1064

25.04.2018

Наша компания примет участие в 18-й Международной конференции по лазерной оптике (ICLO 2018)...

25.04.2018

Приглашаем посетить стенд нашей компании на конференции «КР-90», посвященной 90-летию открытия...

16.04.2018

Рамановский спектрометр i-Raman Pro-ST удостоен награды Pittcon Today Excellence Gold Award...

27.03.2018

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 15-й международной молодежной школе-конференции ...

24.01.2018

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 13-й международной специализированной выставке...

08.11.2017

Наша компания примет участие в выставке Pharmtech & Ingredients, которая состоится 21 – 24 ноября 2017 года в Москве, в МВЦ «Крокус Экспо».

24.08.2017

Конференция традиционно будет посвящена физическим и химическим процессам, протекающим в активных...

10.08.2017

Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия...

08.08.2017

Наша компания примет участие в 6-м Сибирском семинаре по спектроскопии комбинационного рассеяния света...

27.07.2017

Наша компания примет участие во второй российской конференции «Графен: Молекула и 2D кристалл»...

18.05.2017

Объективы серии RTS20x оборудованы оптическими системами линз, имеющими рабочее расстояние от 20 мм до 6 м.

07.03.2017

Наша компания примет участие в XXI международном симпозиуме «Нанофизика и наноэлектроника»...

03.02.2017

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 12-й международной специализированной выставке...

10.11.2016

BWTek представляет собственную разработку прибора i-QCRx, использующего самые передовые...

08.11.2016

Компания B&WTek, производящая портативные рамановские спектрометры, приборы для анализа...

17.10.2016

Компания B&WTek, производящая портативные рамановские спектрометры, приборы для анализа методами LIBS...

12.08.2016

Компания Park Systems представила атомно-силовой микроскоп промышленного класса на базе...

25.07.2016

Газовый пикнометр Pycnomatic выдержал технические и метрологические испытания, зарегистрирован...

23.06.2016

Компания B&WTek, производящая портативные рамановские спектрометры, приборы для анализа методами LIBS...

07.06.2016

Компания B&WTek объявляет о выпуске новой платформы BWSpec Mobile, представляющей собой улучшенную...

22.01.2016

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 11-й международной специализированной выставке...

16.11.2015

Компания B&WTek, объявляет, что их портативный спектрометр TacticID может распознавать различные образцы...

06.05.2015

В рамках выставки "Аналитика Экспо", проходившей 14 – 17 апреля 2015 г. в Москве в КВЦ «Сокольники»...

27.02.2015

«Park NX-Bio – это ответ тем исследователям в области бионауки, искавшим прибор, в котором были бы собраны вместе функции получения 3D-изображений и изображений высокого качества из жидкого состояния с большой производительностью и проведения анализа поверхности для получения ее биомеханических характеристик».

20.02.2015

Приглашаем посетить стенды нашей компании на 13-й Международной выставке лабораторного оборудования и химических реактивов "Аналитика Экспо 2015".

18.09.2014

Наша организация примет участие в работе II Российского конгресса по катализу «РОСКАТАЛИЗ»...

11.09.2014

Приглашаем посетить стенд нашей компании на международной выставке химической промышленности и науки...

04.09.2014

Получен сертификат об утверждении типа средств измерений на газо-адсорбционные порозиметры Surfer...

01.09.2014

Получен сертификат о утверждении типа средств измерений на спектрометры комбинационного рассеяния...

01.07.2014

Мы переехали, с 1 июля 2014 года наша компания находится по адресу: 107392, г. Москва, ул. Просторная, 7.

15.04.2014

Компания В&W Tek, Inc – передовая приборостроительная компания, производящая оптические...

07.04.2014

Приглашаем посетить стенды нашей компании на 12-й Международной выставке лабораторных технологий...

17.02.2014

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 9-й международной специализированной выставке...

05.12.2013

B&W Tek в настоящее время с гордостью официально объявляет о новом портативном инструменте...

19.11.2013

25 — 28 ноября 2013 года в Москве, на ВВЦ (павильон 75) в 15-й раз пройдет Международная выставка "Pharmtech...

10.10.2013

Компания «Промэнерголаб» приняла участие в всероссийской научной конференции с международным...

11.07.2013

Компания «Промэнерголаб» приняла участие в выставке, проводимой в рамках Международной Цеолитной...

01.03.2013

Приглашаем посетить стенды нашей компании на 11-й международной выставке лабораторных технологий...

28.02.2013

Приглашаем посетить стенд нашей компании на 8-й международной специализированной выставке...

30.11.2012

Наша компания приняла участие в Международной специализированной выставке "Индустрия здравоохранения... 

29.10.2012

Участие в работе девятой международной конференции “Mechanisms of Catalytic Reactions”

20.02.2012

Уважаемые дамы и господа! Будем рады видеть Вас на стенде компании "Промэнерголаб" B213 на 10-й...

19.02.2012

Мы запускаем новый дизайн нашего корпоративного сайта