Участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2018»

Наша компания примет участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2018», которая будет проходить 26 – 29 августа 2018 г. в Уральском федеральном университете в Екатеринбурге.

Конференция будет посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки.

ОСНОВНЫЕ НАПРАВЛЕНИЯ КОНФЕРЕНЦИИ:

• СЗМ в материаловедении
• PFM, MFM, KPFM, SNOM, ESM, SEM и связанные с ними методы
• Зондовая литография 
• Биосовместимые и органические материалы
• Мультиферроические явления и магнитоэлектрическая связь
• Интерфейсная и доменная инженерия
• Сегнетоэлектрики, пьезоэлектрики и ионные проводники
• 1D и 2D наноструктурированные материалы
• Теория, моделирование и обработка данных

На конференции мы будем представлять Атомно-силовые микроскопы Park Systems:

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП NX10
АСМ бесконтактного типа с длительным сроком службы наконечника (зонда) и сканированием поверхности образца, не нарушающим его целостность.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK NX20
Самый точный АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE15
Инструмент для лабораторий, работающих со множеством различных образцов, исследователей, инженеров, специализирующихся на выявлении дефектов в подложках.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE7
Высокотехнологичный микроскоп обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям.

БИОЛОГИЧЕСКИЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ МИКРОСКОП PARK NX-BIO
Инструмент 3-в-1, который уникально объединяет СИПМ и АСМ с инвертированным оптическим микроскопом (ИОМ) на одной платформе.

Будем рады видеть вас в числе посетителей нашего стенда!