Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Точные наноэлектрические исследования функциональных материалов для применения в оптоэлектронике (режим PinPoint C-AFM)»
8 Апреля 2021 г. 12:00 – 13:00 (Москва)
Успешная интеграция тонких полупроводниковых пленок в высокоэффективные оптоэлектронные устройства требует однородных электрических свойств по всей пленке. В частности, поликристаллические слои могут иметь локальные различия в проводимости из-за морфологических особенностей, таких как границы зерен или дефекты.
Проводящая атомно-силовая микроскопия (C-AFM) идеально подходит для сопоставления морфологии с (фото-)электрическими свойствами поликристаллических тонких пленок в нанометровом масштабе. Для этого проводящий кантилевер сканирует поверхность в контактном режиме и одновременно регистрирует ток в каждой точке сканирования через высокочувствительный усилитель тока. Однако поперечные сдвигающие силы, действующие между кантилевером и образцом, часто вызывают повреждение во время измерений в режиме C-AFM, что снижает качество результатов.
В ходе данного вебинара мы продемонстрируем режим PinPoint C-AFM от компании Park Systems, позволяющий получать стабильные изображения распределения токов с высоким разрешением на оптически активных полупроводниках. Этот подход, основанный на силовой спектроскопии, устраняет повреждающие сдвигающие силы между зондом и поверхностью и, таким образом, увеличивает воспроизводимость последовательных изображений. Более того, четко определяемая сила контакта не только обеспечивает точные и надежные данные для C-AFM, но и также предоставляет локальную механическую информацию, такую как жесткость и адгезия.
Вебинар будет представлен Ilka Hermes – главным ученым по поддержке научного сотрудничества для создания новых исследовательских проектов, Park Systems Europe, Мангейм, Германия.