Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Полная автоматизация на линии производства с помощью NX-Wafer»
6 Мая 2020 г. 17:00 – 18:00 (Москва)
В ходе данного вебинара мы познакомим Вас с возможностями метрологического контроля прямо на линии производства, которые необходимы для полной автоматизации контроля качества.
В продолжение предыдущего вебинара на атомно-силовом микроскопе NX20 мы познакомим Вас с программными и аппаратными дополнениями автоматизации для работы инструмента в режиме 24/7. Такие функции, как автоматическая смена подложек и автоматическая замена кантилевера, необходимы для полного управления инструментом. Автоматический сбор данных и анализ шероховатости, ширины канавки, глубины и угловых измерений являются одними из наиболее распространенных приложений, но это лишь небольшая часть различных возможностей анализа. С выбором АСМ №1 на мировом рынке Вы можете быть уверены, что найдете идеальное метрологическое решение для количественного нано- и субнаномасштабного контроля именно Вашего технологического процесса.