Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Усовершенствованная PFM – оптимизация режима для Ваших приложений – от условий без резонанса до отслеживания частоты»
10 Июня 2020 г. 12:00 – 13:30 (Москва)
Применение сегнетоэлектрических материалов в коммуникационных и информационных технологиях или для хранения данных постоянно расширяется. Оптимизация сегнетоэлектрических устройств и исследование новых применений, таких как сбор энергии, представляют большой интерес для научного сообщества и требуют методов определения характеристик, которые могут получить доступ к структурам наноразмерных доменов. Силовая микроскопия пьезоотклика (PFM), метод атомно-силовой микроскопии в контактном режиме, предоставляет информацию в области реального домена с нанометровым разрешением.
В ходе данного вебинара мы представим обзор трех доступных режимов PFM: одночастотный PFM вне резонанса, одночастотный PFM с усилением резонанса и двухчастотное резонансное отслеживание (DFRT) PFM. Каждый из режимов имеет свои преимущества и недостатки в зависимости от пьезоэлектрических и топографических свойств исследуемых образцов. Чтобы помочь Вам в полной мере использовать потенциал PFM, мы предоставим информацию, какой режим наиболее подходит для Ваших образцов.
Вебинар будет представлен Ilka Hermes – главным ученым по поддержке научного сотрудничества для создания новых исследовательских проектов, Park Systems Europe, Мангейм, Германия.