Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Максимально используйте свой потенциал: преимущества однопроходной боковой KPFM»
23 Июня 2021 г. 12:00 – 13:00 (Москва)
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) стала важным инструментом для исследований в широком диапазоне областей науки. АСМ обеспечивает более высокое разрешение по сравнению с другими методами микроскопии. Её применимость к самым разнообразным образцам делает АСМ идеальным инструментом для изучения свойств материалов на их границах раздела, для изучения биологического материала и процессов, а также для понимания фундаментальных свойств и состояний.
Благодаря высокой разрешающей способности АСМ широко используется для определения структурных и топографических характеристик. Тем не менее, кантилевер АСМ может предоставить гораздо больше информации, чем просто топография. Приближаясь к образцу, кантилевер АСМ становится чувствителен к ряду взаимодействий, которые зависят от локальных свойств исследуемого материала. Можно подготовить эксперименты АСМ таким образом, чтобы имелась возможность получать количественные данные о различных свойствах, давая исследователю набор новой и интересной информации для связи с топографией.
Среди улучшенных режимов АСМ находятся зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM), позволяющая получать данные об электрическом потенциале на поверхности образца. Таким образом, KPFM представляет собой идеальный метод локального зондирования для корреляции структурных особенностей и состава материала наблюдаемого образца с изменением электрических потенциалов, с возможными применениями во многих различных областях, таких как нано- и оптоэлектроника, коррозия металлов и накопление и хранение энергии.
Компания Park Systems по умолчанию реализовала возможность проведения однопроходной боковой KPFM во всех исследовательских инструментах серии NX. Этот улучшенный режим позволяет пользователям выполнять высокоточное количественное картирование распределения потенциала одновременно с получением данных о топографии исследуемого образца.
В ходе данного вебинара мы покажем детали и преимущества метода KPFM, а также продемонстрируем простоту его использования.
Вебинар будет представлен Dr. Andrea Cerreta – специалистом по применениям, Park Systems Europe.