Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Извлеките максимум из своего кантилевера: преимущества визуализации в бесконтактном режиме»
5 Мая 2021 г. 12:00 – 13:00 (Москва)
Для получения топографических изображений большинство атомно-силовых микроскопов (АСМ) используют режим прерывного или полуконтактного сканирования. Такой подход приводит в движение зонд АСМ на частоте возбуждения, близкой к его резонансной частоте, с амплитудами в десятки или сотни нанометров. В каждой точке анализа кантилевер периодически контактирует с образцом, а изменение амплитуды обеспечивает получения сигнал о высоте структуры.
Обратной стороной полуконтактного режима анализа является фактический контакт между образцом и зондом, что приводит к износу зонда или даже повреждению образца из мягкого материала во время сканирования. Это не только сокращает срок службы кантилевера и, следовательно, стоимость владения АСМ, но также снижает качество изображения из-за изменения формы острия зонда.
Эта проблема решается с помощью бесконтактного режима анализа (NCM) в АСМ компании Park Systems. Здесь кантилевер колеблется с меньшими амплитудами и не контактирует с образцом, работая только в режиме притяжения потенциала Леннарда-Джонса.
В этом вебинаре мы расскажем, как настроить полуконтактный и NCM режимы сканирования на наших микроскопах и как различать эти режимы во время сканирования в реальном времени. Кроме того, мы покажем результаты, которые подчеркивают преимущество NCM режима.
Вебинар будет представлен Dr. Florian Stumpf – менеджером по применениям Park Systems Europe, Мангейм, Германия.