Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Расширение возможностей передовых изображений: как автоматизация АСМ помогает в наномеханических исследованиях PinPoint в наномасштабе»
2 Марта 2022 г. 13:00 – 14:00 (Москва)
Механические измерения с помощью сканирующего зонда позволяют получить данные о наноразмерных свойствах широкого спектра как упруго, так и не упруго деформируемых образцов. Такая методология может применяться для изучения состава и механического поведения полимерных смесей, мягких тканей или волокон, а также для проведения испытаний на твердость жестких материалов.
Park Systems PinPoint™ — это режим сканирования, который позволяет одновременно записывать топографические карты поверхности образца и извлекать количественные наномеханические данные. В режиме PinPoint в реальном времени записываются и анализируются быстрые циклы силы подвода/отвода кантилевера для каждого пикселя по образцу, чтобы одновременно получить карты адгезии зонда, деформации образца, жесткости и модуля Юнга.
Новый атомно-силовой микроскоп модели FX40 от Park Systems улучшает применение режима PinPoint и всех расширенных режимов, сочетая его с автоматической заменой и выравниванием кантилеверов. В ходе данного вебинара мы рассмотрим эти функции и увидим, как пользователи могут тестировать различные свойства (например, жесткостью пружины или радиусом вершины) на одном и том же образце, чтобы оптимизировать выбор правильного кантилевера.
Вебинар будет представлен Dr. Andrea Cerreta – специалист по применениям, Park Systems Europe.