Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Раскрытие исследовательского потенциала режима анализа методом боковой KPFM»
26 Августа 2020 г. 19:00 – 20:00 (Москва)
Визуализация поверхностного потенциала методом боковой KPFM
Измерение потенциала агрегатов F14H20 методом боковой KPFM
Боковая силовая микроскопия с зондом Кельвина (KPFM) – это новый режим от Park Systems, который позволяет одновременно получать изображения топографии и поверхностного потенциала с высоким пространственным разрешением и улучшенной чувствительностью по сравнению с обычным режимом подъема и другими методами KPFM. В новом режиме топография регистрируется при колебании кантилевера на резонансной частоте, тогда как сигналы KPFM обнаруживаются на частоте боковой полосы, отстоящей на несколько кГц от резонансной частоты кантилевера. Таким образом, оба сигнала можно измерять одновременно, что значительно сокращает время сбора данных и улучшает чувствительность для визуализации поверхностного потенциала.
В ходе данного вебинара методом боковой KPFM будет исследован образец F14H20 для измерения его поверхностного потенциала.
Вебинар будет представлен Armando Melgarejo – инженером технической поддержки, Park Systems.