ТГц неохлаждаемые визуализаторы с зональным сканированием TZcam
- Непревзойденная чувствительность болометрического сенсора от 20 пВт на пиксель
- Высокая скорость сбора данных
- Высокое разрешение визуализации
- Спектральный диапазон 0.1 – 5 ТГц
- Широкая область сканирования объекта
- Бесконтактное и безопасное получение изображения
Производитель i2S
Особенности
- Непревзойденная чувствительность болометрического сенсора
- Высокая скорость сбора данных
- Высокое разрешение визуализации
- Широкая область сканирования объекта
- Бесконтактное и безопасное получение изображения
Расположенные между инфракрасными и микроволнами – электромагнитные волны от 100 ГГц до 10 ТГц являются неионизирующими волнами (то есть безопасными, неопасными для использования человеком), что делает их привлекательной альтернативой рентгеновскому излучению. Кроме того, из-за высокого распространения ТГц волн в воздухе, технология формирования изображений в ТГц диапазоне идеально подходит для бесконтактного контроля и научных исследований.
Инновационная терагерцовая технология визуализации от i2S открывает путь к неразрушающему контролю и исследованиям в области терагерцовых волн. Камеры TZcam подходят для любых лабораторий или научно-исследовательских учреждений, которые проводят исследования в области терагерцовых волн и исследуют потенциал терагерцового диапазона в различных приложениях, медицинской визуализации, онкологии и т. д. Широкий диапазон покрытия (от 0.1 ТГц до 5 ТГц) в сочетании с непревзойденной чувствительностью болометрического сенсора делает камеры TZcam идеальным инструментом для визуализации/оценки Ваших терагерцовых источников.
Кроме того, TZcam упрощает неразрушающий контроль передовых материалов, используемых в различных отраслях промышленности, и промышленный контроль качества. Технология получения изображений в ТГц диапазоне позволяет выявлять ранее невидимые дефекты внутри объектов: бесконтактная система формирования изображения ТГц излучения, проникающего в объект, может обнаруживать производственные дефекты или дефекты внутри деталей во время изготовления в режиме реального времени. Технология формирования изображений в ТГц диапазоне идеально подходит для отраслей промышленности, где требуется проверка таких материалов, как пластик, керамика, композиты, полимеры, дерево, картон и бумага, текстиль, волокна и кожа.
Области применения
- Анализ характеристик ТГц источников
- Неразрушающий контроль материалов в промышленности
- Анализ биологических образцов
- Использование в научных лабораториях
Ограничения
- Невозможность анализа водосодержащих образцов и металлов
- Разрешение зависит от длины волны и составляет порядка от нескольких мкм до мм
- Сильное затухание в воздухе при повышенной влажности
Примеры получаемых ТГц изображений
Программное обеспечение
- Соединение с ПК через кабель
- Простота использования - Динамический черный эталон
- Автоматическая синхронизация камеры/источника во избежание насыщения
- Постоянный уровень серого, позволяющий напрямую обрабатывать изображения
- Защищает сенсор от возможного перегрева - Коррекция освещения с помощью программного обеспечения
- Равномерное освещение
- Лучшая контрастность и разрешение изображения - Динамический диапазон 80 дБ
- Пакет включен в комплект
- Доступны драйверы
Технические характеристики
Модель | TZcam Premium | TZcam First |
Чувствительность | От 20 пВт на пиксель | От 30 пВт на пиксель |
Спектральный диапазон | 0.1 – 5 ТГц | |
Детектор ТГц излучения | Неохлаждаемый болометрический сенсор 320 × 240 пикселей | |
Рабочее окно детектора | Высокорезистивный кремний с просветляющим покрытием | |
Размер пикселя | 50 мкм | |
Скорость анализа | 25 Гц | |
АЦП | 16 бит | |
Соединение с ПК/питание | USB 3.0 | |
Габаритные размеры | 119 (Ш) × 126 (В) × 63 (Г) мм | |
Вес | 840 г (без рабочего объектива) |
Объективы для TZcam
Модель | OBJ lens ×0.25 | OBJ lens ×1.0 |
Материал | Высокорезистивный кремний с просветляющим покрытием | |
Рабочий диапазон частот | 0.1 – 5 ТГц | 0.1 – 0.8 ТГц |
Увеличение | 0.25Х на 200 мм | 1.0Х на 100 мм |
Фокусное расстояние | 50 мм | 50 мм |
Апертура | F/0.8 | NA 0.3 |
Поле зрения | 64 × 48 мм на 200 мм | 16 × 12 мм на 100 мм |
Просветляющее покрытие | Парилен C | Парилен C |
- 1. Cavity-based Photoconductive sources for real time terahertz imaging
J.HAWECKER,1*V.PISTORE,1A.MINASYAN,2K.MAUSSANG,1†J.PALOMO,1I.SAGNES,3J-M.MANCEAU,3R.COLOMBELLI,3J.TIGNON1,J.MANGENEY,1ANDS.S.DHILLON1
1 Laboratoire de Physique del’Ecole normale supérieure, ENS, Université PSL, CNRS, Sorbonne Université, Université de Paris, F-75005 Paris, France
2 i2S, 28-30 rue Jean Perrin 33608 Pessac
3 Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies, CNRS UMR 9001, Univ. Paris-Sud, Université Paris-Saclay, C2N-Orsay, 91405 Orsay, Cedex,France. - 2. Towards industrial applications of terahertz real-time imaging
François Simoens, Laurent Dussopt, Jérôme Meilhan, Jean-Alain Nicolas, Nicolas Monnier, Alexandre Siligaris, Bruno Hiberty, Jean-Baptiste Perraud, Patrick Mounaix, Jérémy Lalanne-Dera, Olivier Redon
CEA-Leti, Minatec Campus, Université Grenoble Alpes, 17, Rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France. i2S, F33600 Pessac, France. Bordeaux University, IMS, CNRS UMR 5218,351 cours de la libération 33405 Talence, France; CEA Tech Nouvelle-Aquitaine, Cité de la Photonique - Bâtiment SIRAH, Allée des lumières, 33600 Pessac - 3. Uncooled Terahertz real-time imaging 2D arrays developed at LETI: present status and perspectives
François Simoens, Jérôme Meilhan, Laurent Dussopt, Jean-Alain Nicolas, Nicolas Monnier, Gilles Sicard, Alexandre Siligaris, Bruno Hiberty
CEA-Leti, Minatec Campus, Université Grenoble Alpes, 17, Rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France. i2S, F33600 Pessac, France. - 4. Performance Improvements of THz Imagers Based on Uncooled Antenna-Coupled Bolometer
J. Meilhan, G. T. Ayenew, L. Dussopt, M. Hamdi, A. Hamelin, B. Hiberty, J. Lalanne-Dera,A. Minasyan, O. Redon and F. Simoens
Univ. Grenoble Alpes, CEA, LETI, MINATEC campus, Grenoble, F38054 FRANCE CEA Tech Nouvelle-Aquitaine,Cité de la Photonique, Pessac, 33600 France I2S,Pessac, 33600 France