ТГц неохлаждаемые визуализаторы с зональным сканированием TZcam

  • Непревзойденная чувствительность болометрического сенсора от 20 пВт на пиксель
  • Высокая скорость сбора данных
  • Высокое разрешение визуализации
  • Спектральный диапазон 0.1 – 5 ТГц
  • Широкая область сканирования объекта
  • Бесконтактное и безопасное получение изображения

Производитель i2S

Особенности

  • Непревзойденная чувствительность болометрического сенсора
  • Высокая скорость сбора данных
  • Высокое разрешение визуализации
  • Широкая область сканирования объекта
  • Бесконтактное и безопасное получение изображения

Расположенные между инфракрасными и микроволнами – электромагнитные волны от 100 ГГц до 10 ТГц являются неионизирующими волнами (то есть безопасными, неопасными для использования человеком), что делает их привлекательной альтернативой рентгеновскому излучению. Кроме того, из-за высокого распространения ТГц волн в воздухе, технология формирования изображений в ТГц диапазоне идеально подходит для бесконтактного контроля и научных исследований.

Инновационная терагерцовая технология визуализации от i2S открывает путь к неразрушающему контролю и исследованиям в области терагерцовых волн. Камеры TZcam подходят для любых лабораторий или научно-исследовательских учреждений, которые проводят исследования в области терагерцовых волн и исследуют потенциал терагерцового диапазона в различных приложениях, медицинской визуализации, онкологии и т. д. Широкий диапазон покрытия (от 0.1 ТГц до 5 ТГц) в сочетании с непревзойденной чувствительностью болометрического сенсора делает камеры TZcam идеальным инструментом для визуализации/оценки Ваших терагерцовых источников.

Кроме того, TZcam упрощает неразрушающий контроль передовых материалов, используемых в различных отраслях промышленности, и промышленный контроль качества. Технология получения изображений в ТГц диапазоне позволяет выявлять ранее невидимые дефекты внутри объектов: бесконтактная система формирования изображения ТГц излучения, проникающего в объект, может обнаруживать производственные дефекты или дефекты внутри деталей во время изготовления в режиме реального времени. Технология формирования изображений в ТГц диапазоне идеально подходит для отраслей промышленности, где требуется проверка таких материалов, как пластик, керамика, композиты, полимеры, дерево, картон и бумага, текстиль, волокна и кожа.

Области применения

  • Анализ характеристик ТГц источников
  • Неразрушающий контроль материалов в промышленности
  • Анализ биологических образцов
  • Использование в научных лабораториях

Ограничения

  • Невозможность анализа водосодержащих образцов и металлов
  • Разрешение зависит от длины волны и составляет порядка от нескольких мкм до мм
  • Сильное затухание в воздухе при повышенной влажности

Примеры получаемых ТГц изображений

анализ диода Шоттки

Анализ диода Шоттки: 550 ГГц

Анализ ZnTe источника

Анализ ZnTe источника: 0.1 – 3 ТГц

анализ квантового каскадного лазера

Анализ квантового каскадного лазера: 1 ТГц

получение ТГц изображений

Получение ТГц изображений со скорректированной освещенностью

анализ изменения плотности материала

Анализ изменения толщины/плотности материала

поиск скрытых объектов

Поиск скрытых объектов

Программное обеспечение

  • Соединение с ПК через кабель
    - Простота использования
  • Динамический черный эталон
    - Автоматическая синхронизация камеры/источника во избежание насыщения
    - Постоянный уровень серого, позволяющий напрямую обрабатывать изображения
    - Защищает сенсор от возможного перегрева
  • Коррекция освещения с помощью программного обеспечения
    - Равномерное освещение
    - Лучшая контрастность и разрешение изображения
  • Динамический диапазон 80 дБ
  • Пакет включен в комплект
  • Доступны драйверы

Технические характеристики

Модель TZcam Premium TZcam First
Чувствительность От 20 пВт на пиксель От 30 пВт на пиксель
Спектральный диапазон 0.1 – 5 ТГц
Детектор ТГц излучения Неохлаждаемый болометрический сенсор 320 × 240 пикселей
Рабочее окно детектора Высокорезистивный кремний с просветляющим покрытием
Размер пикселя 50 мкм
Скорость анализа 25 Гц
АЦП 16 бит
Соединение с ПК/питание USB 3.0
Габаритные размеры 119 (Ш) × 126 (В) × 63 (Г) мм
Вес 840 г (без рабочего объектива)

Объективы для TZcam

Модель OBJ lens ×0.25 OBJ lens ×1.0
Материал Высокорезистивный кремний с просветляющим покрытием
Рабочий диапазон частот 0.1 – 5 ТГц 0.1 – 0.8 ТГц
Увеличение 0.25Х на 200 мм 1.0Х на 100 мм
Фокусное расстояние 50 мм 50 мм
Апертура F/0.8 NA 0.3
Поле зрения 64 × 48 мм на 200 мм 16 × 12 мм на 100 мм
Просветляющее покрытие Парилен C Парилен C
  1. 1. Cavity-based Photoconductive sources for real time terahertz imaging
    J.HAWECKER,1*V.PISTORE,1A.MINASYAN,2K.MAUSSANG,1†J.PALOMO,1I.SAGNES,3J-M.MANCEAU,3R.COLOMBELLI,3J.TIGNON1,J.MANGENEY,1ANDS.S.DHILLON1
    1 Laboratoire de Physique del’Ecole normale supérieure, ENS, Université PSL, CNRS, Sorbonne Université, Université de Paris, F-75005 Paris, France
    2 i2S, 28-30 rue Jean Perrin 33608 Pessac
    3 Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies, CNRS UMR 9001, Univ. Paris-Sud, Université Paris-Saclay, C2N-Orsay, 91405 Orsay, Cedex,France.
  2. 2. Towards industrial applications of terahertz real-time imaging
    François Simoens, Laurent Dussopt, Jérôme Meilhan, Jean-Alain Nicolas, Nicolas Monnier, Alexandre Siligaris, Bruno Hiberty, Jean-Baptiste Perraud, Patrick Mounaix, Jérémy Lalanne-Dera, Olivier Redon
    CEA-Leti, Minatec Campus, Université Grenoble Alpes, 17, Rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France. i2S, F33600 Pessac, France. Bordeaux University, IMS, CNRS UMR 5218,351 cours de la libération 33405 Talence, France; CEA Tech Nouvelle-Aquitaine, Cité de la Photonique - Bâtiment SIRAH, Allée des lumières, 33600 Pessac
  3. 3. Uncooled Terahertz real-time imaging 2D arrays developed at LETI: present status and perspectives
    François Simoens, Jérôme Meilhan, Laurent Dussopt, Jean-Alain Nicolas, Nicolas Monnier, Gilles Sicard, Alexandre Siligaris, Bruno Hiberty
    CEA-Leti, Minatec Campus, Université Grenoble Alpes, 17, Rue des Martyrs, 38054 Grenoble, France. i2S, F33600 Pessac, France.
  4. 4. Performance Improvements of THz Imagers Based on Uncooled Antenna-Coupled Bolometer
    J. Meilhan, G. T. Ayenew, L. Dussopt, M. Hamdi, A. Hamelin, B. Hiberty, J. Lalanne-Dera,A. Minasyan, O. Redon and F. Simoens
    Univ. Grenoble Alpes, CEA, LETI, MINATEC campus, Grenoble, F38054 FRANCE CEA Tech Nouvelle-Aquitaine,Cité de la Photonique, Pessac, 33600 France I2S,Pessac, 33600 France