Нажимая кнопку «Подписаться», вы принимаете условия «Соглашения на обработку персональных данных».
Вебинар «Получение SICM изображений с помощью SmartScan»
29 Мая 2020 г. 22:00 – 22:30 (Москва)
Улучшенное контрастное топографическое изображение образца коллагена, полученное в растворе PBS в режиме SICM ARS. Отдельная фибрилла может быть четко определена, а самая тонкая наблюдаемая имеет ширину около 90 нм. Область сканирования 10 × 10 мкм, размер изображения 256 × 256 точек.
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) использует механизм обратной связи для получения изображений с наноразмерным разрешением. Данная обратная связь зависит от сохранения рабочего параметра измерения постоянным. При контактном режиме измерений этот параметр постоянная сила прижима, а в бесконтактном режиме – амплитуда колебаний кантилевера на некоторой заданной частоте.
В режиме сканирующей ион-проводящей микроскопии (SICM) кантилевер заменяется микропипеткой, заполненной электролитом, и поток ионов, протекающий через систему «микропипетка - образец» поддерживается постоянным. Именно данный поток генерирует измеряемый ток, что позволяет использовать другую технику сканирования, использующую принципы, аналогичные АСМ.
В ходе данного вебинара будет продемонстрирована данная методика измерений, а также особое внимание будет уделено сканированию по методу «подвод-отвод» (ARS) для получения изображения с помощью микропипетки с использованием атомно-силового микроскопа компании Park Systems.
Вебинар будет представлен Ben Schoenek – старшим инженеомр по техническому обслуживанию, Park Systems.
Не упустите оставшиеся вебинары данной серии!
- 5 июня: SmartScan: Автоматическая обработка изображений и сшивание изображений
- 12 июня: SmartScan: наномеханический режим измерений
- 19 июня: SmartScan: Получение АСМ изображений в жидкости