«Заряжаемся электричеством» с помощью АСМ! Виртуальное путешествие от исследований в промышленность.

Зарядитесь энергией атомно-силовой микроскопии (АСМ) и присоединяйтесь к нам на онлайн-курсах по АСМ применениям в различных областях от исследовательской до промышленной сферы.

С апреля по май 2020 года мы проведем Вас через онлайн-путешествие по вебинарам по улучшенным электрическим режимам исследования будущего: боковая KPFM, усовершенствованная PFM и SCM.

Присоединяйтесь к нашим демонстрационным онлайн-сессиям в режиме реального времени и узнайте, как автоматизация АСМ может повысить качество и производительность Ваших научных и промышленных исследований!

Часть I: «Заряжена» электрическими режимами следующего поколения

Академические и промышленные исследования, направленные на анализ современных и новых сегнетоэлектрических и полупроводниковых приложений, требуют получения изображений высокого качества и разрешения для изучения характеристик устройств. Электрические АСМ режимы, такие как силовая микроскопия с зондом Кельвина (KPFM), емкостная сканирующая микроскопия (SCM) и силовая микроскопия пьезоотклика (PFM) позволяют визуализировать электрические и электромеханические свойства на уровне наномасштабов и, таким образом, предоставляют важную информацию для анализа отказов, оптимизации устройств и исследовании новых материалов.

Для обеспечения исследователей надежными количественными картами распределения потенциала требуется высокое разрешение, достигаемое с помощью боковой KPFM. KPFM позволяет получать изображения распределения потенциала и рабочих функций на тонких пленках и внутри структур. За счет обнаружения локальных изменений электростатической емкости между зондом и образцом, SCM визуализирует профили легирования в полупроводниковых приборах, которые можно использовать для определения неисправных структур устройства или характеристик новых схем.

PFM исследует электромеханические свойства путем картирования локального пьезорезонанса кристаллических структур. Однако из-за сильной зависимости сигналов PFM от механики контакта между зондом и образцом различные режимы измерения, включая двухчастотное резонансное отслеживание, могут усиливать и стабилизировать отклик PFM.

В первой части вебинаров мы продемонстрируем Вам все описанные выше методы с помощью атомно-силового микроскопа модели NX20 компании Park Systems.

9 Апреля 2020 г.: Изучение потенциала в режиме боковой KPFM

29 Апреля 2020 г.: Усовершенствованная PFM – оптимизация режима для Ваших приложений – от условий без резонанса до отслеживания частоты

Часть II: «Заряжена» автоматизацией – Повышение производительности и качества!

Узнайте, как функции автоматизации могут быть легко внедрены в Ваш рабочий процесс, чтобы повысить производительность в Вашей лаборатории. Независимо от того, нужно ли Вам измерять много образцов, ежедневно повторять похожие схемы измерений или даже производить контроль качества , проверяя одно и то же место измерения для разных образцов снова и снова, для Вас найдется подходящий инструмент.

Мы познакомим Вас с нашими программными возможностями, начиная с ориентированного на исследования программного обеспечения Smart Scan^TM с высокой гибкостью, вплоть до промышленного пакета XEA с функциями выравнивания и распознавания образцов для контроля качества. Не тратьте свое время, сидя перед АСМ, пусть АСМ сделает всю работу за Вас.

15 Апреля 2020 г.: Быстрая настройка автоматизации для исследовательских приложений (Smart Scan и режим StepScan)

22 Апреля 2020 г.: От автоматизации в исследованиях к контролю качества (NX20 для больших образцов)

6 Мая 2020 г.: Полная автоматизация на линии производства с помощью NX-Wafer