Научный европейский форум по сканирующей зондовой микроскопии (NSFE 2019)

После успешно проведенной конференции по зондовой микроскопии в 2018 году, мы рады пригласить ученых и исследователей, работающих в области атомно-силовой микроскопии, в прекрасную Болонью. Форум NSFE 2019 в этом году организован доктором Тобиасом Крамером, факультет физики и астрономии Болонского университета (UNIBO) при поддержке CNR-ISMN, Болонья, Италия.

На данном форуме будут выступать известные эксперты из научных кругов и исследовательской отрасли, а также будут преданы огласке последние передовые исследования.

В ходе NSFE 2019 будет происходить активный обмен опытом и знаниями в самых современных задачах анализа, а также сделан акцент на различные исследования и области применений, среди которых:

• Полимеры и композитные материалы
• Наноэлектроника и фотовольтаика
• Наноматериалы и биомедицина
• Анализ наномеханических электрических свойств
• Анализ мягких материалов в жидких средах

Генеральный спонсор данного форума – компания Park Systems, являющаяся мировым лидером по созданию атомно-силовых микроскопов как для научных, так и для промышленных исследований и применений в широком спектре задач. Помимо теоретической части, Вы также сможете посетить и даже принять участие в специальных семинарах, организованных для более тесного знакомства с линейкой продукции компании Park Systems, в ходе которого опытные инженеры и исследователи продемонстрируют основы работы с атомно-силовыми микроскопами, поделятся своим опытом по проведению измерений и наглядно продемонстрируют особенности измерений на АСМ, а также расскажут о некоторых хитростях работы с таким оборудованием.

Темы практических семинаров:

• Силовая микроскопия с зондом Кельвина
• Анализ наномеханических свойств (режим PinPoint) + бесконтактный режим измерений
• Проведение измерений в жидких средах
• Улучшенная пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)

Успейте подать заявку до конца июля!