Park Systems объявила о выпуске головки для SICM, позволяющей объединить атомно-силовую микроскопию со сканирующей ион-проводящей микроскопией на одном устройстве

Компания Park Systems, мировой лидер в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), объявила о выпуске нового элемента – головки для проведения сканирующей ион-проводящей микроскопии (SICM), совместимой с атомно-силовым микроскопом NX10. Это позволяет с легкостью объединить всю мощь SICM и АСМ в одном устройстве.

Технология SICM является преимуществом почти для всех материалов и методов, которые необходимо проводить в различных жидкостях и растворах, и позволяет исследовать такие области и вещества, как гидрогель, живые клетки, электрохимические реакции, обнаружение поверхностного заряда в жидкостях и пр. Данная технология впервые была продемонстрирована в Бостоне на MRS конференции, проходившей с 30 ноября по 4 декабря.

«Новый модуль SICM для АСМ Park NX10 является единственным продуктом в своей области, который предоставляет всю мощь и полные возможности SICM технологии в атомно-силовой микроскопии, предлагая возможности глубочайших исследований различных задач в области нанотехнологий», – говорит Keibock Lee, президент компании Park Systems. «Данная технология значительно продвигает исследования в нанообластях. Например, позволяя биологам получать изображения особенно чувствительных клеток, таких как нейроны, и исследовать их самые значительные характеристики в условиях естественной окружающей среды. И на настоящий момент предоставлена возможность проводить все эти исследования с разрешением, недоступным ранее».

Данный модуль специально разработан для того, чтобы получать информацию о строении образца, находящегося в жидкой среде, с высокой точностью, при этом без взаимодействия с самим образцом и, как следствие, без нежелательных деформаций. В SICM используются специальные нано-пипетки, работающие в качестве чувствительного ион-проводящего зонда, позволяющие получать изображения надежным способом с высокой воспроизводимостью.

SICM модуль может использоваться для широкого круга научных задач, чтобы изучать материалы в жидкой фазе или находящиеся в жидких средах, включая биологов, которым необходимо знать физиологическое состояние биологических материалов, а также электрохимиков, которым необходимо получать характеристики электрохимических реакций и их изображения в жидких средах.

Данная технология также применима в тех областях, где используются методы, основанные на нано-инъекциях и нано-биопсии, сканирующей электрохимической микроскопии (SECM), измерении потенциала, обнаружение поверхностных зарядов и пэтч-клемпинге. Еще одним применением данной является возможность наблюдения и получения характеристик электрохимических реакций для изучения, например, батарей и аккумуляторов.

«Технология SICM имеет очень широкие возможности, помогающие получать морфологическую информацию об объектах, находящихся в жидкостях, с наноточностью, что позволяет исследователям понимать физиологические особенности различных материалов», - Lane A. Baker, James F. Jackson, Indiana University. «Получение изображений в жидкой среде с помощью SICM является важным достижением в области нанотехнологических исследований и будет широко использоваться нашими учеными в качестве аналитического инструмента».