Самый точный и простой в использовании атомно-силовой микроскоп

Достоверность данных
Сканирующий зондовый микроскоп NX10 позволяет получить данные, которые можно использовать, тиражировать и публиковать благодаря нано разрешению. Это один из наиболее совершенных атомно-силовых микроскопов бесконтактного типа с длительным сроком службы наконечника (зонда) и сканированием поверхности образца, не нарушающим его целостность, с консольными независимыми сканерами: латеральным XY и осевым Z, которые обеспечивают высокую точность и разрешение в непараллельных плоскостях измерения.

Отличная производительность
Оснащенный мощным вычислительным программным обеспечением SmartScan, АСМ Park NX10 позволяет получать данные гораздо быстрее и проще чем когда-либо. Автоматический режим позволяет получать изображения высочайшего качества всего с помощью нажатия трех кнопок, а для продвинутых и опытных пользователей доступен ручной режим работы со всеми возможными инструментами.

Результативность исследований

Располагая временем и данными, Вы можете сконцентрироваться на проведении инновационных исследований. Широкий диапазон режимов измерений Park NX10 и пользовательский интерфейс позволяют довольно легко настроить микроскоп для выполнения уникальных проектов.

Технология SICM – позволяет объединить атомно-силовую микроскопию со сканирующей ион-проводящей микроскопией на одном устройстве.

Широкий диапазон режимов сканирования и модульная конструкция микроскопа позволяют с легкостью адаптировать его под любые задачи сканирующей зондовой микроскопии.

Твердый образец – высота шага сканирования 1,5 мкм	Плоский образец – атомарный шаг полупроводниковой пластины сапфира
Режим сканирования: бесконтактный режим, топография датчика положения Z	Высота шага сканирования 0,3 нм, режим сканирования: бесконтактный режим, топография датчика положения Z
Твердый образец – вольфрамовая пленка 1,5 мкм	Мягкий образец – коллаген фибрилла
Режим сканирования: бесконтактный режим, топография датчика положения Z	Режим сканирования: бесконтактный режим, топография датчика положения Z

Бесконтактный режим True Non-Contact^ТМ сохраняет четкость показаний зонда

Бесконтактный режим True Non-Contact это уникальный режим сканирования, использующийся в АСМ компании Park Systems, позволяющий получать изображения с высочайшим разрешением и точностью за счет предотвращения губительного взаимодействия «образец-кантилевер» во время сканирования.

В отличие от контактного режима измерений, в котором кантилевер постоянно находится в соприкосновении с поверхностью исследуемого образца, или полуконтактного метода, когда кантилевер соприкасается с поверхностью периодически, кантилевер, используемый в режиме True Non-Contact, не касается поверхности образца вообще. В виду этой особенности применение бесконтактного метода имеет ряд преимуществ. Доступно получение изображений с высочайшим разрешением в течение долгого периода времени, поскольку острота наконечника кантилевера сохраняется. Данный режим предотвращает повреждение поверхности мягких образцов. Отсутствуют непредвиденные частые расходы на приобретение новых кантилеверов.

Режим True Non-ContactTM	Полуконтактное изображение
Ниже износ зонда = длительное сканирование высокого разрешения Неразрушающий контакт зонд-образец = минимальное нарушение образца Невосприимчивость к параметрам измерений (при получении результатов)	Быстрый износ зонда = размытое сканирование низкого качества Разрушающее образец взаимодействие зонд-образец = нарушение и изменение поверхности образца Высокая зависимость от параметров измерений

Простая замена наконечника (зонда) и образца Уникальная конструкция головки обеспечивает простой боковой доступ для снятия и замены зонда и образца вручную. Кантилевер готов к выполнению сканирования без дополнительных сложных настроек лазерного пучка, так как имеет предварительно настроенный держатель зонда.

Быстрое автоматическое подведение зонда Наш автоматический механизм подведения зонда к поверхности образца не требует вмешательства пользователя и занимает 10 секунд после загрузки кантилевера. Контролируя реакцию при движении кантилевера вдоль поверхности образца, Park NX10 способен максимально быстро подвести зонд (в течение 10 секунд загрузки кантилевера). Быстрая обратная связь высокоскоростного Z сканера и обработка сигнала с низким уровнем шума электронным контроллером NX обеспечивают необходимый контакт с поверхностью образца без вмешательства оператора. С АСМ можно работать, не прикладывая больших усилий.

Простая, интуитивно понятная настройка лазерного пучка С помощью нашего современного, предварительно настроенного держателя кантилевера лазерный пучок имеет требуемую фокусировку. Кроме того, естественный осевой вид сверху, как уникальное решение в индустрии, позволяет быстрее заметить лазерную точку. Поскольку лазерный пучок падает вертикально вниз на кантилевер, можно интуитивно перемещать лазерную точку вдоль осей Х и Y поворотом двух кнопок. В результате этого, упрощается процедура поиска лазерной точки и ее легче расположить на PSPD с помощью интерфейса настройки пучка. Поэтому остается только отрегулировать величину сигнала на запуск режима получения данных.

АСМ, выполненный по самой передовой технологии:

• Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 50 мкм × 50 мкм
• Высокоскоростной Z сканер с 15 мкм диапазоном сканирования
• Датчики положения низкого уровня шума XYZ
• Моторизированный предметный столик XY
• Автоматизация процесса поэтапного сканирования
• Удобный держатель образца
• Слот для дополнительных режимов и опций SPM
• Мощная осевая оптика со встроенным осветителем и ПЗС камерой
• Удобное крепление головки SLD по направляющей
• Моторизированный Z столик и фокусный столик (автофокусирующая подача)
• Высокоскоростная 24-битная цифровая электроника
• Мощное программное обеспечение SmartScan для управления атомно-силовым микроскопом сочетает в себе универсальную гибкость, простоту использования и предоставляет непревзойденную производительность

Стандартное изображение

• True Non-Contact AFM (реальный бесконтактный режим АСМ)
• Basic Contact AFM (основной контактный режим АСМ)
• Латеральная силовая микроскопия (LFM)
• Фазовое изображение
• Прерывистый (полуконтактный) режим АСМ

Химические свойства*

• Химическая силовая микроскопия с функциональным зондом
• Электрохимическая микроскопия (EC-STM и EC-AFM)

Температурные свойства*

• Сканирующая температурная микроскопия (SThM)

Электрические свойства*

• Режим проводимости АСМ
• Спектроскопия I-V
• Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM/KPM)
• Сканирующая микроскопия (SKPM) высокого напряжения
• Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
• Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)
• Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
• Сканирующая туннельная спектроскопия (STS)
• Картографирование фототоком по времени (Tr-PCM)

Оптические свойства*

• Картографирование фототоком по времени (Tr-PCM)

Магнитные свойства*

• Магнитная силовая микроскопия (MFM)

Диэлектрические/пьезоэлектрические свойства*

• Электрическая силовая микроскопия (EFM)
• Динамическая контактная EFM (DC-EFM)
• Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)

* Опционально