Блог — Атомно-силовая микроскопия

ДЕК272018

Использование такой технологии, как атомно-силовая микроскопия (АСМ), в областях науки о жизни позволяет ученым начать исследования и раскрывать неизведанные тайны на уровне наномасштабов.

ДЕК252018

Благодаря своим ферромагнитным свойствам и правильно-ориентированной структуре вблизи поверхности раздела при комнатной температуре, пленка MnAs на подложке GaAs является одной из наиболее перспективных систем для будущих спинтронных устройств.

ДЕК212018

Во время химико-механического полирования металла слои металлов меди или вольфрама истощаются, что приводит к образованию дефектов поверхности. Атомно-силовая микроскопия становится одним из необходимых инструментов в полупроводниковой промышленности с целью контроля таких дефектных результатов обработки.

ДЕК172018

Структура образца плазмида была успешно охарактеризована с помощью атомно-силового микроскопа NX10 компании Park Systems с использованием бесконтактного метода сканирования в жидкости в режиме True Non-Contact.

ДЕК142018

Способность понять и теоретически контролировать как электронные, морфологические и химические несоответствия вместе играют синергетическую роль в работе устройств из ZnO, должна быть первоочередной во всех текущих исследованиях ZnO в качестве электронного материала. Существует несколько методик, которые позволяют рассмотреть одно или два из этих свойств на ограниченном масштабе.

ДЕК142018

Цель всех видов микроскопии – предоставить возможность увидеть более мелкие объекты и их детали и характеристики, которые нельзя увидеть без вспомогательных устройств. Естественно, что ход научного исследования требует, чтобы мы в результате исследовали абсолютные пределы имеющихся методик метрологии и атомно-силовая микроскопия (АСМ) не является исключением.

ДЕК072018

С помощью атомно-силового микроскопа NX20 компании Park Systems и простого в использовании и эргономичного программного обеспечения SmartScan могут быть получены изображения волос для сравнения топографии поверхности на наноуровне до и после длительного воздействия солнечным светом.

НОЯ132018

В данной статье измерение методом PFM выполняется с использованием нового разработанного режима PinPoint компании Park System с целью предоставления положительных отличий от обычного контактного режима. Сравнение производительности обычной PFM и PinPoint PFM проводилось при измерении отожженной фенантреновой пленки.

ИЮЛ202018

В последние годы понимание электрохимических процессов, таких как электроосаждение, стало важным аспектом в различных технологических и научных приложениях, включая микроэлектронику, нанобиологические системы, преобразование солнечной энергии и другие применения химической отрасли, благодаря широкому спектру возможностей данного метода. Процесс электроосаждения сокращает количество катионов и способствует осаждению частиц на поверхность проводящей подложки.

ИЮЛ092018

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) предлагает простой, эффективный и неразрушающий альтернативный метод контроля для анализа различных видов поверхностей структурированных объектов как на этапах контроля сапфировых подложек, так и на конечной стадии готовых LED.