Рентгеновские дифрактометры (XRD)
Сверхбыстрый и высокоточный метод «Omega-scan» позволяет определить полную ориентацию кристалла всего за несколько секунд. XRD системы могут работать 24 часа в сутки в производственных условиях с целью выравнивания положения кристаллов для их распиловки или шлифовки, определения положения плоскости, проверки готовой продукции.
- Дифрактометрия одного кристалла
- Угловое разрешение 0.1 арксекунда
- Размер образца до 450 мм
- Полностью автоматизированное измерение
- Полная ориентации решетки единичных кристаллов
- Высокая точность анализа (до 0.01°)
- Контроль резания, шлифования и притирки
- Применим для подложек от 50 мм до 300 мм и слитков весом до 20 кг
- Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
- Сверхбыстрое измерение ориентации кристаллов
- Высокая точность анализа (до 0.01°)
- Измерение мелких образцов размерами от 1 мм
- Полное ручное управление
- Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)
- Определение типов ориентации: AT, SC, IT, TF, X, Y, Z.
- Скорость измерения 2 сек
- Высокая точность ориентации: СКО ≤ 10 арксекунд
- Высокое пространственное разрешение: 1 ± 0.1 мм
- Определение ориентационного наклона относительно образца
- Автоматическое отображение угловых компонентов
- Интеграция в любую систему автоматизации или обработки
- Разработаны для работы в жестких условиях (распиловка, шлифовка)
- Независимое измерение ориентации
- Измерение на плоских поверхностях или окружностях
- Обнаружение оптических насечек
- Измеряемые материалы: Si, SiC, GaAs и другие
- Размер образцов: слитки/були диаметром до 450 мм
Компания Freiberg Instruments занимается изготовлением рентгеновских дифрактометров и автоматизированных встраиваемых в линии производства решений для ориентации кристаллической решетки и выравнивания образца по его оси, т.е. систем для ориентации кристаллов.
Компания специализируется на использовании сверхбыстрого и высокоточного метода «Omega-scan», который позволяет определить полную ориентацию кристалла всего за несколько секунд. Опциональное добавление систем для двумерного или трехмерного картирования, анализа кривой качания в комбинации с полной автоматизацией системы делает наши дифрактометры неотъемлемой частью контроля качества для производителей монокристаллов. Имеется возможность исследования образцов в виде булей, слитков, пластин и подложек, брусков, панелей, стержней и других геометрических форм кристаллов.