Рентгеновский дифрактометр для сверхбыстрого измерения ориентации и кривой качания кристаллов Omega/Theta

• Дифрактометрия монокристаллов
  - Полностью автоматизированное измерение полной ориентации кристаллической решетки одного кристалла
  - Сверхбыстрое определение ориентации кристалла с помощью «Omega-scan» метода
  - Автоматизированное измерение кривой качания
  - Угловое разрешение дифрактометра 0.1 арксекунда
  - Размер образца до 450 мм
  - Широкое поле применений: от контроля качества продукции до научных исследований
• Простота использования и экономическая эффективность
  - Удобная работа с образцами и простота управления
  - Расширенное и интуитивно-понятное программное обеспечение
  - Низкое энергопотребление и дешевое обслуживание
• Модульный дизайн и гибкость
  - Различные опции апгрейда производительности
  - Кастомизация под Ваши требования

Рентгеновский дифрактометр Omega/Theta представляет собой полностью автоматизированный вертикальный трехосевой дифрактометр для определения ориентации оптической оси различных кристаллов с использованием «Omega-scan» и «Theta-scan» методов и анализа кривой качания. Большая и просторная конструкция измерительной камеры позволяет вмещать образцы с держателями длиной до 450 мм и весом до 30 кг.

Все измерения проводятся в автоматизированном режиме и контролируются с помощью интуитивного и простого программного обеспечения. С помощью «Omega-scan» метода путем вращения кристалла может быть определена полная ориентация кристаллической решетки всего за 5 секунд. «Theta-scan» метод является более гибким, однако определяет только одно направление ориентации за одно сканирование.

Также с помощью «Theta-scan» метода с высокой точностью (до 0.001°) может быть определен угол наклона. Для всех других направлений по кристаллу точность определения угла зависит от угловой разницы к нормали поверхности.

Данная система является системой модульного типа и была оборудована большим количеством различных дополнений для решения специальных задач, например, определение формы или плоскостности, картирование, интеграция различных держателей образца. Наклон образца определяется с помощью оптического измерения и может использоваться для корректировки результирующей ориентации.

• Выравнивание образцов различной геометрии и размеров
• Анализ нелинейных оптических материалов
• Маркировка и измерение образца в и вне контролируемой плоскости/оси
• Анализ кривой качания: оценка поверхности кристалла (опция с XY столиком)
• Ориентационное картирование кристаллической поверхности (опция с XY столиком)
• Трехмерное картирование кристаллических турбинных лопастей (опция с XY столиком)
• Ориентированная укладка кремниевых подложек в штабеля для дальнейшей склейки (опция для штабелирования)

Рис. 1. Omega-scan дифрактограмма SiC                        Рис. 2. Турбинная лопасть: ориентационная карта одного компонента

Рис. 3. Ориентационная карта Si/Ge подложки               Рис. 4. Карта параметров кристаллической решетки