Рентгеновские дифрактометры для ориентации брусков, анализа пластин, сортировки заготовок серии Quartz XRD
- Скорость измерения всего 2 сек (для AT)
- Высокая точность ориентации: СКО ≤ 10 арксекунд
- Высокое пространственное разрешение: 1 ± 0.1 мм
- Автоматическое отображение угловых компонентов (theta и phi)
- Возможность определения типов ориентации: AT, SC, IT, TF, X, Y, Z
Производитель Freiberg Instruments
Особенности
Рентгеновские дифрактометры данной серии позволяют создать комплексную лабораторию для контроля процесса производства кварцевых элементов. Они позволяют осуществлять ориентацию первичных кварцевых брусков (Quartz Bar XRD), производить анализ распиленных кварцевых пластин (Quartz Wafer XRD) и осуществлять сортировку конечных кварцевых заготовок (Quartz Blank XRD).
С помощью данных систем предоставляется возможность определения следующих типов ориентации: AT, SC, IT, TF, X, Y, Z.
Отличительные особенности
- Скорость измерения всего 2 сек (для AT)
- Высокая точность ориентации: СКО ≤ 10 арксекунд
- Высокое пространственное разрешение: 1 ± 0.1 мм
- Определение ориентационного наклона относительно образца
- Автоматическое отображение угловых компонентов (theta и phi), включая стандартное отклонение
- Модульная конструкция, прочный и надежный дизайн
- Простое программное обеспечение с несколькими уровнями доступа. Автоматическое отображение, запись и формирование отчета об измеренных данных
- Автоматизация: кастомизируемые системы держания образцов для различных размеров пластин или заготовок, включая роботизированные руки, системы типа «pick & place»
- Рентгеновская трубка: 1.5 кВт, медный анод
- Напряжение питания: 100 – 230 В, 16 А, однофазное, 50/60 Гц
Области применения
Схема производственного процесса с применением дифрактометров серии Quartz XRD
Дополнительные опции
- Интерфейс (для промышленной сферы)
- Картирование для пластин
- Стереографическая проекция
Пример картирования кварцевой пластины
Технические характеристики
| Quartz Bar XRD | Quartz Wafer XRD | Quartz Blank XRD |
| Полностью автоматизированное оборудование для ориентации кварцевых брусков | Полностью автоматизированное оборудование для анализа кварцевых пластин | Полностью автоматизированное оборудование для сортировки кварцевых заготовок |
| Образцы: Кварцевые бруски |
Образцы: Круглые, прямоугольные, квадратные |
Образцы: Круглые, прямоугольные, квадратные |
| Работа с образцами: Полностью автоматизированный захват и выравнивание брусков Автоматизированное приклеивание на держатель |
Работа с образцами: от 4×4 мм до 80×80 мм (ручная загрузка) от 20×20 мм до 80×80 мм (автоматическая загрузка) |
Работа с образцами: от 4×4 мм до 12×12 мм (ручная загрузка) от 1.5×1.5 мм до 3×6 мм (опция автоматизации №1) от 4×4 мм до 9×9 мм (опция автоматизации №2) |
| Точность ориентации: ±0.5° (для AT и TF) | Опция картирования для проверки пространственных характеристик | Сортировка в группы по качеству ±7.5 арксек (миним.) |
| Модульный дизайн: возможность апгрейда автоматизации в будущем | Пропускная способность: до 1000 заготовок в час при стандартной точности сортировки | |
| Стандартные держатели образцов для загрузки/выгрузки: кассеты или штабеля | ||
| Доступна функция сортировки | ||
| Пропускная способность: до 350 пластин в час при стандартной точности сортировки |
*Все технические параметры могут быть изменены без предварительного уведомления
- Метод сверхбыстрого измерения ориентации кристаллических образцов Omega-scan
- Ориентация кварцевых брусков
- Анализ кварцевых пластин
- Сортировка кварцевых заготовок
- Скачать проспект на Рентгеновские дифрактометры для ориентации брусков, анализа пластин, сортировки заготовок серии Quartz XRD
- Скачать общий проспект рентгеновских дифрактометров (XRD)
Программное обеспечение
1. Gancarczyk, K., Albrecht, R., Berger, H., Szeliga, D., Gradzik, A., and Sieniawski, J. (2017). Determination of Crystal Orientation by Ω-Scan Method in Nickel-Based Single-Crystal Turbine Blades.
2. W. Bogdanwicz, R. Albrecht, J. Sieniawski, K. Kubiak: The subgrain structure in turbine blade roots of CMSX-4 superalloy.
3. W. Bogdanwicz, R. Albrecht, A. Onyszko, J. Sieniawski: Characterization of Single-Crystal Turbine Blades by X-Ray Diffraction Methods.
4. B. Nestler, H.-J. Kuhr, G. Hildebrandt, H. Bradaczek: Novel use of a commercial goniometer for sorting round quartz blanks. Meas. Sci. Technol. 2 (1991), 528-531.
5. G. Hildebrandt, H. Bradaczek: Experiences with Quartz Oscillator Angle-Sorting. Cryst. Res. Technol. 37 (2002), 111-118.
6. H. Berger: Simulation of X-Ray Reflection Curves in Single Non-Coplanar Geometry and Its Application. Cryst. Res. Technol. 37 (2002), 716-726.
7. H. Berger: X-ray orientation determination of single crystals by means of the Ω-Scan Method. J. Phys. IV France 118 (2004), 37-4.
8. H. Berger, H.-A. Bradaczek, H. Bradaczek, “Omega-Scan: an X-ray tool for the characterization of crystal properties”, J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 19 (2008) S351-S355
9. A. Onyszko, J. Sieniawski, W. Bogdanowicz, H. Berger: Two methods of studying structure perfection of single crystal nickel-based superalloy. Solid State Phenomena, 203-204 (2013), 177-180.