Рентгеновский дифрактометр для сверхбыстрого измерения ориентации кристаллов (SDCOM)

  • Сверхбыстрое измерение ориентации кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Измерение мелких образцов размерами от 1 мм
  • Полное ручное управление
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)

Производитель Freiberg Instruments

Узнайте цену

Особенности

«Умный» рентгеновский дифрактометр для измерения ориентации кристаллов (SDCOM) представляет собой автоматизированное оборудование для определения ориентации различных кристаллов с помощью «Omega-scan» метода. Данный дифрактометр был разработан специально для анализа мелких кристаллов.

  • Возможность измерения мелких образцов размерами от 1 мм
  • Широкий выбор держателей образца
  • Опция маркировки латерального направления кристалла
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки, вода не требуется
  • Высокая точность анализа до 0.01° (в зависимости от качества кристалла)
  • Определение полной ориентации решетки единичных кристаллов
  • Сверхбыстрое измерение ориентации кристаллов с помощью «Omega-scan» метода
  • Применим ка для исследовательских целей, так и для контроля качества на производстве
  • Полное ручное управление (без опций автоматизации)

ориентация кристалла

Рис. 1. Ориентация кристалла определяется по рефлекторной позиции

Области применения

Примеры измеряемых материалов

  • Кубическая/произвольная неизвестная ориентация: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
  • Кубическая/специальная ориентация: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
  • Тетрагональные: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
  • Гексагональные/тригональные: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (кварц), Al2O3 (сапфир), GaPO4, La3Ga5SiO14
  • Орторомбические: Mg2SiO4, NdGaO3
  • Другие материалы в зависимости от Ваших задач

Программное обеспечение

Программное обеспечение XRDStudio

Аксессуары

Предметный XY столик
Столик для штабелирования
Гониометр для анализа кривой качания
Кастомизируемые держатели образцов

1. Gancarczyk, K., Albrecht, R., Berger, H., Szeliga, D., Gradzik, A., and Sieniawski, J. (2017). Determination of Crystal Orientation by Ω-Scan Method in Nickel-Based Single-Crystal Turbine Blades.
2. W. Bogdanwicz, R. Albrecht, J. Sieniawski, K. Kubiak: The subgrain structure in turbine blade roots of CMSX-4 superalloy.
3. W. Bogdanwicz, R. Albrecht, A. Onyszko, J. Sieniawski: Characterization of Single-Crystal Turbine Blades by X-Ray Diffraction Methods.
4. B. Nestler, H.-J. Kuhr, G. Hildebrandt, H. Bradaczek: Novel use of a commercial goniometer for sorting round quartz blanks. Meas. Sci. Technol. 2 (1991), 528-531.
5. G. Hildebrandt, H. Bradaczek: Experiences with Quartz Oscillator Angle-Sorting. Cryst. Res. Technol. 37 (2002), 111-118.
6. H. Berger: Simulation of X-Ray Reflection Curves in Single Non-Coplanar Geometry and Its Application. Cryst. Res. Technol. 37 (2002), 716-726.
7. H. Berger: X-ray orientation determination of single crystals by means of the Ω-Scan Method. J. Phys. IV France 118 (2004), 37-4.
8. H. Berger, H.-A. Bradaczek, H. Bradaczek, “Omega-Scan: an X-ray tool for the characterization of crystal properties”, J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 19 (2008) S351-S355
9. A. Onyszko, J. Sieniawski, W. Bogdanowicz,  H. Berger: Two methods of studying structure perfection of single crystal nickel-based superalloy. Solid State Phenomena, 203-204 (2013), 177-180.

В каталог