Настольный рентгеновский дифрактометр для измерения ориентации кристаллов (DDCOM)

  • Полная ориентации решетки единичных кристаллов
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)
  • Контроль резания, шлифования и притирки
  • Применим для подложек от 50 мм до 300 мм и слитков весом до 20 кг
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки (вода не требуется)

Производитель Freiberg Instruments

Узнайте цену

Особенности

Настольный рентгеновский дифрактометр для измерения ориентации кристаллов (DDCOM) представляет собой автоматизированное оборудование для определения ориентации различных кристаллов с помощью «Omega-scan» метода.

  • Определение полной ориентации решетки единичных кристаллов
  • Сверхбыстрое измерение ориентации кристаллов с помощью «Omega-scan» метода
  • Определение произвольной неизвестной ориентации кубических кристаллов
  • Разработан специально для азимутальной установки и маркировки направлений решетки
  • Воздушное охлаждение рентгеновской трубки, вода не требуется
  • Применим как для исследовательских целей, так и для контроля качества на производстве

Сверхбыстрый метод анализа «Omega-scan»

  • В 200 раз быстрее «Theta-scan» метода
  • Автоматическая оценка полной ориентации решетки в 3D
  • Определение полной ориентации кристалла всего за 5 с

Эффективность рабочего процесса для контроля качества

  • Для стандартных исследований и промышленности
  • Азимутальная установка и маркировка ориентации кристалла
  • Заранее запрограммированные параметры кубического кристалла
  • Ультрасовременное и удобное программное обеспечение
  • Высокая точность анализа (до 0.01°)

Компактность, простота использования, экономичность

  • Настольный дизайн, легкость, простота перемещения
  • Удобство работы с образцами
  • Низкое энергопотребление и эксплуатационные затраты за счет воздушного охлаждения рентгеновской трубки (вода не требуется)

Контроль резания, шлифования и притирки

  • Полная ориентации решетки единичных кристаллов
  • Применим для большого количества материалов в широком диапазоне размеров и веса: подложки от 50 мм до 300 мм и слитки весом до 20 кг

Области применения

Схема работы «Omega-scan» метода

omega-scan метод

Все необходимые параметры ориентации кристалла измеряются за одно вращение в течение 5 секунд.

Возможные опциональные конфигурации

  • Устройство для картирования подложек (макс. диаметр 225 мм)
  • Устройство для автоматической загрузки из кассет

Примеры измеряемых материалов

  • Кубическая/произвольная неизвестная ориентация: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
  • Кубическая/специальная ориентация: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
  • Тетрагональные: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
  • Гексагональные/тригональные: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (кварц), Al2O3 (сапфир), GaPO4, La3Ga5SiO14
  • Орторомбические: Mg2SiO4, NdGaO3
  • Другие материалы в зависимости от Ваших задач

Технические характеристики

Источник рентгеновского излучения 30 Вт рентгеновская трубка с воздушным охлаждением, медный анод
Система регистрации Два сцинтилляционных детектора
Держатель образца Высокоточный поворотный столик (0.01°), крепежная пластина и инструменты для подстройки образца
Программное обеспечение XRDStudio
Габаритные размеры 600 (В) × 600 (Г) × 850 (Ш) мм
Вес 80 кг
Напряжение питания 100 – 230 В перем. тока, однофазное, 50/60Гц
Энергопотребление 100 Вт
Рабочая температура Не более 30°C

Программное обеспечение

Программное обеспечение XRDStudio

Аксессуары

Предметный XY столик
Столик для штабелирования
Гониометр для анализа кривой качания
Кастомизируемые держатели образцов

1. Gancarczyk, K., Albrecht, R., Berger, H., Szeliga, D., Gradzik, A., and Sieniawski, J. (2017). Determination of Crystal Orientation by Ω-Scan Method in Nickel-Based Single-Crystal Turbine Blades.
2. W. Bogdanwicz, R. Albrecht, J. Sieniawski, K. Kubiak: The subgrain structure in turbine blade roots of CMSX-4 superalloy.
3. W. Bogdanwicz, R. Albrecht, A. Onyszko, J. Sieniawski: Characterization of Single-Crystal Turbine Blades by X-Ray Diffraction Methods.
4. B. Nestler, H.-J. Kuhr, G. Hildebrandt, H. Bradaczek: Novel use of a commercial goniometer for sorting round quartz blanks. Meas. Sci. Technol. 2 (1991), 528-531.
5. G. Hildebrandt, H. Bradaczek: Experiences with Quartz Oscillator Angle-Sorting. Cryst. Res. Technol. 37 (2002), 111-118.
6. H. Berger: Simulation of X-Ray Reflection Curves in Single Non-Coplanar Geometry and Its Application. Cryst. Res. Technol. 37 (2002), 716-726.
7. H. Berger: X-ray orientation determination of single crystals by means of the Ω-Scan Method. J. Phys. IV France 118 (2004), 37-4.
8. H. Berger, H.-A. Bradaczek, H. Bradaczek, “Omega-Scan: an X-ray tool for the characterization of crystal properties”, J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 19 (2008) S351-S355
9. A. Onyszko, J. Sieniawski, W. Bogdanowicz,  H. Berger: Two methods of studying structure perfection of single crystal nickel-based superalloy. Solid State Phenomena, 203-204 (2013), 177-180.

В каталог