Surface Concept

Компания Surface Concept  – это высокотехнологичные решения для пикосекундного детектирования и анализа поверхности в нанотехнологиях.

Мы делаем комплексные детекторы, микроскопию, спектроскопию и лабораторные системы управляемыми и, таким образом, делаем их широко доступными и используемыми. Все, что мы разрабатываем и производим, должно быть пригодным для использования в качестве модуля, сборки или системы для ориентированного на будущее, полностью оцифрованного, частично или полностью автоматизированного лабораторного анализа или для вашего (автоматизированного) управления качеством, сопровождающего производство.

Surface Concept GmbH — это высокотехнологичная фабрика, в которой в настоящее время работает 13 постоянных сотрудников. Все продукты Surface Concept GmbH были разработаны или совместно разработаны акционерами и сотрудниками Surface Concept GmbH.

Наши сотрудники имеют многолетний опыт работы в области спектроскопии и микроскопии, детектирования изображений с временными корреляциями, а также сверхбыстрой электроники, высокоскоростного сбора данных и автоматизации лабораторий. Наша работа ориентирована на клиента и обслуживание, и мы можем быстро и эффективно реализовать для вас множество решений с помощью уже разработанных модулей.

Уже более 10 лет компания Surface Concept GmbH является ведущим производителем изображающих детекторов электронов, ионов, ультрафиолетовых и рентгеновских лучей с временным разрешением на базе анодов с линией задержки, а также устройств для измерения времени в пикосекундном диапазоне и пикосекундной электроники.

Мы производим и поставляем специальные и высокотехнологичные детекторы для промышленного анализа, исследований и разработок, а также для просвечивающих и сканирующих электронных микроскопов. Мы производим и поставляем комплексные время-пролетные спектрометры (ToF), электронно-импульсные микроскопы, визуализирующие электронные спиновые детекторы, флуоресцентные микроскопы сверхвысокого разрешения, а также электронные продукты или узлы для приложений в наносекундном и пикосекундном диапазоне, для задач измерения и управления, а также для автоматизации лабораторий до высокостабильных источники высокого напряжения и тока.

Surface Concept GmbH производит времяпролетные (ToF) спектрометры и параллельные электронно-импульсные микроскопы (с ToF или полусферическим энергетическим фильтром) на основе уникальной и запатентованной электронной оптики.

В период с 2010 по 2016 год д-р Кристиан Туше, проф. д-р Юрген Киршнер и их коллеги из Института Макса Планка в Галле, а также проф. д-р Герд Шенхенсе и сотрудники Университета Майнца разработали революционно улучшенную электронную оптику для времяпролетных или полусферических анализаторов энергии (патенты DE 102013005173C5, DE 102014018555B3 и DE 102017126882B3).

Surface Concept GmbH владеет эксклюзивными лицензионными правами по всему миру на коммерциализацию этих импульсных микроскопов, особенно на дизайн с параллельными спиновыми изображающими детекторами, которые также запатентованы (патент DE102005045622B4).

Все наши текущие импульсные микроскопы основаны на этой лицензионной разработке. Специальная версия такого импульсного микроскопа на основе запатентованной высокотехнологичной разработки производится и продается компанией Specs Surface Nano Analytik GmbH в Берлине под названием KREIOS-MM посредством сублицензии, предоставленной Surface Concept GmbH. Также продукт METIS компании Specs Surface Nano Analytik GmbH основан на запатентованном ядре импульсного микроскопа Surface Concept k-ToF, разработанного и производимого компанией Surface Concept GmbH.

Компания Focus GmbH в Хюнштеттене использует сублицензию, предоставленную Surface Concept GmbH, на производство детекторов вращения для своих импульсных микроскопов NanoESCA.

Surface Concept GmbH владеет лицензиями на производство микроскопов сверхвысокого разрешения на основе метода локализационной микроскопии SPDM phymod (метод стохастической локализации, который значительно улучшен и запатентован по сравнению с STORM или PALM, патент EP2265931B9).

Мы разработали универсальную платформу флуоресцентной микроскопии (nanoFLeyeTM) с высокой степенью автоматизации, которая охватывает как классическую флуоресцентную микроскопию, так и микроскопию TIRF вплоть до сверхразрешения SPDM (аналог dSTORM) с разрешением менее 20 нанометров. Используется запатентованный метод автоматического суперразрешения. Специальная система камер (ReconFlexTM) была разработана для поддержки автоматической реконструкции локализации в нанометровом диапазоне в реальном времени.

Нашей сильной стороной является автоматизированный и гибкий технический дизайн аппаратной части микроскопа и автоматизация метода SPDM, что позволяет использовать такие микроскопы в режиме онлайн и с дистанционным управлением и получать изображения сверхвысокого разрешения за очень короткое время без последующих этапов оценки.