Сегментированные детекторы с линией задержки

Прямое крепление к проходному коннектору сигнала
16 усилителей
16-кратный дискриминатор с постоянным порогом
диапазон измерения: 0 нс – 40 мкс в режиме старт-стоп
интерфейс USB3.0 для считывания данных

Производитель Surface Concept

Описание

Программное обеспечение

Публикации

Описание

Данные блоки детекторов на основе микроканальной пластины (МКП) с сегментированным анодом с меандровой структурой линии задержки специально разработаны для обнаружения множественных попаданий электронов, ионов и фотонов с разрешением по положению и времени с временным разрешением до нс и пространственным разрешением в микронах за счет параллельного и независимого считывания с каждого сегмента.

Аноды детектора доступны в виде двухмерного анода с меандровой структурой линии задержки, сегментированного в четырех квадрантах или в восьми перекрывающихся сегментах. Они также доступны в виде сложного массивного стека одномерных линий задержки с большими номерами. Детекторы с линией задержки доступны с различными активными площадями и монтируются на стандартные фланцы типа CF с проходными коннекторами для передачи сигнала и высоковольтного питания. Они поставляются в виде полных комплектов, включающих электронику аналогового считывания, преобразователь времени в цифру (TDC), пакет программного обеспечения и опциональный источник питания высокого напряжения для установки и эксплуатации в режиме plug and play.

Все комплекты детекторов включают следующие электронные компоненты:

Блок дискриминатора с постоянным порогом усилителя – блок быстрой обработки импульсов для детекторов с линией задержки

прямое крепление к проходному коннектору сигнала

16 усилителей

16-кратный дискриминатор с постоянным порогом

Преобразователь времени в цифру (TDC) – электроника измерения времени со встроенной логикой считывания DLD на основе FPGA

количество стоп-входов: 16

количество пусковых входов (опорные часы): 1

диапазон измерения: 0 нс – 40 мкс в режиме старт-стоп

интерфейс USB3.0 для считывания данных

опциональные входы/выходы для расширенных параметров измерения

Источник питания высокого напряжения (опционально) – 2-канальный источник питания высокого напряжения для питания детекторов с линией задержки

2 канала высокого напряжения для питания блока МКП и DLD анода

сенсорный дисплей для ручного управления

Ethernet интерфейс для внешнего управления

вход внешнего опорного сигнала для плавающего режима работы высоковольтного источника питания и детектора

Блок детектора модели DLD6060-4Q

Фланцевый 4-квадрантный анодный детектор с линией задержки на основе МКП для увеличения возможности множественных попаданий с 3-кратным SHV и 16-кратным SMB проходным коннектором и кабелями для питания высокого напряжения и импульсной развязкой.

активная область: 60 мм в диаметре
размер квадранта: 30 × 30 мм
количество пикселей на квадрант: 600 × 600
разрешение по времени: ≤ 240 пс
Макс. случайная скорость счета: ≥ 2 Mcps

Блок детектора модели DLD8080-4Q

активная область: 80 мм в диаметре
размер квадранта: 40 × 40 мм
количество пикселей на квадрант: 1200 × 1300
разрешение по времени: ≤ 240 пс
Макс. случайная скорость счета: ≥ 2 Mcps

Блок детектора модели DLD120120-4Q

активная область: 120 мм в диаметре
размер квадранта: 60 × 60 мм
количество пикселей на квадрант: 2700 × 2700
разрешение по времени: ≤ 240 пс
Макс. случайная скорость счета: ≥ 2 Mcps

Блок детектора модели DLD6060-8S

Фланцевый 8-сегментный частично перекрывающийся анодный детектор с линией задержки на основе МКП для увеличения возможности множественных попаданий с 3-кратным SHV и 16-кратным SMB проходным коннектором и кабелями для питания высокого напряжения и импульсной развязкой.

активная область: 60 мм в диаметре
количество пикселей: 1200 × 1200
разрешение по времени: ≤ 240 пс
Макс. случайная скорость счета: ≥ 5 Mcps

Блок детектора модели DLD8080-8S

активная область: 80 мм в диаметре
количество пикселей: 1300 × 1300
разрешение по времени: ≤ 240 пс
Макс. случайная скорость счета: ≥ 5 Mcps

Блок детектора модели DLD120120-8S

активная область: 120 мм в диаметре
количество пикселей: 3000 × 3000
разрешение по времени: ≤ 300 пс
Макс. случайная скорость счета: ≥ 5 Mcps

Программное обеспечение

Y. Li, J. Simolka, M. Millinger, E. Farahvashi, A. Mocker, M. Sommer, K. D. Bunte, R. Sramaa
Measurement of fragments generated by hypervelocity impacts of micron-sized iron particles at grazing
incidents
Advances in Space Research 69, 6 (2022) DOI: 10.1016/j.asr.2021.12.034

G. Sch nhense, K. Medjanik, S. Babenkov, D. Vasilyev, M. Ellguth, O. Fedchenko, S. Chernov, B. Sch nhense
and H.-J. Elmers
Momentum-Transfer Model of Valence-Band Photoelectron Diffraction
Comms. Phys. 3, 45 (2020) DOI: 0.1038/s42005-020-0311-9

G.W. Fraser, J.F. Pearson, W.B. Feller, L.M. Cook

Thermal neutron imaging using microchannel plates

SPIE Proceedings 1737, 298 (1993) DOI: 10.1117/12.138671

D. Kutnyakhov, P. Xian, M. Dendzik, M. Heber, F. Pressacco, S.Y. Agustsson, L. Wenthaus, H. Meyer, S. Gieschen,
G. Mercurio, A. Benz,K. Bühlman, S. D ster, R. Gort, D. Curcio, K. Volckaert, M. Bianchi, Ch. Sanders, J.A. Miwa,
S. Ulstrup, A. Oelsner, C. Tusche, Y.J. Chen, , D. Vasilyev, K. Medjanik, G. Brenner, S. Dziarzhytski, H. Redlin, B.
Manschwetus, S. Dong, J. Hauer, L. Rettig, F. Diekmann, K. Rossnagel, J. Demsar, H.J. Elmers, Ph. Hofmann,
R. Ernstorfer, G. Sch nhense, Y. Acremann and W. Wurth
Time- and momentum-resolved photoemission studies using time-of-flight momentum microscopy at a freeelectron
laser
Rev. Sci. Instrum. 91, 0130109 (2020) DOI: 10.1063/1.5118777

H.J. Elmers, J. Regel, T. Mashof, J. Braun, S. Babenkov, S. Chernov, O. Fedchenko, K. Medjanik, D. Vasilyev, J.
Minar, H. Ebert and G. Sch nhense
Rashba splitting of the Tamm surface state on Re(0001) observed by spin-resolved photoemission and scanning
tunneling spectroscopy
Phys. Rev. Research 2, 013296 (2020) DOI: 10.1103/PhysRevResearch.2.013296

O. Fedchenko, A. Winkelmann, S. Chernov, K. Medjanik, S. Babenkov, S. Y. Agustsson, D. Vasilyev, M. Hoesch,
H.J. Elmers and G. Sch nhense
Emitter-site specificity of hard x-ray Photoelectron Kikuchi-diffraction
New J. of Phys. 22, 103002 (2020) DOI: 10.1088/1367-2630/abb68b

K. Bühlmann, R. Gort, A. Fognini, S. D ster, S. Holenstein, N. Hartmann, Y. Zemp, G. Salvatella, T. U. Michlmayr,
T. B hler, D. Kutnyakhov, K. Medjanik, G. Sch nhense, A. Vaterlaus and Y. Acremann
Compact setup for spin-, time-, and angle-resolved photoemission spectroscopy
Rev. Sci. Instrum. 91, 063001 (2020) DOI: 10.1063/5.0004861

S. Babenkov, K. Medjanik, D. Vasilyev, S. Chernov, C. Schlueter, A. Gloskovskii, Yu. Matveyev, W. Drube, B.
Sch nhense, K. Rossnagel, H.-J. Elmers and G. Sch nhense
High-accuracy bulk electronic bandmapping with eliminated diffraction effects using hard X-ray photoelectron
momentum microscopy
Comms. Phys. 2, 107 (2019) DOI: 10.1038/ s42005-019-0208-7

O. Fedchenko, A. Winkelmann, K. Medjanik, S. Babenkov, D. Vasilyev, S. Chernov, C. Schlueter, A. Gloskovskii,
Yu. Matveyev, W. Drube, B. Sch nhense, H. J. Elmers and G. Sch nhense
High-resolution hard-x-ray photoelectron diffraction in a momentum microscope - the model case of graphite
New J. of Phys. 21, 113031 (2019) DOI: 10.1088/1367-2630/ab51fe

O. Fedchenko, K. Medjanik, S. Chernov, D. Kutnyakhov, M. Ellguth, A. Oelsner, B. Sch nhense, T. Peixoto,
P. Lutz, C.-H. Min, F. Reinert, S. D ster, Y. Acremann, J. Viefhaus, W. Wurth, J. Braun, J. Min r, H. Ebert, H. J.
Elmers and G. Sch nhense
4D texture of circular dichroism in soft-x-ray photoemission from tungsten
New J. of Phys. 21, 013017 (2019) DOI: 1367-2630/aaf4cd

K. Medjanik, S. V. Babenkov, S. Chernov, D. Vasilyev, B. Sch nhense, C. Schlueter, A. Gloskowskii, Yu. Matveyev,
W. Drube, H. J. Elmers and G. Sch nhense
Progress in HAXPES Performance Combining Full-Field k-Imaging with Time-of-Flight Recording
J. of Synchr. Radiation 26, 1996–2012 (2019) DOI: 10.1107/S1600577519012773

K. Medjanik, O. Fedchenko, S. Chernov, D. Kutnyakhov, M. Ellguth, A. Oelsner, B. Sch nhense, T. R. F. Peixoto,

P. Lutz, C.-H. Min, F. Reinert, S. D ster, Y. Acremann, J. Viefhaus, W. Wurth, H. J. Elmers and G. Sch nhense
Direct 3D Mapping of the Fermi Surface and Fermi Velocity
Nature Materials 16, 615-621 (2017) DOI: 10.1038/nmat4875

G. Sch nhense, K. Medjanik, S. Chernov, D. Kutnyakhov, O. Fedchenko, M. Ellguth, D. Vasilyev, A
Zaporozhchenko, D. Panzer, A. Oelsner, C. Tusche, B. Sch nhense, J. Braun, J. Min r, H. Ebert, J. Viefhaus, W.
Wurth and H. J. Elmers
Spin-Filtered Time-of-Flight k-Space Microscopy of Ir – Towards the “Complete” Photoemission Experiment
Ultramicroscopy 183, 19–29 (2017) DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.06.025

M. Staab, D. Kutnyakhov, R. Wallauer, S. Chernov, K. Medjanik, H.- J. Elmers, M. Kl ui and G. Sch nhense
Energy- and k-resolved mapping of the magnetic circular dichroism in threshold photoemission from Co films
on Pt(111)
Phys. Rev. B 95, 165437 (2017) DOI: 10.1103/PhysRevB.95.165437

H. J. Elmers, D. Kutnyakhov, S.V. Chernov, K. Medjanik, O. Fedchenko, A. Zaporozhchenko-Zymakova, M.
Ellguth, C. Tusche, J. Viefhaus, G. Sch nhense
Hosting of surface states in spin-orbit induced projected bulk band gaps of W(110) and Ir(111)
J. Phys.: Condens. Matter 29, 255001 (2017) DOI: 10.1088/1361-648X/aa7173

A. Zaporozhchenko-Zymakov , D. Kutnyakhov, K. Medjanik, C. Tusche, O. Fedchenko, S. Chernov, M. Ellguth,
S.A. Nepijko, H.J. Elmers, and G. Sch nhense
Momentum-resolved photoelectron absorption in surface barrier scattering on Ir(111) and graphene/Ir(111)
Phys. Rev. B 96, 155108 (2017) DOI: 10.1103/PhysRevB.96.155108

C. Tusche, P. Goslawski, D. Kutnyakhov, M. Ellguth, K. Medjanik, H. J. Elmers, S. Chernov, R. Wallauer, D.
Engel, A. Jankowiak, and G. Sch nhense
Multi-MHz Time-of-Flight Electronic Bandstructure Imaging of Graphene on Ir(111)
Appl. Phys. Lett. 108, 261602 (2016) DOI: 10.1063/1.4955015

A. Kronenberg, J. Braun, J. Minar, H.-J. Elmers, D. Kutnyakhov, A. V. Zaporozh-chenko, R. Wallauer, S. Chernov,
K. Medjanik, G. Sch nhense, M. Kl ui, S. Chadov, H. Ebert, and M. Jourdan
Dirac cone and pseudogapped density of states in the topological half-Heusler compound YPtBi
Phys. Rev. B 94, 161108 (2016) DOI: 10.1103/PhysRevB.94.161108

D. Kutnyakhov, S. Chernov, K. Medjanik, R. Wallauer, C. Tusche, M. Ellguth, S.A. Nepijko, M. Krivenkov, J.
Braun, S. Borek, J. Minar, H. Ebert, H.J. Elmers, and G. Sch nhense
Spin texture of time-reversal symmetry invariant surface states on W(110)
Scientific. Rep. 6, 29394 (2016) DOI: 10.1038/srep29394

H. J. Elmers, R. Wallauer, M. Liebmann, J. Kellner, M. Morgenstern, R. N. Wang, J. E. Boschker, R. Calarco, J.
Sanchez-Barriga, O. Rader, D. Kutnyakhov, S. V. Chernov, K. Medjanik, C. Tusche, M. Ellguth, H. Volfova, S.
Borek, J. Braun, J. Minar, H. Ebert, and G. Sch nhense
Spin mapping of surface and bulk Rashba states in ferroelectric α-GeTe(111) films
Phys. Rev. B 94, 201403 (2016) DOI: 10.1103/PhysRevB.94.201403

K. Müller-Caspary, A. Oelsner P. Potapov
Two-dimensional strain mapping in semiconductors by nano-beam electron diffraction employing a delay-line
detector
Applied Physics Letters 107, 1072110 (2015) DOI: 10.1063/1.4927837

X. Cui, C. Wang, A. Argondizzo, S. Garrett-Roe, B. Gumhalter, and H. Petek
Transient excitons at metal surfaces
Nature Physics 10, 505-509 (2014) DOI: 10.1038/NPHYS2981

A. Beni, N. Ott, M. Pawelkiewicz, M. Ward , K. Young, B. Bauer, P. Rajput, B. Detlefs, J. Zegenhagen, R. McGrath,
M.-G. Barth s-Labrousse, L.P.H. Jeurgens, and P. Schmutz
Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) characterisation of electrochemical passivation oxide layers
on Al–Cr–Fe complex metallic alloys (CMAs)
Electrochemistry Communications 46, 13-17 (2014) DOI: 10.1016/j.elecom.2014.05.024

M. Huth, C.-T. Chiang, A. Trützschler, F.O. Schumann, J. Kirschner, and W. Widdra<
Electron pair emission detected by time-of-flight spectrometers: Recent progress
Appl. Phys. Lett. 104, 061602 (2013) DOI: 10.1063/1.4864274

C. Aruta, C. Schlueter, T.-L. Lee, D. Di Castro, D. Innocenti, A. Tebano, J. Zegenhagen, and G. Balestrino
Interface reconstruction in superconducting CaCuO2 /SrTiO3 superlattices: A hard x-ray photoelectron
spectroscopy study
Physical Review B 87, 155145 (2013) DOI: 10.1103/PhysRevB.87.155145

A. Iturrondobeitia, A. Go i, L. Lezama, C. Kim, M. Doeff, J. Cabanabc, and Te filo Rojo
Effect of Si(iv) substitution on electrochemical, magnetic and spectroscopic performance of nanosized
LiMn2-xSixO4
Journal of Materials Chemistry A 1, 10857 (2013) DOI: 10.1039/C3TA11659J

P. Dziawa, B. J. Kowalski, K. Dybko, R. Buczko, A. Szczerbakow, M. Szot, E. Łusakowska, T. Balasubramanian,
B. M. Wojek, M. H. Berntsen, O. Tjernberg & T. Story
Topological crystalline insulator states in Pb1−xSnxSe
Nature Materials 11, 1023-1027 (2012) DOI: 10.1038/nmat3449

W.B Feller, R.G. Downing, and P.L White
High-Resolution Imaging with Microchannel Plates
INIS ANS Annual Meeting Boston MA 32, 103 (1999) DOI

A.S Tremsin and W.B. Feller
Efficiency optimization of microchannel plate (MCP) neutron imaging detectors. I. Square channels with 10B
doping
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 539, 278 (2005) DOI: 10.1016/j.nima.2004.09.028

A.S. Tremsin and W.B. Feller
The theory of compact and efficient circular-pore MCP neutron collimators
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A 556, 556 (2006) DOI: 10.1016/j.nima.2005.11.068

A.S. Tremsin, E. H. Lehmann, N. Kardjilov, M. Strobl, J. B. McPhate, J. V. Vallerga, O. H. W. Siegmund, W.B. Feller
Refraction contrast imaging and edge effects in neutron radiography
Journal of Instrumentation 7, C02047 (2012) DOI: 10.1088/1748-0221/7/02/C02047

В каталог