Сканирующие (растровые) электронные микроскопы
Линейка лучших в своем классе портативных электронных микроскопов от компании Seron Technologies.
От настольных систем до систем с увеличением 1 000 000Х.
- Технология компенсации аберраций
- Режим низкого напряжения (получение изображений образцов без покрытия)
- Улучшенная компенсация внутренних вибраций, нагрева и электро-магнитных помех
- Высокая совместимость с EDS (угол 25°)
- Дополнительное цифровое увеличение 2Х, 4Х, 8Х
- Детектор вторичных электронов ET-типа
- Большое увеличение, режим низкого напряжения
- Дополнительное цифровое увеличение 2Х, 4Х, 8Х
- Конический объектив с углом 65° для анализа широких образцов
- Высокая скорость сканирования и разрешение
- CE сертификация
- Конический объектив на 60°
- Высокое разрешение (до 8192×6144 пикселей)
- Возможность исполнения на основе Lab6 или FE-SEM оптики для долгого обзора под высоким вакуумом
- Высокая скорость сканирования
- Многозадачный графический пользовательский интерфейс
- Режим SEM для получения изображений в нанометровом диапазоне разрешения
- Режим электронно-лучевого микрообъединения для сплавления/спекания субмикронных частиц (макс. ток 100 мкА)
- Низко кэВ электронная пушка
- Возможность отслеживания процесса с помощью BSE детектора
- Возможность получения SEM изображений в нм масштабе
- Уникальная система объединения лучей
- Субмикрометровый размер рабочего луча + зондовый ток более 100 мкА
- Легкость наведения на мкм объекты
