Международная конференция “Scanning Probe Microscopy” (SPM-2019)

Наша компания приняла участие в 3-ей Международной конференции “Scanning Probe Microscopy” (SPM-2019) и 4-м Российско-Китайском семинаре
по диэлектрическим и сегнетоэлектрическим материалам, которые состоялись 25 – 28 августа 2019 г. в Уральском федеральном университете в Екатеринбурге.

Конференция была посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки. На  российско-китайском семинаре по  диэлектрическим и  сегнетоэлектрическим материалам исследователи представили последние достижения в  изучении фундаментальных аспектов и  применении диэлектрических и  сегнетоэлектрических материалов. В конференции приняли участие более 200 ученых из 14  стран.

Компания «Промэнерголаб» выступила в качестве спонсора и приняла участие в работе выставки.

Наш сотрудник Бутяйкин С.В. выступил с докладом «Park Systems Atomic Force Microscopes (AFM)».

На нашем стенде была представлена подробная информация по атомно-силовым микроскопам:

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП NX10
АСМ бесконтактного типа с длительным сроком службы наконечника (зонда) и сканированием поверхности образца, не нарушающим его целостность.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK NX20
Самый точный АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE15
Инструмент для лабораторий, работающих со множеством различных образцов, исследователей, инженеров, специализирующихся на выявлении дефектов в подложках.

АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП PARK XE7
Высокотехнологичный микроскоп обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям.

БИОЛОГИЧЕСКИЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ МИКРОСКОП PARK NX-BIO
Инструмент 3-в-1, который уникально объединяет СИПМ и АСМ с инвертированным оптическим микроскопом (ИОМ) на одной платформе.