Изображающий спиновый детектор

Производитель Surface Concept

Описание

Данная опция представляет собой модернизацию существующего ToF импульсного микроскопа, в которой спиновая визуализация основана на параллельно работающем запатентованном [патенты DE 102013005173C5 и DE 102005045622B4] принципе спинового фильтра на базе Au/Ir.

Принцип работы

Прибор работает либо как обычный ToF импульсный микроскоп в прямой ветви, либо кристалл спинового фильтра отклоняет изображение для спинового анализа в перпендикулярной ветви (ветвь со спиновой фильтрацией).

импульсный микроскоп в прямой ветви

Карты постоянной энергии

Карты постоянной энергии Re (0001), измеренные с энергией фотонов 18.5 эВ. Энергии связи слева направо: 0 мВ, 200 мэВ и 400 мэВ. В нижнем ряду отображаются измерения, отфильтрованные по спину.

Изображение с полем зрения 450 мкм образца шахматно-видной структуры с > 9000 пикселями в полном изображении. Это демонстрирует качество изображения спин-фильтрованной ветви.

Изображение с полем зрения 450 мкм