спектрометр ядерного магнитного резонанса SLK-1000-PM

ЯМР спектрометр для анализа нефтесодержащих пород SLK-1000-PM

  • Специальная разработка для анализа нефтесодержащих пород
  • Низкое время задержки эхо-импульса < 60 мкс
  • Магнит Халбаха с температурной компенсацией
  • Измерение одной пробы за 1.5 минуты
  • Гибкое программное обеспечение

Производитель Spinlock

Отличительные особенности

SLK-1000-PM представляет собой оборудование ядерного магнитного резонанса настольного типа для измерения образцов пород, отбираемых боковым грунтоносом (боковой керн) и других нефтесодержащих пород. Оборудование предназначено для анализа образцов при комнатной температуре и нормальном давлении. Оно включает в свой состав специализированную программу для анализа Condor LITE, а также 2D-ILT плагин (обратное преобразование Лапласа).

Особенности

  • Специальная разработка для анализа нефтесодержащих пород
  • Низкое время задержки эхо-импульса < 60 мкс
  • Магнит Халбаха с температурной компенсацией
  • Измерение одной пробы за 1.5 минуты
  • Гибкое программное обеспечение

Определяемые параметры

  • Накопленная, общая и эффективная пористость
  • Коэффициент проницаемости и смачиваемость поверхности породы
  • Профиль распределения пор по размерам
  • Межпорная взаимосвязь
  • Содержание воды и нефти в породе (параметры отсечки T1, T2 времени поперечной релаксации ЯМР)
  • Суммарный остаточный объем (BVI)
  • Индекс свободного флюида (FFI)
  • Связанная вода (CBW)

Области применения

Нефте- и газодобывающая отрасль

  • Измерение многофазного потока для вычисления обводнённости продукции
  • Анализ нефтесодержащих пород
  • Анализ смешиваемых на топливо газов
  • Контроль содержания парафинов

Аксессуары

автосэмплер Автосэмплер SLK-AS-10
Спроектирован для автоматической подачи образца в прибор и его последующего извлечения. Автосэмплер поднимает держатель с образцом из приготовленного набора, взвешивает его и помещает в оборудование для измерения. Пропускная способность: минимум 2 модуля под 50 образцов (возможно больше).

Нефте- и газодобывающая отрасль

Применение ядерного магнитного резонанса для анализа многофазного потока в нефте- и газодобывающей сферах Подробнее...

Похожее оборудованиеВ каталог
  • Настольное типоисполнение
  • Не требует особых условий эксплуатации
  • Рабочая частота 80 МГц
  • Чувствительность по 1H: ≥ 240:1
  • Не требует водяного охлаждения
  • Рабочая частота: 9.2 – 9.6 ГГц
  • Высокая чувствительность 5×1013 спин/Тл
  • Динамическая оптимизация регистрируемого спектра
  • Диапазон развертки поля до 750 мТл
  • Автоматическая самодиагностика и калибровка
  • Настольное типоисполнение
  • Определение содержания жиров/масел в %
  • Определение содержания влаги в %
  • Определение содержания жирных кислот в %
  • Определение содержания белков в %
  • Анализ нефтесодержащих пород
  • Низкое время задержки эхо-импульса < 60 мкс
  • Магнит Халбаха с температурной компенсацией
  • Измерение одной пробы за 1.5 минуты
  • Z-градиент для диффузионных экспериментов
  • Гибкое программное обеспечение
160 000 ₽
  • Предел взвешивания: 220 г
  • Дискретность: 0,1 мг
  • Повторяемость (+/-) 0,1 мг
  • Линейность (+/-) 0,2 мг
  • Внешняя калибровка
  • Реестр СИ РФ
  • Спектральный диапазон: 50 – 4500 см-1
  • Рабочий диапазон в режиме PL: 185 – 2400 нм
  • Высокочувствительные подложки (SERS)
  • Фокусное расстояние: 250 мм
  • Квантовая эффективность: Макс. 55%
  • Спектральный диапазон100 – 3800 см-1 (для решетки 600 штр/мм)
  • Спектральное разрешение< 2.5 см-1 / пиксель (решетка 600 штр/мм)
  • Рабочий диапазон ПЗС матрицы 400 – 1000 нм
  • Модовый состав SLM
  • Квантовая эффективность 84% на 495 нм
  • Длина волны возбуждения: 785, 633, 532 нм
  • Мощность лазера: 40, 20 мВт
  • Спектральный диапазон: 100 – 3200 см-1, 100 – 3500 см-1, 100 – 3600 см-1
  • Спектральное разрешение: ≤ 10 см-1
  • Оптический микроскоп для визуализации в светлом поле
  • Анализ обнаруженного спектра с помощью базы данных по библиотеке
  • Оптическая схема однолучевая
  • Спектральный диапазон от 800 до 3200 нм
  • Выделяемый спектральный интервал от 1 до 9 нм
  • Минимальный шаг спектрального сканирования - 0,2 нм