Атомно-силовой микроскоп Park NX12

  • Измерение электрических, магнитных, температурных и механических свойств в нанометровом масштабе
  • Метод сканирования на основе микропипеток
  • Диапазон сканирования в плоскости XY: 100 × 100 мкм
  • Доступно сканирование АСМ головкой или SICM модулем
  • Различные режимы измерения: бесконтактный режим, полуконтактный режим, PinPoint режим и т.д.

Производитель Park Systems

Описание

Универсальный АСМ для электрохимии и общего пользования

  • Система атомно-силовой микроскопии для измерения электрических, магнитных, температурных и механических свойств в нанометровом масштабе
  • Система сканирования на основе микропипеток для высокоточных измерений методами сканирующей ион-проводящей микроскопии (SICM), сканирующей электрохимической микроскопии (SECM) и сканирующей электрохимической клеточной микроскопии (SECCM)
  • Инвертированный оптический микроскоп для исследования прозрачных материалов и интеграции с флуоресцентной микроскопией

Сочетание доказанной производительности АСМ Park NX10 с инвертированным оптическим микроскопом

Микроскоп Park NX12 объединяет в себе универсальность и точность атомно-силового микроскопа NX10, являющегося флагманом серии NX, и предметный столик для оптического инвертированного микроскопа. Данная особенность позволяет изучать электрохимические свойства прозрачных, мутных, мягких и твердых образцов.

Идеальная платформа для фундаментальных исследований в области электрохимии

Изучение электрохимических свойств аккумуляторов, топливных элементов, сенсоров и процессов коррозии является быстро развивающимся направлением современного мира. Однако большинство стандартных АСМ не обладают необходимыми комплектующими для проведения такого анализа. АСМ Park NX12 предоставляет необходимые исследователям в области химии гибкость и функциональные возможности, являясь простым и законченным решением со всеми необходимыми инструментами и аксессуарами:

  • Универсальные и простые в использовании электрохимические ячейки
  • Опции контроля параметров окружающей среды для поддержания необходимой влажности или продувки инертным газом
  • Инвертированный оптический микроскоп
  • Совместимость с потенциостатом/регулятором напряжения

Исследователи могут применять NX12 для изучения с помощью следующих методик:

  • Сканирующая электрохимическая микроскопия (SECM)
  • Сканирующая электрохимическая клеточная микроскопия (SECCM)
  • Электрохимическая атомно-силовая микроскопия (EC-AFM)
  • Электрохимическая сканирующая туннельная микроскопия (EC-STM)

Простота оптического наблюдения с моторизированной системой фокусировки

Система позволяет получить доступ к оптическому наблюдению за сканирующим зондом сверху, сбоку и снизу под разными углами непосредственно во время измерений. Данная особенность, в сочетании с модульной конструкцией микроскопа, также позволяет добавлять различные оптические и/или нанооптические компоненты.

Разработан с заделом для использования в нескольких смежных областях

АСМ Park NX12 разрабатывался с нуля, чтобы предоставить возможности исследования для пользователей из смежных областей. В других же АСМ отсутствует требуемая универсальность для удовлетворения различных потребностей в широкой области электрической химии, что зачастую затрудняет обоснование правильного выбора и расчета стоимости прибора. Поэтому Park NX12 сочетает в себе функциональные возможности измерения методами стандартной АСМ и жидкостной STM, а также возможности добавления оптических компонентов, что делает его самым гибким и универсальным АСМ из всех доступных.

Универсальная адаптивная платформа

  • Park NX12 – атомно-силовой микроскоп, разработанный с учетом потребностей исследователей в области электрохимии и аналитических приложений, а также для тех, кто работает в смежных областях
  • Представляет собой удобное решение для исследования химических и электрохимических свойств, а также анализа поверхности методом СЗМ как в воздухе, так и в жидких средах для широкого круга прозрачных и затемненных образцов
  • АСМ Park NX12 прост в использовании методов сканирования на основе микропипеток и предоставляет широкие возможности оптического контроля за сканирующим зондом
  • Доступная цена и непревзойденная точность данного микроскопа делают его идеальным выбором как для многопрофильных лабораторий, так и для начинающих исследователей

Комплексное применение

АСМ Park NX12 позволяет работать в широком спектре режимов измерения, включая анализ топографии методом PinPoint, инвертированная оптическая микроскопия для исследования прозрачных образцов, SICM микроскопия для получения изображений тонких деликатных структур, а также обладает улучшенной системой оптического отображения.

Полноценное решение для силовой спектроскопии

Park NX12 может быть укомплектован для изучения наномеханических характеристик как в воздухе, так и в жидкости, что еще больше расширяет возможности его применения.

Модульная конструкция

Вы с легкостью можете модифицировать АСМ Park NX12 для проведения необходимых измерений (добавление новых аксессуаров или программный апгрейд) даже после того, как система была установлена в лаборатории.

Park SmartScan – простота и высокая скорость сканирования

АСМ Park NX12 поставляется совместно со стандартным программным обеспечением SmartScan, которое является одним из самых простых и понятных пользователю, не смотря на то, что предназначено для управления такой сложной системой, как атомно-силовой микроскоп. Интуитивный интерфейс и высокая производительность позволяют с легкостью адаптироваться в управлении даже начинающим пользователям, в результате чего они могут самостоятельно быстро получить качественное изображение. Это позволяет разгрузить более опытных исследователей и сосредоточить их силы на решении и разработке более важных задач.

Простота использования

Обычно в лабораториях общего пользования работают специалисты различных направлений и имеющие знания в определенной области. Использование на NX12 программы SmartScan позволяет любому оператору (даже не имеющему никаких знаний в области атомно-силовой микроскопии) с легкостью получить изображение в автоматизированном режиме всего в три простых клика.

Опции и аксессуары

Вашему выбору доступен широкий ассортимент опций и дополнительных аксессуаров, включая универсальные электрохимические ячейки, температурные контроллеры, герметичные боксы с контролем влажности.

  • Электрохимические ячейки
    • Электрохимическая ячейка
    • Электрохимический набор для универсальной ячейки для жидких образцов
  • Внешнее оборудование для электрохимии
    • Потенциостат
    • Bi-потенциостат
  • Опции для контроля окружающей среды
    • Герметичный перчаточный бокс
    • Ячейка для анализа живых клеток
  • Генератор магнитного поля
    • Прикладывает внешнее магнитное поле, параллельное поверхности исследуемого образца
    • Возможность перестройки по полю до ≈ 300 Гс
  • Z сканеры для головок
    • 15 мкм сканер для АСМ головки
    • 30 мкм сканер для АСМ головки
    • 15 мкм сканер для SICM модуля
    • 30 мкм сканер для SICM модуля
  • Опции для измерения в жидких средах
    • Держатель зонда для измерения в жидкости
    • Открытая ячейка для жидкости
    • Универсальная ячейка для жидкости
  • Защитное акустическое ограждение
    • Модель AE 204
    • Модель AE 301
  • Держатель чипа типа клипса
    • Может использоваться для установки незакрепленных кантилеверов
    • Возможно типоисполнения для приложения напряжения смещения при измерениях методами проводящей АСМ и электрической силовой микроскопии
    • Диапазон прикладываемого напряжения смещения: -10…10 В
  • Стартовые наборы для усовершенствованных режимов
    • Простота использования
    • Включают в свой комплект специальные зонды и тестовые образцы

Технические характеристики

Сканер

  • Диапазон сканирования в плоскости XY: 100 × 100 мкм
  • Диапазон сканирования вдоль оси Z с АСМ головкой: 15 мкм (30 мкм опция)
  • Диапазон сканирования вдоль оси Z с SICM модулем: 15 мкм (30 мкм опция)

Электроника

  • АЦП: 18 каналов, 24-битные АЦП для сенсоров положения по осям X, Y и Z
  • ЦАП:17 каналов, 20-битные ЦАП для позиционирования по осям X, Y и Z
  • 3 канала для встроенного синхронного усилителя
  • Калибровка постоянной пружины кантилевера (метод температурного колебания)
  • Цифровой Q-контроль

Режимы измерения

  • Базовые режимы: бесконтактный режим True Non-Contact, полуконтактный режим (tapping), получение фазового изображения, контактный режим, латеральная силовая микроскопия (LFM), PinPoint, дистанционно-силовая спектроскопия (F/D), построение трехмерного силового изображения, MFM, улучшенная EFM (включает стандартную EFM, DC-EFM, PFM, SKPM), FMM, наноиндентирование

  • Дополнительные NX режимы: CP-AFM (включает стандартную CP-AFM, ULCA, VECA, SSRM), SCM, SThM, STM (возможно приложение более высоких напряжений смещения)

Наблюдение

  • Осевая ПЗС-камера высокого разрешения со встроенным LED осветителем
  • Поле зрения: 840 × 460 мкм (с объективом 10Х)
  • ПЗС-камера: 5 мегапикселей (1 мегапиксель опция)
  • Объектив 10Х: числовая апертура 0.23, сверхвысокое рабочее расстояние
  • Объектив 20Х(опция): числовая апертура 0.35, высокое разрешение, высокое рабочее расстояние

Программное обеспечение SmartScan

  • Предназначено для управления NX12 и для сбора данных
  • Автоматизированный режим (для быстроты работы)
  • Ручной режим (для продвинутых пользователей)

Программное обеспечение XEI

  • Предназначено для анализа полученных данных
  • Самостоятельная программа – может быть установлена на отдельном ПК
  • Возможность построение 3D изображений по полученным данным

Инвертированный оптический микроскоп

  • Объектив: возможность выбора с увеличением до 100Х
  • Флуоресцентная микроскопия (опция)
  • Конфокальная микроскопия (опция)

Герметичный перчаточный бокс (опция)

  • Возможность точного контроля влажности
  • Продувка необходимым инертным газом
  • Возможность изоляции высоко реактивных материалов

Программное обеспечение Park SmartScan