Атомно-силовой микроскоп Park NX12
- Измерение электрических, магнитных, температурных и механических свойств в нанометровом масштабе
- Метод сканирования на основе микропипеток
- Диапазон сканирования в плоскости XY: 100 × 100 мкм
- Доступно сканирование АСМ головкой или SICM модулем
- Различные режимы измерения: бесконтактный режим, полуконтактный режим, PinPoint режим и т.д.
Производитель Park Systems
Описание
Универсальный АСМ для электрохимии и общего пользования
- Система атомно-силовой микроскопии для измерения электрических, магнитных, температурных и механических свойств в нанометровом масштабе
- Система сканирования на основе микропипеток для высокоточных измерений методами сканирующей ион-проводящей микроскопии (SICM), сканирующей электрохимической микроскопии (SECM) и сканирующей электрохимической клеточной микроскопии (SECCM)
- Инвертированный оптический микроскоп для исследования прозрачных материалов и интеграции с флуоресцентной микроскопией
Сочетание доказанной производительности АСМ Park NX10 с инвертированным оптическим микроскопом
Микроскоп Park NX12 объединяет в себе универсальность и точность атомно-силового микроскопа NX10, являющегося флагманом серии NX, и предметный столик для оптического инвертированного микроскопа. Данная особенность позволяет изучать электрохимические свойства прозрачных, мутных, мягких и твердых образцов.
Идеальная платформа для фундаментальных исследований в области электрохимии
Изучение электрохимических свойств аккумуляторов, топливных элементов, сенсоров и процессов коррозии является быстро развивающимся направлением современного мира. Однако большинство стандартных АСМ не обладают необходимыми комплектующими для проведения такого анализа. АСМ Park NX12 предоставляет необходимые исследователям в области химии гибкость и функциональные возможности, являясь простым и законченным решением со всеми необходимыми инструментами и аксессуарами:
- Универсальные и простые в использовании электрохимические ячейки
- Опции контроля параметров окружающей среды для поддержания необходимой влажности или продувки инертным газом
- Инвертированный оптический микроскоп
- Совместимость с потенциостатом/регулятором напряжения
Исследователи могут применять NX12 для изучения с помощью следующих методик:
- Сканирующая электрохимическая микроскопия (SECM)
- Сканирующая электрохимическая клеточная микроскопия (SECCM)
- Электрохимическая атомно-силовая микроскопия (EC-AFM)
- Электрохимическая сканирующая туннельная микроскопия (EC-STM)
Простота оптического наблюдения с моторизированной системой фокусировки
Система позволяет получить доступ к оптическому наблюдению за сканирующим зондом сверху, сбоку и снизу под разными углами непосредственно во время измерений. Данная особенность, в сочетании с модульной конструкцией микроскопа, также позволяет добавлять различные оптические и/или нанооптические компоненты.
Разработан с заделом для использования в нескольких смежных областях
АСМ Park NX12 разрабатывался с нуля, чтобы предоставить возможности исследования для пользователей из смежных областей. В других же АСМ отсутствует требуемая универсальность для удовлетворения различных потребностей в широкой области электрической химии, что зачастую затрудняет обоснование правильного выбора и расчета стоимости прибора. Поэтому Park NX12 сочетает в себе функциональные возможности измерения методами стандартной АСМ и жидкостной STM, а также возможности добавления оптических компонентов, что делает его самым гибким и универсальным АСМ из всех доступных.
Универсальная адаптивная платформа
- Park NX12 – атомно-силовой микроскоп, разработанный с учетом потребностей исследователей в области электрохимии и аналитических приложений, а также для тех, кто работает в смежных областях
- Представляет собой удобное решение для исследования химических и электрохимических свойств, а также анализа поверхности методом СЗМ как в воздухе, так и в жидких средах для широкого круга прозрачных и затемненных образцов
- АСМ Park NX12 прост в использовании методов сканирования на основе микропипеток и предоставляет широкие возможности оптического контроля за сканирующим зондом
- Доступная цена и непревзойденная точность данного микроскопа делают его идеальным выбором как для многопрофильных лабораторий, так и для начинающих исследователей
Комплексное применение
АСМ Park NX12 позволяет работать в широком спектре режимов измерения, включая анализ топографии методом PinPoint, инвертированная оптическая микроскопия для исследования прозрачных образцов, SICM микроскопия для получения изображений тонких деликатных структур, а также обладает улучшенной системой оптического отображения.
Полноценное решение для силовой спектроскопии
Park NX12 может быть укомплектован для изучения наномеханических характеристик как в воздухе, так и в жидкости, что еще больше расширяет возможности его применения.
Модульная конструкция
Вы с легкостью можете модифицировать АСМ Park NX12 для проведения необходимых измерений (добавление новых аксессуаров или программный апгрейд) даже после того, как система была установлена в лаборатории.
Park SmartScan – простота и высокая скорость сканирования
АСМ Park NX12 поставляется совместно со стандартным программным обеспечением SmartScan, которое является одним из самых простых и понятных пользователю, не смотря на то, что предназначено для управления такой сложной системой, как атомно-силовой микроскоп. Интуитивный интерфейс и высокая производительность позволяют с легкостью адаптироваться в управлении даже начинающим пользователям, в результате чего они могут самостоятельно быстро получить качественное изображение. Это позволяет разгрузить более опытных исследователей и сосредоточить их силы на решении и разработке более важных задач.
Простота использования
Обычно в лабораториях общего пользования работают специалисты различных направлений и имеющие знания в определенной области. Использование на NX12 программы SmartScan позволяет любому оператору (даже не имеющему никаких знаний в области атомно-силовой микроскопии) с легкостью получить изображение в автоматизированном режиме всего в три простых клика.
Опции и аксессуары
Вашему выбору доступен широкий ассортимент опций и дополнительных аксессуаров, включая универсальные электрохимические ячейки, температурные контроллеры, герметичные боксы с контролем влажности.
- Электрохимические ячейки
- Электрохимическая ячейка
- Электрохимический набор для универсальной ячейки для жидких образцов
- Внешнее оборудование для электрохимии
- Потенциостат
- Bi-потенциостат
- Опции для контроля окружающей среды
- Герметичный перчаточный бокс
- Ячейка для анализа живых клеток
- Генератор магнитного поля
- Прикладывает внешнее магнитное поле, параллельное поверхности исследуемого образца
- Возможность перестройки по полю до ≈ 300 Гс
- Z сканеры для головок
- 15 мкм сканер для АСМ головки
- 30 мкм сканер для АСМ головки
- 15 мкм сканер для SICM модуля
- 30 мкм сканер для SICM модуля
- Опции для измерения в жидких средах
- Держатель зонда для измерения в жидкости
- Открытая ячейка для жидкости
- Универсальная ячейка для жидкости
- Защитное акустическое ограждение
- Модель AE 204
- Модель AE 301
- Держатель чипа типа клипса
- Может использоваться для установки незакрепленных кантилеверов
- Возможно типоисполнения для приложения напряжения смещения при измерениях методами проводящей АСМ и электрической силовой микроскопии
- Диапазон прикладываемого напряжения смещения: -10…10 В
- Стартовые наборы для усовершенствованных режимов
- Простота использования
- Включают в свой комплект специальные зонды и тестовые образцы
Технические характеристики
Сканер
- Диапазон сканирования в плоскости XY: 100 × 100 мкм
- Диапазон сканирования вдоль оси Z с АСМ головкой: 15 мкм (30 мкм опция)
- Диапазон сканирования вдоль оси Z с SICM модулем: 15 мкм (30 мкм опция)
Электроника
- АЦП: 18 каналов, 24-битные АЦП для сенсоров положения по осям X, Y и Z
- ЦАП:17 каналов, 20-битные ЦАП для позиционирования по осям X, Y и Z
- 3 канала для встроенного синхронного усилителя
- Калибровка постоянной пружины кантилевера (метод температурного колебания)
- Цифровой Q-контроль
Режимы измерения
-
Базовые режимы: бесконтактный режим True Non-Contact, полуконтактный режим (tapping), получение фазового изображения, контактный режим, латеральная силовая микроскопия (LFM), PinPoint, дистанционно-силовая спектроскопия (F/D), построение трехмерного силового изображения, MFM, улучшенная EFM (включает стандартную EFM, DC-EFM, PFM, SKPM), FMM, наноиндентирование
-
Дополнительные NX режимы: CP-AFM (включает стандартную CP-AFM, ULCA, VECA, SSRM), SCM, SThM, STM (возможно приложение более высоких напряжений смещения)
Наблюдение
- Осевая ПЗС-камера высокого разрешения со встроенным LED осветителем
- Поле зрения: 840 × 460 мкм (с объективом 10Х)
- ПЗС-камера: 5 мегапикселей (1 мегапиксель опция)
- Объектив 10Х: числовая апертура 0.23, сверхвысокое рабочее расстояние
- Объектив 20Х(опция): числовая апертура 0.35, высокое разрешение, высокое рабочее расстояние
Программное обеспечение SmartScan
- Предназначено для управления NX12 и для сбора данных
- Автоматизированный режим (для быстроты работы)
- Ручной режим (для продвинутых пользователей)
Программное обеспечение XEI
- Предназначено для анализа полученных данных
- Самостоятельная программа – может быть установлена на отдельном ПК
- Возможность построение 3D изображений по полученным данным
Инвертированный оптический микроскоп
- Объектив: возможность выбора с увеличением до 100Х
- Флуоресцентная микроскопия (опция)
- Конфокальная микроскопия (опция)
Герметичный перчаточный бокс (опция)
- Возможность точного контроля влажности
- Продувка необходимым инертным газом
- Возможность изоляции высоко реактивных материалов