Выравнивание образцов различной геометрии и размеров

Кристаллические образцы могут демонстрировать большое разнообразие размеров и геометрии в зависимости от материала и объемов производства. Промышленный синтез монокристаллов начинается с изготовления больших и тяжелых булей и заканчивается получением небольших образцов, таких как пластины или заготовки. Кроме того, экспериментальный контроль роста позволяет получать и крошечные цилиндры.

Но при этом качество выращенного кристалла не может быть измерено напрямую – путем измерения некоторых физических свойств и параметров можно провести сравнение с чистыми и однородными кристаллами. Одним из таких параметров является полуширина пика отражения рентгеновского луча.

Качество кристаллической решетки определяется ее регулярностью. Дефекты, дислокации и загрязнения – это недостатки, которые существуют в каждой решетке. Другими неоднородностями являются границы зерен и трещины. Все эти негативные особенности вызывают локальное напряжение в кристаллической решетке. Эти дефекты можно измерить, записав кривую качания отражения рентгеновского излучения. Геометрические свойства падающего луча и полученная полуширина пика кривой качания позволяют охарактеризовать качество анализируемого образца.

Приборы для выравнивания образцов различной геометрии и размеров: