Ориентированная укладка кремниевых подложек в штабеля
Сверхбыстрое измерение ориентации и кривой качания кристаллов
Рентгеновский дифрактометр Omega/Theta представляет собой полностью автоматизированный вертикальный трехосевой дифрактометр для определения ориентации оптической оси различных кристаллов с использованием «Omega-scan» и «Theta-scan» методов.
Схема производственного процесса с применением дифрактометра Omega/Theta
- Скорость измерения: < 5 сек на одно измерение; в 200 раз быстрее «Theta-scan» метода
- Увеличение мощностей: ориентирование до 12 заготовок в одном штабеле
- Надежность > 99%: прочный инструмент промышленного класса для сложных исследований материалов и контроля качества
- Универсальность: определение ориентации и полиморфного типа SiC (2H, 4H, 6H, 15R) и более 40 других материалов
- Высочайшее разрешение: точность определения угла наклона до 0.001°
- Модульный дизайн: возможность апгрейда и кастомизации в будущем с помощью различных опций конфигурации
«Omega-scan» метод – Определение полной ориентации кристалла всего за 5 с
Специальные применения
- Ориентационное картирование турбинных лопастей (монокристаллические суперсплавы на основе никеля)
- Определение параметров кристаллической решетки (твердые фазы Si и Ge)
Программное обеспечение XRDStudio
Расширенное и интуитивно-понятное программное обеспечение с широким набором функций, таких как:
- Различные режимы работы
- Режим оператора: для измерения фиксированных параметров и обеспечения безопасности рабочего процесса
- Режим администратора: для изменения/создания новых скриптов и для адаптации прибора к новым материалам - Управляемый пользовательский интерфейс для удобства работы
- Предустановленные и кастомизируемые рабочие скрипты
- Автоматическое отображение результатов измерений и корректировка значений для выравнивания ориентации кристалла
- Опции картирования
- Функции экспорта и импорта данных
Дополнительные элементы конфигурации
- Лазерный сканер для измерения формы образца
- Фотокамера и обработка изображения для распознавания горизонтальных поверхностей и насечек
- Дополнительная ось вращения образца для трехмерного картирования
- Вторичный канальный коллиматор (анализатор)
- Перемещение вдоль осей и для картирования ориентации
- Азимутальная подстройка и маркировка ориентации кристалла
- Автоматизированное измерение кривой качания с помощью «Theta-scan» метода
Приборы для ориентированной укладки кремниевых подложек в штабеля:
- Дифрактометрия одного кристалла
- Угловое разрешение 0.1 арксекунда
- Размер образца до 450 мм
- Полностью автоматизированное измерение