Поточная метрология mc-Si брусков
Измерение времени жизни носителей заряда широко используется для контроля качества материалов, особенно в фотоэлектрической промышленности. Делая еще один технологический шаг вперед и проводя измерения путем линейного сканирования, открывается возможность проведения сортировки низкокачественных заготовок брусков поликристаллического кремния перед их распиловкой. Это позволяет избавиться от бракованных устройств на первых этапах производства.
С помощью измерителя MDP inline ingot предоставляется возможность измерения всех четырех граней бруска менее чем за минуту с пространственным разрешением 1 мм. В ходе измерений одновременно анализируются изменения типа проводимости с пространственным разрешением, а также удельное сопротивление образца. Далее, по измеренным параметрам времени жизни, удельного сопротивления или типа проводимости, пользователем определяются критерии резания, которые могут быть перенесены в базу данных оборудования – это позволяет автоматизировать мониторинг материалов, использующихся в фотоэлектрической промышленности. Дополнительно может быть измерена концентрация железа по любой из граней за 2.5 мин.
Автоматизированное определение критерия резания по времени жизни носителей заряда
Регистрация изменения типа проводимости: пространственное разрешение 1 мм
Измерители электрических свойств полупроводников
- Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см
- Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
- Размер образцов: от 50 × 50 мм до 210 × 210 мм
- Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
- Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
- Размер образцов: от 5 × 5 мм до Ø300 мм (до Ø450 мм по запросу)
- Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
- Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
- Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм
- Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
- Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
- Размер образцов: от 50 × 50 мм до 156 × 156 мм
- Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
- Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда
- Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм или от Ø100 мм до Ø450 мм
- Удельное сопротивление: 0.2 – 1000 Ом·см, p/n-тип проводимости
- Измеряемый параметр: время жизни носителей заряда, фотопроводимость
- Размер образцов: от 125 × 125 мм до 210 × 210 мм