Карта сайта
- EN
- Главная страница
- О нас
- Каталог
- Спектральные приборы
- Рамановские спектрометры (комбинационного рассеяния) Nanoscope
- CCD Спектрометры BWTek
- Спектральные системы DXG
- Спектрометры McPherson
- Рамановские спектрометры (комбинационного рассеяния) B&WTek
- Рамановские системы ProTrusTech
- Эллипсометры
- Спектрометры LightMachinery с пм разрешением
- Спектральное измерение освещенности
- Частотные гребенки Menlo Systems
- LIBS спектрометры
- Фотодетекторы
- ТГц-Рамановские спектроскопические системы
- Фотометры и спектрофотометры
- Флуориметрия
- Цифровые камеры
- Сверхбыстрые спектрометры и автокорреляторы
- LED источники освещения
- Монохроматоры / Спектрографы / Спектрометры СОЛ Инструментс
- Масс-спектрометры
- Терагерцовые камеры TZcam
- Системы спектрального детектирования Surface Concept
- Спектральные комплексы
- Лазеры
- Фемтосекундные Yb:KGW лазеры Light Conversion
- Твердотельные лазеры Ekspla
- DPSS лазеры CryLaS
- Твердотельные лазеры с диодной накачкой с модуляцией добротности Quantum Light Instruments
- Профилометры лазерного излучения
- Лазеры BWTek
- Наносекундные лазеры для микрообработки EdgeWave
- Волоконные фемтосекундные лазеры среднего ИК Femtum
- Устройства для лазерной очистки
- Лазеры Bellin Laser
- Установки для лазерной микрообработки Elas
- Установки лазерной сварки
- Лазеры SOLAR LS
- Учебные лазерно-оптические комплексы для лабораторных работ
- Фемтосекундные волоконные лазеры Menlo Systems GmbH
- OPCPA системы высокой пиковой мощности
- Лазеры СОЛ Инструментс
- Лазеры Real Light
- Анализ микроструктуры материалов
- Порометры капиллярного потока
- Ртутные порозиметры
- Анализаторы удельной поверхности и пористости
- Пикнометры
- Анализаторы газопроницаемости
- Системы комплексного исследования мембран
- Приборы для иследования катализаторов
- Приборы для измерения размеров частиц
- Приборы для испытания герметичности
- Приборы для общего анализа миграции упаковки
- Комплектующие
- Тестер эффективности бактериальной фильтрации масок
- Микроскопы и интерферометры
- Атомно-силовые микроскопы и измерительные системы NanoMagnetics Instruments
- Атомно-силовые микроскопы Park Systems
- Конфокальные микроскопы
- Сканирующие туннельные микроскопы
- Сканирующие (растровые) электронные микроскопы
- Температурная микроскопия
- Конфокальные рамановские и плазмонные системы картографирования
- Двухфотонные лазерные сканирующие микроскопы
- Фотоиндуцированная силовая микроскопия (PiFM)
- Оборудование для пробоподготовки
- Реакторные системы
- Специализированное исследовательское оборудование
- ЭПР спектрометры
- УФ отвердители
- Измерение краевого угла смачивания (контактного угла жидкости)
- Микроустановки зондового контроля
- ЯМР спектрометры
- Рентгеновские дифрактометры
- Измерители электрических свойств полупроводников
- Системы люминесцентного датирования и портативные дозиметры
- Приборы для определения степени отверждения
- Трибометры
- Приборы для визуализации электрических токов
- Оборудование для биовизуализации CELLGENTEK
- Оборудование для биовизуализации DAVINCH-K
- Установки нанесения покрытий
- Нанесение покрытия методом центрифугирования
- Установки для получения пленок методом Ленгмюра-Блоджетт
- Получение покрытий методом погружения (окунания)
- Получение полимерных нановолокон методом электроформования (электроспиннинг)
- Установки для нанесения париленовых покрытий
- Ионно-лучевое напыление
- Ионно-лучевая очистка
- Ионно-лучевое ассистирование
- Установки магнетронного распыления
- Системы для нанесения пленочных покрытий
- Общелабораторное оборудование
- Корундовые изделия
- Химические насосы
- Приборы вакуумного фильтрования (ПВФ)
- Счетчики частиц
- Вакуумные аспирационные системы
- Лабораторные компрессоры
- Ультразвуковые ванны
- Лабораторные весы
- Лабораторные дозаторы и диспенсеры
- Разделение и подача образцов
- Мельницы сверхтонкого помола (наномельницы)
- Высокотемпературные лабораторные печи
- Термостаты лабораторные
- Лабораторные бани
- Вакуумные ловушки
- Калибровочные ванны
- Регуляторы массового расхода для газов
- Регуляторы массового расхода для жидкостей
- Колориметры для анализа воды
- Климатические камеры
- Роторные испарители
- Лабораторные системы водоподготовки
- Ванны с холодной ловушкой
- Электрические аспираторы
- Ледогенераторы
- Магнитные мешалки
- Вихревые смесители
- Лабораторные шейкеры
- Сушильные шкафы
- Автоклавы для стерилизации
- Системы для очистки воздуха
- Шнековые экструдеры
- Счетчики колоний
- Электрические стерилизаторы
- Лабораторные горелки
- Нагревательные плиты с графитовой платформой
- Системы тангенциально-поточной фильтрации
- Лабораторные центрифуги
- Лабораторные ротационные смесители
- Лабораторные инкубаторы
- Системы для контроля окружающей среды
- Лабораторные вытяжные шкафы
- Системы виброзащиты и оптические столы
- Спектральные приборы
- Проекты
- События
- Сервис
- Блог
- Контакты
- Области применения оборудования
- Прецизионная лазерная микрообработка
- Лазерное сверление твердых оксидных топливных элементов
- Лазерное структурирование ТСО-покрытий на стеклах
- Лазерная резка кремниевых пластин
- Лазерное скрайбирование
- Измерение удельной поверхности. Метод БЭТ
- Определение удельного объема пор и распределение пор по размерам
- Принцип работы пермеаметров (анализаторов газопроницаемости)
- Режимы работы сканирующих зондовых микроскопов Park
- Неконтактный режим (True Non-Contact)
- Контактный АСМ и динамический силовой микроскоп (DFM)
- Фазовое изображение / Фазодетекторная микроскопия (PDM)
- Микроскопия латеральных сил (LFM)
- Химическая силовая микроскопия (CFM) с функциональным наконечником
- Электрохимическая микроскопия (EC-AFM, EC-STM)
- Динамическая контактная электростатическая силовая микроскопия (DC-EFM)
- Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
- Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)
- Спектроскопия пьезоэлектрического отклика
- Сканирующая зондовая микроскопия методом Кельвина (SKPM)
- Режим атомно-силовой микроскоп проводимости
- I-V спектроскопия
- Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
- Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)
- Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
- Сканирующая туннельная спектроскопия (STS)
- Спектроскопия с временным разрешением
- Объемное АСМ - изображение
- F-D спектроскопия
- Калибровка константы жесткости термическим методом
- Магнитно-силовая микроскопия (МСМ). Сканирование поверхности
- Модуляционная силовая микроскопия (FMM)
- Наноидентификация
- Нанолитография
- Сканирующая микроскопия теплопроводности (SThM)
- Реакция каталитического дегидрирования углеводородов
- Каталитическое дегидрирование спиртов
- Каталитическое дегидрирование алканов
- Дегидрирование алкилароматических соединений
- Каталитический риформинг
- Применение лазерного сканирующего микроскопа NS-3500 для исследования прозрачных слоев
- Технология нанесения покрытия методом центрифугирования
- Технология нанесения пленок Ленгмюра-Блоджетт
- Выбор лазера для применений в рамановской спектроскопии
- Процесс нанесения покрытия методом погружения (окунания)
- Пикнометрический метод определения плотности
- Автоклавное выщелачивание
- Мезопористые материалы
- Микропористые и ультрамикропористые материалы
- Непористые материалы
- Исследование свойств катализаторов методом химической адсорбции
- Краевой угол смачивания. Технология измерения контактного угла
- Публикации по порометрам Porolux
- Маркировка
- Обработка тонких пленок солнечных элементов
- Селективная абляция полимеров
- Скрайбирование
- Резка
- Обработка металлов, синтетических алмазов и керамических инструментов
- Структурирование и формирование рельефа
- Сверление
- Публикации по ртутным порозиметрам Pascal
- Публикации по пикнометру Pycnomatic
- Конфокальная флуоресцентная микроскопия
- Командный центр: взаимосвязанная лаборатория для анализа
- Методы измерения трехмерных профилометров
- Аланиновая дозиметрия (alanine dosimetry) – метод оценки доз облучения радиацией
- Технология рамановской спектроскопии пропускания для контроля однородности состава
- Методы определения точки пузырька в порометре POROLUX™ 1000. Определение «правдивой» точки пузырька
- Холодное изостатическое прессование
- Изостатическое ламинирование прессованием
- Горячее изостатическое прессование (формование прессованием)
- Обработка пищевых продуктов высоким давлением. Пищевое изостатическое прессование
- Полимеризация. Виды полимеризации
- Нано диспергатор - гомогенизатор высокого давления
- Анализ качества пива с помощью ЭПР спектрометра MS 5000
- MiniScope MS 5000 как система измерения спиновой плотности
- Спиновое улавливание в биологии и медицине
- ЯМР анализ масел, зерен, семян
- Применение метода ЯМР для анализа качества оливок, оливкового масла и жмыха
- Анализ содержания влаги и жиров в авокадо, масле авокадо и его жмыхе
- Анализ содержания жиров и влаги в молочной продукции
- Измерение содержания жиров и влаги в шоколаде
- Анализ биодизельного топлива с помощью оборудования ядерного магнитного резонанса (ЯМР)
- Анализ синтетических волокон методом ЯМР-спектроскопии
- Выравнивание образцов различной геометрии и размеров
- Анализ нелинейных оптических материалов
- Маркировка и измерение образца в и вне контролируемой плоскости/оси
- Анализ кривой качания: оценка поверхности кристалла
- Ориентационное картирование кристаллической поверхности
- Трехмерное картирование кристаллических турбинных лопастей
- Ориентированная укладка кремниевых подложек в штабеля
- Ориентация кварцевых брусков
- Анализ кварцевых пластин
- Сортировка кварцевых заготовок
- Измерение сопротивления подложек
- Измерение напряжения смещения (BiasMDP)
- Измерение тока, наведенного лазерным излучением (LBIC)
- Картирование времени жизни носителей 450 мм подложек
- Определение концентрации железа
- Обнаружение p/n-типов проводимости
- Определение концентрации хрома (CrB) в кремнии
- Определение бор-кислородных комплексов
- Определение концентрации ловушек
- Инжекционно-зависимые измерения
- Поточная метрология mc-Si брусков
- Определение однородности пассивации и скорости поверхностной рекомбинации
- Измерение фотопроводимости легированных веществ/структур
- Определение времени жизни носителей эпитаксиальных кремниевых тонкопленочных слоев
- Анализ GaAs
- Анализ InP
- Сканирование нейронных сетей
- Сканирование дендритов
- Изучение поведенческих характеристик
- Оптогенетические измерения
- Сканирование нейронных сетей
- Сканирование дендритов
- Трехфотонная визуализация
- Фотостимуляция/оптогенетика
- Разарретирование
- Пэтч-клемпинг и различные электрофизиологические исследования
- ЯМР спектрометр SLK-2000-PM для анализа нефтесодержащих пород (боковой керн)
- Режим BiBurst
- Фотоэлектрическая отрасль
- Стекольная промышленность
- Области применения PiFM микроскопии: полимеры
- Лазерная очистка
- Области применения PiFM микроскопии: одномерные и двумерные материалы
- Области применения PiFM микроскопии: нанофотоника
- Области применения PiFM микроскопии: наноплазмоника
- Области применения PiFM микроскопии: биологический анализ
- Области применения PiFM микроскопии: полупроводниковая промышленность
- Исследование поперечного сечения транзисторов EBIC-методом с помощью адаптера для большого образца
- Нанозондирование NMOS- и PMOS-транзисторов на полупроводниковых устройствах 22, 14 и 10 нм
- Локализация короткого замыкания металлических слоев при модификации схемы с помощью методов EBAC и FIB, выполненная при наклоне столика 54°
- Нанесение и измерение in-situ подтягивающего резистора 1 кОм при угловом наклоне FIB
- Наноманипулирование в SEM: теория и практика
- Манипулирование и сортировка микрочастиц с помощью микрозахвата
- Взаимодействие роботов для манипуляций частиц под микроскопом
- Определение характеристик полевого МОП-транзистора* (MOSFET) с помощью нанозондов in-situ
- Методы EBIC / EBAC для анализа дефектов полупроводников
- Пьезоэлектрический отклик определения характеристик нанопроволок GaN
- Подготовка образца для просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)
- Исследование электронных свойств нанопроволок
- Полуавтоматическое тестирование подложки
- Определение электромеханических характеристик органических кантилеверов МЭМС
- Микроманипулирование и позиционирование одиночных нанопроволок ZnO
- Определение фотогальваническихх характеристик фотоэлектрических солнечных элементов
- Определение характеристик I-V тонкопленочных транзисторов на основе графена
- Определение характеристик прочности на разрушение резонатора SiNW
- Тестирование светодиодов
- Тестирование МЭМС / НЭМС
- Позиционирование оптического волокна
- Определение динамических характеристик резонатора МЭМС
- Области применения нановолокон, получаемых с помощью процесса электроспиннинга
- Вакуумная печь
- Вакуумная сушка
- Вакуумная фильтрация
- Вакуумное смешивание
- Отбор проб воздуха
- Сушка геля
- Очистка растворителя
- Твердофазная экстракция
- Анализ содержания ультра-следов примесей металла
- Микробиологические исследования
- Аспирация клеточных культур
- Общее содержание взвешенных частиц
- Проверка чистоты компонентов и деталей
- Тестирование сточных вод
- Экстракция нуклеиновой кислоты
- Технологии и методы
- Спектрофлуориметрия. Определения спектрофлуориметрии.
- Ртутная порометрия
- Фемтосекундные лазеры
- Эрбиевый лазер
- Люминесцентная спектроскопия
- Фемтосекундная спектроскопия
- Флуоресцентная спектроскопия
- Терагерцовая спектроскопия
- Иттербиевый лазер
- Анализ кислородопроницаемости (O2)
- Анализ проницаемости диоксида углерода (СО2)
- Анализаторы паропроницаемости (H2O)
- Измерение проницаемости по нормативу DIN 53380-3
- Измерение проницаемости по нормативу ASTM F2622
- Измерение проницаемости водяного пара по нормативу ASTM F1249
- Измерение проницаемости по нормативу ASTM F2476
- Анализаторы газопроницаемости для определения барьерных свойств тонких пленок
- Анализаторы газопроницаемости для определения барьерных свойств емкостей
- Рамановская спектроскопия (комбинационного рассеяния). Основы, методы, применение
- Принцип работы спектрометра
- Конфокальная микроскопия
- Электронный парамагнитный резонанс. Метод ЭПР. Применение.
- Аксессуары BWTEK
- Аксессуары для рамановских систем
- Хемилюминесценция
- Системы регистрации (детекторы)
- Аксессуары
- Спектрометры комбинационного рассеяния и измерительные спектральные системы для применения в геммологии
- Одноэлементные детекторы
- Химические реакторы. Типы, области применения, назначение
- Рамановские спектрометры с длиной волны возбуждения лазера 532 нм
- Рамановские спектрометры с длиной волны возбуждения лазера 785 нм
- Порометрия капиллярных потоков
- Колебательная спектроскопия SFG
- Спектрометр для контроля длины волны лазерного излучения
- Лазеры с длиной волны 1560 нм
- Лазеры с длиной волны 1064 нм
- Лазеры с длиной волны 1053 нм
- Лазеры с длиной волны 1040 нм
- Лазеры с длиной волны 1030 нм
- Лазеры с длиной волны 780 нм
- Лазеры с длиной волны 532 нм
- Лазеры с длиной волны 520 нм
- Лазеры с длиной волны 515 нм
- Лазеры с длиной волны 355 нм
- Лазеры с длиной волны 343 нм
- Лазеры с длиной волны 266 нм
- Лазеры с длиной волны 258 нм
- Лазеры с длиной волны 213 нм
- Лазеры с длиной волны 206 нм
- Непрерывные (CW) лазеры
- Лазеры с диодной накачкой
- Лазеры с ламповой накачкой
- Лазеры с гибридной накачкой (диодная + ламповая)
- Аксессуары для ручных рамановских спектрометров
- Области применения системы картографирования для конфокальной рамановской микроскопии, плазмонной микроскопии и FEX
- Список публикаций K1-Fluo
- Список публикаций NS-3500
- Лазеры с длиной волны 785 нм
- Метод сверхбыстрого измерения ориентации кристаллических образцов Omega-scan
- Гибкий метод определения ориентации кристаллических образцов Theta-scan
- MDP – микроволновая регистрация фотопроводимости
- MD-PICTS – микроволновая регистрация фотоиндуцированной токовой спектроскопии переходных процессов
- Электрические свойства полупроводников
- Технология InnoSlab
- PiFM технология
- Пространственное разрешение PiFM
- Сервис PiFM анализа образцов
- Принцип работы спектрометров пикометрового разрешения HyperFine от LightMachinery
- Руководство по подбору оборудования для измерения адсорбции газа
- Установки реактивно-ионного (ионно-химического) травления
- Установки плазменного (плазмохимического) травления
- Анализаторы общего содержания органического углерода
- Анализаторы фосфатов
- Роторное (ротационное) выпаривание
- Анализ газопроницаемости
- Cепараторы аккумуляторов
- Роторное выпаривание в сравнении с короткой дистилляцией
- Отличия между изостатическим прессом с сухим мешком и изостатическим прессом с мокрым мешком
- Процесс изостатического прессования
- Лабораторные сушильные шкафы до 350 °С
- Лабораторные сушильные шкафы до 200 °С
- Отзывы
- Новости
- Доставка и оплата
- Наши партнеры
- Участие в выставках
- Поддержка