Конфокальный лазерный модуль HEDA
- Спектральный диапазон: 50 – 4500 см-1
- Рабочий диапазон в режиме: PL 185 – 2400 нм
- Модовый состав: SLM
- Фокусное расстояние: 250 мм
- Квантовая эффективность: Макс. 55%
Производитель Weve
Описание
HEDA — это высококачественный рамановский модуль научного уровня, объединяющий в себе спектрограф с компенсацией аберраций, охлаждаемый ПЗС и заменяемые дифракционные решетки с алгоритмом автоматической калибровки. Высокая степень автоматизации внутренних элементов, оптимизированные методы проектирования, уникальная система позиционирования и простое и понятное в управлении программное обеспечение позволяют Вам максимально сконцентрироваться на решаемых задачах.
Высокая чувствительность
Наша система позволяет зарегистрировать пик четвертого порядка в получаемом сигнале при анализе спектра кремния, что является репрезентативным способом описания чувствительности системы рамановской спектроскопии.
Воспроизводимость данных
HEDA оснащен механизмом со сменными решетками, которые пользователь может легко заменить. Точный контроль угла поворота решетки необходим для достижения точности измерений и воспроизводимости. Внутренний энкодер обеспечивают превосходную воспроизводимость и точность измерений по сравнению с обычными рамановскими спектрометрами.
Точность анализа
Спектрометр с компенсацией аберраций и высокоскоростная технология автоматической калибровки обеспечивают улучшенную эффективность и превосходную точность измерений, преодолевая оптические и механические ограничения обычных рамановских спектрометров.
Отличительные особенности
- Возможность объединения с микроскопом (прямой, инвертированный)
- Широкий выбор рабочих аксессуаров и опций
- Осевая заменяемая турель с дифракционными решетками
- ПЗС-детектор с TE-охлаждением
- Контроль выходной мощности лазера
- Изменяемый конфокальный пинхол
- Переходник для подключения микроскопа
- Фильтровое колесо для отсекания Рэлеевской составляющей и увеличения SNR
- Возможность интеграции для различных типов микроскопии: флуоресцентная, темного поля и дифференциальная интерференционно-контрастная (DIC imaging)
Потенциальные области применения
Материаловедение
- Высокая чувствительность без возможных повреждений: некоторые тонкие образцы и двумерные структуры могут быть с легкостью повреждены излучением с высокой плотностью мощности. Использование систем компании WEVE позволяет проводить высококачественные измерения в рамановской и PL спектроскопии
- Анализ всех видов углеродных соединений и структур
Фотовольтаика
- Фотовольтаика: система HEDA позволяет проводить рамановские и PL измерения, а также, за счет наличия различных аксессуаров, позволяет расширить границы исследований
- Фототок: опции микрозондовых установок позволяют проводить различные типы измерений – фотопроводящие измерения и картирование фототоком
Биомедицина
- Измерение клеток: получение химической информации без использования красителей, а также флуоресцентные измерения с использованием функции спектрального картирования
Опции и аксессуары
Микрозондовая вакуумная установка с жидким азотом
- Диапазон температур: от 77K
- Диаметр смотрового окна: 40 мм
Гелиевый криостат низких вибраций
- Гелиевый проточный криостат
- Диапазон температур: от 4K
- Уровень вибраций: амплитуда < 10 нм
Микрозондовая установка для больших подложек
- Модификация с 2 или 4 микрозондовыми манипуляторами
- Размер образца: до 50 мм
Модуль поляризатора/анализатора
- Для проведения поляризационно зависимых измерений
- Рабочий диапазон длин волн: 350 – 2300 нм
Улучшенный детектор EMCCD
- Регистрация при низком уровне света/интенсивности
- Пиковая квантовая эффективность > 90%
- Количество пикселей: 512 × 512
- TE охлаждение до -80°C
- Темновой ток: 0.0003e- / пиксель / сек
Модуль для гиперспектральной визуализации SERA
Тензитометр TORI
Ячейка с алмазной наковальней
Характеристики
Общие | ||
Спектральный диапазон | 50 – 4500 см-1 | |
Спектральное разрешение | < 0.5 см-1 / пиксель (решетка 2400 штр/мм) 0.07 нм / пиксель (решетка 1200 штр/мм на 650 нм) |
|
Рабочий диапазон в режиме PL | 185 – 2400 нм | |
Пространственное разрешение | 1 мкм (латеральное), 2 мкм (аксиальное) (диаметр пятна менее 600 нм для лазера на длине волны 532 нм с объективом 100X) | |
Источник света | ||
Длина волны лазера | 325/488//514/532/785 нм (три лазера на выбор) | |
Выходная мощность лазера | 25 – 170 мВт (в зависимости от модели) | |
Стабильность выходной мощности | СКО 1% | |
Модовый состав | SLM | |
Спектральная ширина линии | 0.1 – 1 пм (в зависимости от модели) | |
Спектрограф | ||
Тип | с компенсацией аберраций | |
Фокусное расстояние | 250 мм | |
Дифракционная решетка | 1200 штр/мм по умолчанию (1800/2400 штр/мм) (возможность самостоятельной замены решетки) | |
Воспроизводимость измерений от сканирования к сканированию | Лучше 0.05 см-1 | |
Детектор | ||
Рабочий диапазон ПЗС матрицы | 200 – 1050 нм | |
Охлаждение | -70°C (с чиллером) / -100°C (вода) / -55°C (воздух) | |
Количество пикселей | 1024 × 256 | |
Размер детектора | 26.6 × 6.6 мм (пиксель 26 × 26 мкм) | |
Темновой ток | 0.0014e- / пиксель / сек | |
Квантовая эффективность | Макс. 55% | |
Микроскоп | ||
Тип | Микроскоп исследовательского класса для открытого пространства, прямой, Olympus BX5 серии | |
Освещение | Источник белого света для отражающего осветителя Келера | |
Турель | 5-позиционная турель с двумя объективами | |
Объективы | Объектив с увеличением 20X (NA = 0.45, WD = 3.1 мм) Объектив с увеличением 100X (NA = 0.9, WD = 1 мм) |
|
Видеокамера | 3 Мп КМОП камера для наблюдения | |
Конфокальный модуль | Непрерывно изменяемый конфокальный пинхол в диапазоне 10 – 3000 мкм с шагом 10 мкм |
|
Предметный столик | Перемещение 70 × 50 мм по XY / 60 мм по Z, ручное управление | |
Автоматизация | ||
Фильтровое колесо | Моторизованное колесо с фильтрами нейтральной плотности для регулировки выходной мощности лазера | |
Затвор | Автоматизированный механический затвор для предотвращения повреждения образца | |
Набор лазерных фильтров | Фильтры для отсекания Рэлеевской составляющей и увеличения SNR | |
Турель с решетками | Спектрограф с компенсацией аберраций с механизмом со сменными решетками | |
Лазер и изображение | Моторизованное переключение между режимами визуализации и измерения спектра | |
Лазерная юстировка | Автоматическая юстировка и оптимизация лазерного излучения |