Многофункциональный микрорамановский спектрометр RAMaker
- Возможность установки до трех лазеров внутри измерительной камеры
- Запатентованный дизайн измерительной камеры
- Простое переключение лазеров без калибровки
- Оптимизированная оптика
- Низкая левая граница волновых чисел
Производитель ProTrusTech
Описание
RAMaker – это профессиональная система для рамановской/фотолюминесцентной микроскопии, которая позволяет использовать несколько длин волн лазерного возбуждения для охвата широкого спектра научно-исследовательских задач. Одновременно в измерительной камере может быть установлено до трех лазерных источников со следующими длинами волн: 355, 375, 405, 473, 488, 532, 633, 785 и 830 нм. Кроме того, УФ источники с длинами волн 248, 266 и 325 нм могут быть размещены снаружи. Параллельная оптическая конструкция сохраняет качество системы без калибровки, а каждая длина волны лазера полностью фиксирована и оптимизирована. Оптимизированный фильтр Рэлея автоматически переключается программным обеспечением для коррекции длины волны при измерениях. Переключение различных длин волн контролируется программным обеспечением без какой-либо ручной настройки.
Отличительные особенности
- Возможность установки до трех лазеров внутри измерительной камеры
- Запатентованный дизайн измерительной камеры
- Простое переключение лазеров без калибровки
- Оптимизированная оптика
- Низкая левая граница волновых чисел
- Контроль выходной мощности лазера
- Высокая чувствительность
Области применения
- Органическая и неорганическая химия
- Анализ полимеров
- Полупроводниковая промышленность
- Мониторинг окружающей среды
- Фармацевтическая промышленность
- Анализ углеводородов
- Геология и геммология, архитектура
Автоматическая измерительная система новой конструкции
Новый запатентованный дизайн для автоматического переключения: программное обеспечение управляет переключением лазера, а стабильная оптическая система удобна для совместного измерения образцов с использованием различных лазеров
Новый конфокальный дизайн
Новая конфокальная конструкция, включающая два набора конфокальных апертур, позволяет точно фокусироваться для получения наилучшего сигнала. Щель управляется программным обеспечением и плавно регулируется в диапазоне от 10 мкм до 2500 мкм по ширине и 0.8–8 мм по высоте. Конфокальная апертура варьируется в диапазоне 10 – 1000 мм, что позволяет увеличить разрешение сигнала более чем на 30%.
Контроль выходной мощности лазера
Выходная мощность лазера может напрямую контролироваться программным обеспечением с шагом 1 мВт для RGB Lasersystems, одного из основных брендов лазеров, используемых в MRID. Кроме того, мощность лазера можно уменьшить с помощью фильтра нейтральной плотности (ослабление OD 2.0-0.04), который также с высокой точностью управляется программным обеспечением.
Высокая чувствительность
Детекторы с высокой чувствительностью и низким уровнем шума могут улучшить общий отклик системы. Может быть измерен пик кремния третьего порядка с отношением сигнал шум более 20:1
Поляризационный модуль RPRM
RPRM (Raman Polarization Rotating Mapping) предназначен для выбора входного угла лазерного излучения для предоставления возможности сбора различных рамановских спектров анизотропных образцов с кристаллической структурой и тонких пленок. Также программное обеспечение может автоматически найти лазер с лучшим сигналом или установить угол нулевого сигнала, что удобно для исследователей для наблюдения за расположением структурной решетки.
Оптимизированная оптика
Система использует 5 Мп ПЗС-матрицу и 5 Вт светодиодный источник света в качестве модуля наблюдения за образцом. При видеонаблюдении мощность лазера снижается до уровня ниже 0.01%, чтобы сохранить баланс между лазерным излучением и яркостью белого света. При этом оператор может четко наблюдать и положение лазера, и фокусировку на поверхности. В стандартную конфигурацию включены объективы на 10X, 50X и 100X. Оптимизированные для УФ объективы на 5X, 20X и 40X могут быть приобретены опционально. При переключении объективов ошибка положения лазерного пятна на образце составляет менее 1 мкм.
Моторизированный предметный столик (опционально)
Предназначен для перемещения образца при сканировании и может использоваться для рамановского картирования.
- Диапазон перемещения: 75 × 50 мм или 100 × 100 мм
- Минимальный шаг по XY 0.01 мкм; воспроизводимость установки положения по XY: ± 0.02 мкм
- Минимальный шаг по Z: 0.002 мкм
- Корректировка смещения рамановского сдвига
- С управляющим джойстиком; ПО для управления и отображения видео
- Содержит функцию автоматической коррекции регрессии
- Автофокусировка, хорошее качество изображения
АСМ-Раман
- Рамановская спектроскопия с зондовым усилением с гибридным СЗМ контроллером
- Индивидуальное размещение зонда и образца относительно линзы оптического микроскопа для пространственного контроля возбуждения и регистрации
Модуль для измерения времени жизни флуоресценции
Представляет собой рабочий набор компании Becker&Hickl
- Диапазон измеряемого времени жизни: 200 пс – 500 нс или 500 нс – 1 с
- Диапазон регистрации ФЭУ: 300 – 800 нм
- Диапазон регистрации БИК детектора: 650 – 1700 нм
- Пикосекундный импульсный лазер: 375, 405, 440, 473, 488, 640 нм
- FLIM опция (визуализация времени жизни флуоресценции)
Контроллер температуры (опционально)
Предназначен для нагрева и/или охлаждения исследуемых образцов.
- Нагрев до 1500°C
- Изменяемый диапазон температур в вакууме: -196…350/600°C
- 4-зондовая станция для измерений
- Охлаждение до 4K
Характеристики лазерного модуля
- Все используемые лазерные источники света не имеют боковых пиковых полос
- He-Cd лазер 325 нм, 25 мВт, TEM00, M2 < 1.2. Непрерывная программная регулировка мощности, погрешность составляет менее 1%
- Лазерный фильтр 325 нм: двухкаскадный edge-фильтр Рэлея, спектральный диапазон 100 – 11000 см-1, отражательная способность ≥ 95%, коэффициент пропускания ≥ 80%
- Лазер 532 нм, 100 мВт, TEM00, M2 < 1.2. Непрерывная программная регулировка мощности. Минимальный шаг регулировки мощности составляет 0.1 мВт, погрешность составляет менее 1%
- Лазерный фильтр 532 нм: двухкаскадный edge-фильтр Рэлея, спектральный диапазон 50 – 8000 см-1, отражательная способность ≥ 95%, коэффициент пропускания ≥ 80%
- Лазер 633 нм, 40 мВт, TEM00, M2 < 1.2. Непрерывная программная регулировка мощности. Минимальный шаг регулировки мощности составляет 0.1 мВт, погрешность составляет менее 1%
- Лазерный фильтр 633 нм: двухкаскадный edge-фильтр Рэлея, спектральный диапазон 50 – 6000 см-1, отражательная способность ≥ 95%, коэффициент пропускания ≥ 80%
- Лазер 785 нм, 250 мВт, TEM00, M2 < 1.2. Непрерывная программная регулировка мощности. Минимальный шаг регулировки мощности составляет 0.1 мВт, погрешность составляет менее 1%
Характеристики
Длина волны возбуждения | Встраиваемые: 355, 375, 405, 473, 488, 532, 633, 785, 830 нм (макс. 3 одновременно) Внешние: 248, 266, 325 нм |
Спектральный рабочий диапазон | 79 – 9000 см-1 (зависит от длины волны лазера) (от 10 см-1 по запросу) |
Спектральное разрешение | Стандартное до 0.9 см-1, опционально до 0.3 см-1 |
Система регистрации | |
Спектральный диапазон | 200 – 1100 нм, 900 – 1700 нм, 900 – 2500 нм (максимум 2 детектора) |
Спектральная щель | Ширина щели: 10 мкм – 2.5 мм / 3 мм / 15 мм (ручное или программное управление |
Детектор | Термоэлектрическое охлаждение от -50°C до -100°C; УФ/БИК просветляющее покрытие; 1024×255/1650×200/2000×256 пикселей |
Шумы | Темновой шум: 0.0014 e-/пиксель/сек; шум считывания: < 4 |
Дифракционные решетки | 150, 300, 600, 1200, 1800, 2400, 3600 штр/мм (программное управление); максимум 4 решетки |
Фокусное расстояние | 193, 328, 500, 750 мм |
Воспроизводимость | < 0.1 см-1 при анализе пика кремния на 520 см-1 с объективом 50X (50 повторений) |