Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр LEA-S500
- Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр
- Позволяет анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов
- Диапазон длин волн: 190 – 800 нм
- Фокусное расстояние: 500 мм
- Дисперсия: 1.0 нм/мм, 0.7 нм/мм, 0.5 нм/мм (в зависимости от дифракционной решетки)
Производитель SOL instruments
Описание
Лазерный атомно-эмиссионный спектрометр LEA-S500 с широкими аналитическими возможностями. В лазерном атомно-эмиссионном спектрометре объединены новейшие достижения спектроскопии, лазерной техники и аналитического программного обеспечения. Полностью автоматизированный прибор, позволяющий анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов в:
- металлы и cплавы
- керамика
- стекло
- пластмассы
- примеси в чистых материалах
- прессованные порошки
Применение лазера специальной конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет:
- обеспечить анализ токопроводящих и нетокопроводящих материалов;
- значительно ослабить межэлементные влияния, что даёт возможность построить общую калибровочную кривую для большого диапазона концентраций;
- исключить предварительную подготовку поверхности пробы;
- обеспечить возможность выполнения анализа состава и толщины покрытий, послойный анализ, анализ тонких пленок, анализ состава включений, структурных составляющих.
Использование спектрографа с высокой разрешающей способностью обеспечивает получение высококачественного плоского оптического поля, свободного от аберраций.
Применение многоэлементной системы регистрации спектра (ПЗС-камера с 2048 светочувствительными элементами) обеспечивает высокую скорость получения информации.
Тройная (механическая, электронная и программная) защита от воздействия лазерного излучения обеспечивает полную безопасность при эксплуатации LEA-S500.
Применение
- Черная и цветная металлургия
- Машиностроение
- Строительные материалы
- Добыча и переработка сырья
- Геологическая промышленность
- Полупроводниковая промышленность
- Материаловедение
- Научные исследования в институтах и учебных лабораториях
- Криминалистика
- Стекольная промышленность
Оптическая система
| Фокусное расстояние, мм: | 500 | 500 | 500 |
| Дифракционная решетка, штрихов/мм: | 1800 | 2400 | 3600 |
| Диапазон длин волн, нм: | 190-800 | 190-600 | 190-400 |
| Дисперсия, нм/мм: | 1.0 | 0.7 | 0.5 |
| Спектральное разрешение, нм: | 0.028 | 0.020 | 0.014 |
* Примечание: В приборе устанавливается любая из дифракционных решёток в зависимости от типа материалов, в анализе которых заинтересован заказчик.
Камера образцов
- Размеры проб (без адаптеров): 12x12x2 мм (мин.), 75х75х40 мм (макс.)
- Возможность перемещения образца вдоль осей Х-Y: +/-5 мм с шагом 0.001 мм (для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа)
- Размер анализируемой зоны: диа. 0.03 - 1.7 мм
- Рабочая среда: воздух
- Откачка воздуха: при необходимости
- Адаптеры: для проволоки, фольги и образцов малого размера
Источник возбуждения
- Специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности
- Средняя энергия в импульсе: 100 мДж
- Нестабильность энергии импульсов: не более +/-3% из 99% импульсов
Регистрация спектра
- Линейная ПЗС-камера, 14 bit, USB-интерфейс, 2048 светочувствительных элементов (возможны другие типы детекторов)
- Регистрация полного спектра (панорамная)
Минимальные требования к компьютеру
- ОС: Win 9x/2000/XP
- Процессор: P-III/800 МГц или аналогичный
- Объем оперативной памяти: 256 Мб
- Видеокарта: RAM 16 Мб, наличие Video In
- Разрешение монитора: не менее 1024x768
- 50 Мб свободного дискового пространства
Программное обеспечение для Win9x/2000/XP
- Автокалибровка длин волн
- Индикация отклонения от указанного типа материала
- Контроль неучтенных примесей
- Метрологическая оценка результатов анализа
- Графическое представление аналитического сигнала
- Базы данных: спектральных линий, стандартных образцов, типов материалов
- Распечатка и математическая обработка результатов анализа
Аналитические программы
- Аналитические программы (методология) для анализов химического состава:
- сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др.
- различных типов сталей и чугунов
- токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмасса, керамика, стекло, хрусталь и др.) - Качественный, полуколичественный и количественный анализ различных материалов
- Автоматическое определение типа материала или базового элемента
Время анализа
- От 10 сек до 3 мин в одной точке (в зависимости от количества определяемых элементов)
Энергетические параметры
- 230 В, 50/60 Гц
- 900 Вт во время измерений, 100 Вт в дежурном режиме
Габаритные размеры
- ДxШxВ: 550 x 750 x 1100 мм
- Масса: 120 кг
- Длина волны возбуждения лазера 532 нм или 785 нм
- Мощность лазера 42 мВт или 455 мВт
- Спектр. диапазон / разрешение:
65 – 4200 см-1 / 4,5 см-1 на 614 нм
65 – 3400 см-1 / 3,5 см-1 на 614 нм
65 – 3350 см-1 / 4,5 см-1 на 912 нм
65 – 2800 см-1 / 3,5 см-1 на 912 нм - ПЗС-линейка с охлаждением до -2 ˚С с высокой квантовой эффективностью
