Монохроматоры-спектрографы серии MonoRa320i
- С 3-мя дифракционными решетками
- Оптимизированная оптическая схема Черни-Тернера с компенсацией астигматизма
- Фокусное расстояние 320 мм
- Относительное отверстие f/4.2
- Моторизированная турель
- Точность установки длины волны ± 0.2 мм при воспроизводимости ± 0.04 нм
Производитель DXG
Описание
Характеристики
Материалы
Программное обеспечение
Аксессуары
Публикации
Описание
Системы серии MonoRa320i представляют собой монохроматоры и изображающие спектрографы с тремя дифракционными решетками и парой асферических зеркал с фокусным расстоянием 320 мм. Данная серия позволяет получить спектральное разрешение в 0.1 нм при использовании дифракционной решетки 1200 штр/мм, а также имеет возможность легкой интеграции в автоматизированные спектральные системы за счет стандартного ПО Monoworks. Данные монохроматоры являются отличным оптическим инструментом для рамановской, фотолюминесцентной, эмиссионной и лазерной флуоресцентной спектроскопии. Также доступна модификация Double MonoRa320i с удвоением дисперсии (кастомизация).
Отличительные особенности
- Фокусное расстояние 320 мм
- Относительное отверстие f/4.2
- Спектральное разрешение 0.1 нм
- Точность установки длины волны ± 0.2 мм при воспроизводимости ± 0.04 нм
- Моторизированная трехпозиционная турель
- Уровень рассеянного света: 1.0 × 10-5
- Интерфейс подключения USB/RS232
Области применения
- Оптическая спектроскопия
- Фотолюминесценция
- Флуоресценция
- Рамановская спектроскопия
- Фосфоресценция
- Колориметрия
- Спектрорадиометрия
- Фотометрия
- Анализ лазерного излучения
- Изучение рассеяния света
Доступные конфигурации
| Модель | Конфигурация |
| MonoRa321i | Один боковой вход и один боковой выход |
| MonoRa322i | Один боковой вход и одним прямой выход для ПЗС детектора |
| MonoRa323i | Один боковой вход и два выхода |
| MonoRa324i | Один боковой вход, один боковой выход и один прямой выход для ПЗС детектора |
Рис. 1. Упрощенная оптическая схема монохроматора серии MonoRa320i
Технические характеристики
| Фокусное расстояние | 320 мм |
| Относительное отверстие | f/4.2 |
| Оптическая схема | Черни-Тернера (с компьютерной оптимизацией аберраций) |
| Конфигурация оптического пути |
90° или 180° / 1 вход и 1 выход 90° или 180° / 1 вход и 2 выхода |
| Диапазон сканирования | Механический диапазон 0 – 1600 нм (для решетки 1200 штр/мм) |
| Спектральный рабочий диапазон | От 190 нм до ближней ИК области спектра (при выборе соответствующей дифракционной решетки и детектора) |
| Спектральное разрешение | 0.1 нм для решетки 1200 штр/мм при ширине щели 10 мкм |
| Обратная дисперсия | 2.4 нм/мм |
| Точность установки длины волны | ± 0.2 нм |
| Воспроизводимость установки длины волны | ± 0.04 нм |
| Шаг сканирования | 0.0025 нм с шаговым двигателем |
| Размер фокальной плоскости | 26 (Ш) × 10 (В) мм |
| Полоса регистрации детектора | 64 нм для решетки 1200 штр/мм |
| Стандартная спектральная щель | Ширина: 0 – 5 мм; регулируется с шагом 10 мкм Высота: 4 мм (по умолчанию), возможен выбор до 15 мм Моторизированная щель: опционально |
| Крепление дифракционной решетки | Трехпозиционная турель |
| Размер дифракционной решетки | 68 × 68 мм |
| Доступные детекторы | УФ, видимый диапазон: PDS-01 (ФЭУ), OPA 1024 (фотодиодная матрица), кремниевый детектор, ПЗС-камеры iDus от Andor; ИК диапазон: InGaAs, PBS, PBSE, MCT, ИК ПЗС-камеры iDus от Andor |
| Программное обеспечение | Monoscan, Monoworks, Maple |
| Совместимые измерительные камеры | Maple – для проведения фотолюминесцентных измерений |
| Ramboss – для проведения измерений комбинационного рассеяния |
Программное обеспечение Monoscan для монохроматоров-спектрографов серии MonoRa
Дифракционные решетки
| Модель | Плотность штрихов, штр/мм | Длина волны в угле блеска, нм | Рабочий диапазон длин волн, нм |
| 3-150-300 | 150 | 300 | 200 – 500 |
| 3-150-500 | 500 | 330 – 900 | |
| 3-150-1100 | 1100 | 800 – 1800 | |
| 3-150-1250 | 1250 | 900 – 2000 | |
| 3-150-2000 | 2000 | 1300 – 3000 | |
| 3-150-3000 | 3000 | 2000 – 4000 | |
| 3-150-4000 | 4000 | 3000 – 5000 | |
| 3-150-5000 | 5000 | 4000 – 6000 | |
| 3-300-300 | 300 | 300 | 200 – 500 |
| 3-300-500 | 500 | 330 – 900 | |
| 3-300-750 | 750 | 500 – 1400 | |
| 3-300-1000 | 1000 | 700 – 1800 | |
| 3-300-2000 | 2000 | 1300 – 3000 | |
| 3-300-3000 | 3000 | 2000 – 4000 | |
| 3-300-4000 | 4000 | 3000 – 5000 | |
| 3-600-300 | 600 | 300 | 200 – 500 |
| 3-600-500 | 500 | 330 – 900 | |
| 3-600-700 | 750 | 500 – 1400 | |
| 3-600-1000 | 1000 | 700 – 1800 | |
| 3-600-1250 | 1250 | 900 – 2000 | |
| 3-600-1600 | 1600 | 1000 – 2400 | |
| 3-1200-250 | 1200 | 250 | 190 – 450 |
| 3-1200-250H | 250 (голограф.) | 190 – 900 | |
| 3-1200-300 | 300 | 200 – 500 | |
| 3-1200-450H | 450 (голограф.) | 300 – 1000 | |
| 3-1200-500 | 500 | 330 – 900 | |
| 3-1200-750 | 750 | 500 – 1400 | |
| 3-1800-250 | 1800 | 250 | 190 – 450 |
| 3-1800-250H | 250 (голограф.) | 190 – 800 | |
| 3-1800-350H | 350 (голограф.) | 300 – 850 | |
| 3-1800-500 | 500 | 330 – 900 | |
| 3-1800-500H | 500 (голограф.) | 300 – 950 | |
| 3-2400-250H | 2400 | 250 (голограф.) | 200 – 900 |
| 3-2400-300 | 300 | 200 – 500 | |
| 3-3600-250 | 3600 | 250 | 190 – 450 |
| 3-3600-300H | 300 (голограф.) | 240 – 500 |
*Другие дифракционные решетки доступны по запросу.
Ламповые источники излучения
Ксеноновые дуговые лампы
Вольфрамовые галогенные лампы
Дейтериевые лампы
Ртутные лампы
Лазерные источники излучения
Системы регистрации
ПЗС камеры
ФЭУ
Фотодетекторы
Аналого-цифровой преобразователь
Оптомеханика
- 1. Time Resolved Photoluminescence Study on Silicon Nitride/Silicon-Rich-Oxide Superlattices Grown by Using Ion-Beam Sputtering Deposition
Dong-A University - 2. Combined micro-Raman/UV-visible/fluorescence spectrometer for high-throughput analysis of microsamples
Korea Advanced Institute of Science and Technology - 3. Graphene Quantum Dot Layers with Energy-Down-Shift Effect on Crystalline-Silicon Solar Cells
Solar Energy Research Center of Korea University - 4. Thermal stress induced band gap variation of ZnO thin films
The growth temperature and post annealing-dependent optical and structural effect of RF magnetron sputtered ZnO thin films
Pusan National University - 5. The influence of Pr3+ co-doping on the photoluminescence and cathodoluminescence properties of SiO2:Eu3+/Tb3+
University of South Africa - 6. Photocatalytic oxidation of Gaseous Isopropanol using visible-light active silver vanadates SBA-15/ composite
Kun shan University Taiwan