Система люминесцентного датирования lexsyg research

lexsyg research представляет собой улучшенную систему люминесцентного TL/OSL датирования. Широкий выбор возможных конфигураций (источников облучения, модулей температурного и оптического облучения, систем регистрации) и дополнительных аксессуаров, а также мощные пакеты программного обеспечения для управления и обработки полученных данных делают данный прибор незаменимым дозиметрическим инструментом для Вашей лаборатории.

• Модульный дизайн

Проведение температурной и оптической стимуляции в широком диапазоне: до трех модулей оптической стимуляции; до четырех систем регистрации; до двух источников облучения

• Отсутствие перекрестных помех

Независимая работа измерительной камеры и устройства смены образцов обеспечивает отсутствие перекрестных помех при стимуляции и облучении

• Непрерывная работа

Возможность загрузки/выгрузки образцов во время анализа/обработки другого образца в измерительной камере

• Гибкость

Программно управляемое переключение фильтров в зависимости от типа измерений

• Однородность стимуляции

Высокая однородность и стабильность оптической стимуляции гарантируют идентичность условий измерения

• Удаленный доступ

протокол управления позволяет осуществлять удаленный доступ для управления и поддержки из любой точки мира

• Простота апгрейда

Модульный дизайн позволяет расширять исследовательские возможности устройства в будущем путем простого добавления новых элементов

Области применения

• Люминесцентное датирование
• Исследование материалов

• Геология

OSL датирование кварца

IRSL датирование полевого шпата

Датирование единичных зерен смешанных пород

Импульсное датирования смешанных пород (для выделения сигналов)

• Археология

TL датирование кремня и других пород с аморфным SiO₂

TL/OSL датирование керамических и глиняных изделий

Датирование мрамора, гранита

Датирование зубной эмали

Датирование осадочных отложений

• Определение подлинности
• Экологическая дозиметрия
• Твердотельная дозиметрия

Пространственно-разрешенная люминесценция

Время-разрешенная люминесценция

Люминесцентная спектроскопия

Устройство автоматической замены систем регистрации

Устройство для замены системы регистрации является полностью автоматическим и управляется программно. Оно может держать и менять до четырех различных типов детекторов, таких как ФЭУ, улучшенные ПЗС, миниспектрометры и т.п. между положениями для TL/OSL и RF (бета-облучение) анализа.

Источники радиационного излучения

TL/OSL системы серии lexsyg могут быть оснащены двумя источниками радиационного излучения, предназначенными для облучения образцов, нагреваемых от комнатной температуры до 500°C. Механический затвор, управляемый сенсором и приводимый в движение сжатым воздухом, гарантирует простоту, безопасность и воспроизводимость измерений.

Источник бета-излучения

• Используемый радиоизотоп: Sr-90; активность: 1.85 ГБк
• Мощность дозы облучения: ≈ 0.11 Гр/сек
• Нестабильность дозы облучения по площади: ≤ ±10% для Ø8 мм; ≤ ±12.5% для Ø10 мм
• Максимальная энергия: 2.2 МэВ

Источник бета-излучения (кольцеобразный)

• Используемый радиоизотоп: Sr-90; активность: < 3 ГБк
• Мощность дозы облучения: ≈ 0.06 Гр/сек
• Нестабильность дозы облучения по площади: ≤ ±2.5% для Ø8 мм; ≤ ±3.5% для Ø10 мм
• Максимальная энергия: 2.2 МэВ
• Требуется для радиофлуоресцентных (RF) измерений

Источник альфа-излучения

• Используемый радиоизотоп: Am-241; активность: 20 –30 МБк
• Экранизация: золото, 2 – 4 мкм
• Активный диаметр: 21 мм (толщина 0.25 мм)
• Максимальная энергия: 5.5 МэВ
• Высокая гомогенность дозы облучения по площади

Источник рентгеновского излучения

• Полная экранизация рентгеновской трубки для гомогенного облучения
• Интегрированная система для мониторинга мощности дозы облучения
• Полное отсутствие радиационного фона в выключенном состоянии
• Материал мишени: вольфрам
• Ток: 0.1 – 1 мА
• Экранизация: латунь, 5 мм
• Поглотитель: алюминий, 200 мкм (сменный)

Керамический нагревательный элемент позволяет проводить надежные и последовательные измерения при высоких температурах до 710°C. Нагревательный элемент охлаждается непрерывным потоком азота или сжатого воздуха.

Термолюминесценция, предварительный нагрев, включая люминесцентные измерения при повышенной температуре (OSL, RL), а также радиационное облучение при повышенной температуре, возможны во время любого этапа цикла нагрева/охлаждения, который практически свободно может быть запрограммирован, включая нелинейные нагрев и охлаждение.

• Скорость нагрева: 0.1 – 20°/сек (макс. температура 710°)
• Гибкое пошаговое программирование циклов нагрева/охлаждения в рамках параметров системы (например, температура или скорость нагрева/охлаждения)
• Опциональные программные расширения (например, нелинейные функции)

Элемент охлаждения Пельтье-типа

Низкотемпературные условия измерений люминесценции обычно используются для характеризации радиационных дефектов. Данный элемент способен обеспечить стабильное поддержание температуры образца в диапазоне от -40°C до -50°C.

• Минимальная рабочая температура: -50°C
• Рекомендуемая рабочая температура: -40°C
• Время поддержания стабильной рабочей температуры: > 60 минут
• Модуль может быть объединен с TL, OSL, RF измерениями, солнечной симуляцией

Примечание: Для работы требуются вакуумный насос и продувка азотом

Источники для оптической стимуляции (OSL)

TL/OSL системы серии lexsyg могут быть оснащены заменяемыми OSL источниками с возможность одновременного использования до трех длин волн излучения. Оптическая стимуляция осуществляется за счет высокомощных LED или лазерных диодов. Установленные фотодиоды обеспечивают контроль мощности каждого используемого диода, гарантируя стабильность облучения независимо от срока службы.

Доступные длины волн для стимуляции

• УФ: 365 нм
• Фиолетовый: 405 нм
• Синий: 458 нм
• Зеленый: 525 нм
• Желтый: 590 нм
• ИК: 890 нм

Режимы работы источников OSL

• Непрерывный: CW-OSL
• Линейный модулированный: LM-OSL
• Импульсный: POSL

Доступные LED диоды

• L0403 – Синий LED диод: 458 ± 5 нм; макс. 100 мВт/см² на образце
• L0404 – ИК LED диод: 850 ± 20 нм; макс. 300 мВт/см² на образце
• L0405 – Зеленый LED диод: 525 ± 20 нм; макс. 80 мВт/см² на образце
• L0406 – Желтый LED диод: 590 ± 30 нм; макс. 50 мВт/см² на образце

Доступные лазерные диоды

• L0407 – Синий лазерный диод: 445 ± 3 нм; макс. 100 мВт/см² на образце
• L0408 – ИК LED диод: 850 ± 3 нм; макс. 300 мВт/см² на образце
• L0409 – Фиолетовый LED диод: 405 ± 3 нм; макс. 100 мВт/см² на образце

Фильтровое колесо включает в себя необходимые для рабочего диапазона фильтры, которые оптимизированы для максимального пропускания люминесцентного света, а также для подавления рассеянного света от OSL, TL, PL. Данный модуль рекомендуется для использования даже в минимальной конфигурации для выполнения оптимизированного люминесцентного анализа как при датировании, так и в других приложениях.

• Оптимизированный оптический дизайн для высокоэффективного сбора люминесцентного излучения с помощью ФЭУ
• Программируемое время замены необходимого фильтра во время измерений: от 300 мс до 3 с
• Потенциальные неисправности защищены программно, в том числе повреждение ФЭУ засветками во время измерений
• Доступны оптимизированные наборы фильтров для всех основных люминесцентных излучений кварца или полевого шпата, а также для других материалов
• Наборы фильтров (интерференционные, оптические из цветного стекла), оптимизированные для максимального пропускания узких полос длин волн и наилучшего отсечения паразитного излучения от TL/OSL стимуляции
• Возможность размещения до 6 фильтров в одно фильтровое колесо; 15 измерительных функций (дополнительная информация по запросу)

Системы регистрации на основе ФЭУ

Стандартный ФЭУ для УФ-видимого диапазона спектра (300 – 650 нм)

• Стандартный модуль регистрации для применений люминесцентного датирования и дозиметрии
• ФЭУ с Bi-щелочным катодом (Hamamatsu)
• Рабочий диапазон: 300 – 650 нм
• Пиковая чувствительность: 420 нм (3.1×10⁵ отсчетов/сек·пВт)
• Типовой темновой ток: <100 отсчетов
• Оптимизированная UV-VIS оптика

Улучшенный в фиолетовой области ФЭУ для УФ-видимого диапазона спектра (160 – 630 нм)

• Стандартный модуль регистрации для применений люминесцентного датирования и дозиметрии
• ФЭУ с -щелочным катодом (Electron Tubes 9253QB)
• Рабочий диапазон: 160 – 60 нм
• Пиковая чувствительность: QE> 30% на 200 нм и 350 нм
• Типовой темновой ток: <300 отсчетов
• Оптимизированная UV-VIS оптика

Улучшенный в красной области ФЭУ для УФ-видимого диапазона спектра (300 – 720 нм)

• Рекомендуемый модуль регистрации для желто-красной области спектра, если чувствительности стандартного ФЭУ недостаточно
• Полезная опция при регистрации люминесценции в оранжево-красной (кварц/кальцит) или красной (полевой шпат) области спектра
• ФЭУ с термоэлектрическим воздушным охлаждением с GaAsP фотокатодом (Hamamatsu)
• Рабочий диапазон: 300 – 720 нм
• Пиковая чувствительность: QE > 40% на 580 нм
• Охлаждение: макс. на 35° ниже комнатной температуры
• Время охлаждения: ≈ 5 мин
• Типовой темновой ток: < 100 отсчетов при 0°

Улучшенный в ИК области ФЭУ для видимого-ИК диапазона спектра (380 – 890 нм)

• Рекомендуемый модуль для RF дозиметрии при анализе люминесцентного излучения на 865 нм от калиевого полевого шпата
• Полезная опция при регистрации люминесценции в красной или БИК области спектра
• ФЭУ с термоэлектрическим воздушным охлаждением с фотокатодом (Hamamatsu)
• Рабочий диапазон: 380 – 890 нм
• Пиковая чувствительность: QE > 12% на 800 нм
• Охлаждение: макс. на 35° ниже комнатной температуры
• Время охлаждения: ≈ 5 мин
• Типовой темновой ток: < 60 отсчетов при -10° (< 125 отсчетов при 0°)

Данный модуль позволяет оценить минеральный состав образцов полевого шпата путем оценки относительной доли K-/Na-/Ca-полевого шпата, а также возможное загрязнение кварцем.

XRF модуль включает в свой состав следующие компоненты:

• Спектрометр Amptek X-123 + SDD рентгеновский спектрометр
• Рентгеновская трубка Amptek MINI-X, управляемая через USB

Расширение программного обеспечения для XRF

Специальная программа для анализа XRF данных для преобразования результата на трехкомпонентную диаграмму K-/Na-/Ca-полевого шпата и оценки загрязнения кварца. Эталонные образцы для выполнения и калибровки K-/Na-/Ca-полевого шпата включены в комплект.

Специальные предметные диски для образцов

Предметные диски для образцов, специально изготовленные из металлического молибдена, также включены в комплект (200 шт.).

Примечание: Для работы требуется вакуумный насос

Система регистрации на основе ПЗС

Улучшенная EMCCD (ПЗС с электронным умножением) камера серии iXon Ultra компании Andor, используемая для пространственно-разрешенного люминесцентного анализа единичных зерен смешанных пород.

• Регистрация изображения в диапазоне от УФ до ближней ИК-области спектра (200 – 1050 нм) для измерений с пространственным разрешением
• Анализ в режимах измерения TL/OSL или RF
• EMCCD с защитой от ультрафиолетовых лучей, 512 × 512 пикселей, изготовлена по технологии с обратным утонением (back-thinned), разрешение 16 бит
• Работает также в стандартном режиме (низкий уровень шума)
• Максимальная частота кадров: >33 кадров в секунду (полный кадр)
• Гигабитный интерфейс передачи данных типа Ethernet
• Высокая квантовая эффективность: ≈50% для эмиссионного OSL пика кварца в УФ области спектра; ≈85-90% для всех эмиссионных пиков кварца/полевого шпата в видимой области спектра; ≈ 60% для эмиссионного RF пика калиевого полевого шпата в ИК области спектра
• Образец диаметром ≈ 8 мм полностью отображается на матрице ПЗС-камеры (≈ 16 мкм на пиксель)
• Оснащена электромеханическим затвором
• Термоэлектрическое охлаждение до мин. -95°C (-70°C гарантировано на весь срок службы); термостатическая точность ±0,05°C
• Интеграция в программное обеспечение для lexsyg research

Видеокамера для наблюдения за образцом

Данная видеокамера предназначена для автоматического наблюдения за образцом и его фотографирования после проведения люминесцентных измерений. Например:

• Визуальный осмотр поверхности образца после сбора люминесцентных данных
• Анализ передаваемого изображения для определения количества зерен, покрываемой области, гранулометрического анализа, распределения цвета

Видеокамера установлена в механическом блоке, который является герметичным, не пропускает свет и включает в свой состав осветитель рассеянным светом для обеспечения надлежащего освещения белым светом фотографируемых образцов.

Высокочувствительные миниспектрометры

Предназначены для УФ и ИК спектроскопии

Высокочувствительный миниспектрометр на базе OE-CCD детектора

• Рекомендуется для ИК спектроскопии
• Волоконный люминесцентный эмиссионный спектрометр на базе ПЗС
• Термоэлектрическое охлаждение детектора до мин. -80°C
• 16-битный ПЗС-детектор с рабочим диапазоном 200 – 1050 нм
• Простота замены дифракционной решетки и перекалибровки по длинам волн: может быть выбрана одна дифракционная решетка
• Мощное спектрометрическое программное обеспечение
• Интеграция в программное обеспечение для lexsyg research

Высокочувствительный миниспектрометр на базе BU-CCD детектора

• Рекомендуется для УФ спектроскопии
• 1024 × 256 пикселей, размер пикселя 26 мкм
• Технология с задней подсветкой
• Вакуумная герметизация
• Высококачественный спектрограф типа

Фокусное расстояние 163 мм

Апертура: 3.6

Дифракционная решетка 300 штр./мм, длина волны в угле блеска 500 нм

• UV-VIS волоконный патч-корд: длина 3 м ± 5 см; ≈ 114 волокон
• Адаптер для ручного затвора
• Фланец для цилиндрической линзы для работы с InGaAs детектором
• Изменяемый в размере затвор: 10 мкм – 13 мм

Симулятор облучения солнечным светом

Данный симулятор представляет собой фотоотбеливающий модуль, предназначенный для монохроматического облучения образца или для смешанной симуляции различных условий облучения.

• Осветитель на базе матрицы мощных LED-диодов; воздушное охлаждение
• Полное управление через программное обеспечение: мощность, время облучения, смешение длин волн (если доступно)
• Возможность изменения предустановленных параметров измерения
• Оптимизированная оптика для однородного облучения образца
• Возможность отбеливания при повышенных температурах
• Доступные длины волн облучения: 365 нм, 462 нм, 532 нм, 590 нм, 625 нм, 850 нм
• Монохроматическое облучение или смешанная симуляция различных условий облучения
• Типовая максимальная мощность облучения на образце: 65 мВт для 365 нм, 140 мВт для 462 нм, 35 мВт для 523 нм, 50 мВт для 590 нм, 85 мВт для 625 нм, 170 мВт для 850 нм
• Регулировка мощности для каждого светового канала
• Отображение выходного спектра облучения

Исследование материалов

Радиолюминесцентное исследование вкраплений Ce в LiLaZr

Люминесцентное датирование

Измерение термолюминесценции (оранжево-красная область) нагретой глины и SAR кривая отклика дозы облучения, измеренные с помощью улучшенного в красной области ФЭУ

Дозиметрия

Кривая отклика дозы для оптической люминесценции (фиолетовая область) резисторов и индукторов

Мы постоянно улучшаем и дорабатываем наши пакеты программного обеспечения на основе отзывов наших клиентов, чтобы сделать его как можно более простым и в то же время многофункциональным для решения как можно большего спектра постоянно появляющихся задач.

Отличительные особенности

• Система управления учетными записями пользователей
• Простое программирование кастомизируемых и стандартных алгоритмов измерения
• Удобный интерфейс сбора данных, хранения и экспорта
• ASCII, .bin, .xsyg совместимые форматы
• Графическое отображение полученных данных