Лазерный конфокальный модуль промышленного типа NS-3800
- Неразрушающий оптический 3D-контроль с высоким разрешением
- Получение конфокального изображения в реальном времени
- Возможность адаптации для анализа больших образцов
- Автоматический поиск усиления для тонкой фокусировки
- Различное оптическое увеличение для наблюдаемой области
Производитель NANOSCOPE Systems, Inc
Особенности
NS-3800 представляет собой высокоскоростной конфокальный лазерный сканирующий модуль для проведения высокоточных и надежных трехмерных измерений топографии поверхности. Данный модуль был спроектирован как основная измерительная часть с возможностью установки на различные системы перемещения – это позволяет проводить измерения топографии поверхности в различных областях достаточно крупных образцов. Простота установки и надежная конструкция промышленного типа предоставляют надежное решение в тех случаях, где настольные портативные системы (см. NS-3500) не могут быть применены. Имеется возможность кастомизации системы под измерение пользовательских образцов.
Отличительные особенности
- Неразрушающий оптический 3D-контроль с высоким разрешением
- Получение конфокального изображения в реальном времени
- Простота анализа полученных данных
- Высокоточное и высокоскоростное измерение высоты
- Отсутствие пробоподготовки
Примеры измерений с помощью NS-3800
- Количественный анализ текстуры солнечного элемента: параметризация 1
- Количественный анализ текстуры солнечного элемента: параметризация 2
- Автоматическая 2D-регистрация: измерение параметров и создание отчета с помощью алгоритма количественной оценки
- Отчет об измеренных параметрах: измерение параметров и создание отчета с помощью алгоритма количественной оценки
- Трехмерная визуализация пирамидальной текстуры солнечного элемента
- Количественной анализ дорожки солнечного элемента: двумерный график профиля дорожки вдоль установленной линии сечения
- Количественной анализ дорожки солнечного элемента: отчет об измеренных параметрах
- Трехмерная визуализация выбранной дорожки солнечного элемента
Технические характеристики
Модель | NS-3800 | ||||||
Контроллер | NS-3800E | ||||||
Увеличение рабочего объектива | 10Х | 20Х | 50Х | 100Х | 150Х | ||
Поле зрения объектива | По горизонтали (мкм) | 1400 | 700 | 280 | 140 | 93 | |
По вертикали (мкм) | 1050 | 525 | 210 | 105 | 70 | ||
Рабочее расстояние (мм) | 16.5 | 3.1 | 0.54 | 0.3 | 0.2 | ||
Числовая апертура (NA) | 0.30 | 0.46 | 0.80 | 0.95 | 0.95 | ||
Оптическое увеличение | От 1Х до 6Х | ||||||
Общее увеличение | От 178Х до 26700Х | ||||||
Оптическая система для измерения | Конфокальный пинхол | ||||||
Измерение высоты | Диапазон измерения по высоте 1) | Точное сканирование: 100 мкм и/или Грубое сканирование: 10 мм (NS-3800-L) |
|||||
Точное сканирование: 400 мкм и/или Грубое сканирование: 10 мм (NS-3800-D) |
|||||||
Точное сканирование: 200 мкм или Грубое сканирование: 10 мм (NS-3800-T) |
|||||||
Пространственное разрешение | 0.001 мкм | ||||||
Воспроизводимость (3σ) 2) | 0.010 мкм | ||||||
Измерение ширины | Пространственное разрешение | 0.001 мкм | |||||
Воспроизводимость (3σ) 3) | 0.020 мкм | ||||||
Получение кадров данных | Разрешающая способность | 1024×768, 1024×384, 1024×192, 1024×96 пикс. | |||||
Конфокальное изображение | 12 бит | ||||||
Цветное изображение | 8 бит для каждого RGB элемента | ||||||
Измерение высоты | 16 бит | ||||||
Скорость сканирования | Сканирование поверхности | 20 – 160 Гц | |||||
Линейное сканирование | ≈8 кГц | ||||||
Автоматические функции | Автофокусировка | ||||||
Лазерный источник для конфокальных измерений | Длина волны | 405 нм | |||||
Выходная мощность | ≈ 2 мВт | ||||||
Класс лазера | Класс 3b | ||||||
Детектор лазерного излучения | ФЭУ | ||||||
Блок обработки данных | Специализированный ПК | ||||||
Источник питания | Напряжение питания | 100 – 240 В, перем. ток, 50/60 Гц | |||||
Энергопотребление | Макс. 500 ВА | ||||||
Вес | Микроскоп | ≈ 8 кг | |||||
Контроллер | ≈ 8 кг | ||||||
Система виброизоляции (опционально) | Активная виброизоляция |
1)Точное сканирование осуществляется за счет пьезоэлектрического привода (PZT). Режим двойного сканирования –SD (точное + грубое) доступен только для модели NS-3800-L.
2)Стандартный образец с высотой ступени 1 мкм измерен 100 раз с помощью объектива 100Х/NA 0.95
3)Стандартный образец с шагом структуры 5 мкм измерен 100 раз с помощью объектива 100Х/NA 0.95