Лазерная метрология
Область лазерной метрологии включает в себя такие учебно-экспериментальные комплексы, как интерферометр Майкельсона, лазерный гироскоп, лазерный дальномер, изучение скорости света и лазерный доплеровский анемометр, построенные на проверенных оптико-механических компонентах от компании eLas.- Оптический рельс со шкалой, 500 мм (2 шт.), 300 мм (2 шт.)
- He-Ne лазер в регулируемом по XY держателе
- Расширитель пучка лазера в держателе
- Делитель пучка в регулируемом держателе на траверсе
- Плоское зеркало в регулируемом держателе
- Расширитель пучка для интерференционных картин
- Экран для интерференционных картин
- Установка кольцевого лазера с He-Ne трубкой, зеркалами резонатора, одномодовым эталоном и блоком регистрации
- Усилитель-компаратор регистрируемых сигналов
- Источник питания He-Ne трубки
- Вращающийся столик
- Контроллер вращающегося столика с джойстиком
- Прицельный лазер для юстировки резонатора
- Частотомер (не показан)
- Набор оптических рельсов со шкалой (5 шт.)
- Импульсный лазер в регулируемом по θ/ϕ держателе
- Источник питания PLPS 1000 импульсного лазера
- Оптическая система формирования лазерного пучка в держателе
- Поляризационный светоделительный блок на траверсе
- Изображающая оптика для регистрации опорного импульса
- Фотодетектор опорного импульса в держателе
- Оптические рельсы со шкалой, 200 мм и 400 мм
- Импульсный лазер в регулируемом по θ/ϕ держателе
- Источник питания PLPS 1000 импульсного лазера
- Рассеивающая поворачивающаяся пластинка с коллиматором и фотодетектором опорного импульса в держателе
- Изображающая оптика для регистрации объектного импульса
- Фотодетектор объектного импульса в держателе
- Оптический рельс со шкалой, 800 мм
- Диодный лазер в регулируемом по θ/ϕ держателе
- Источник питания и контроллер LDAC 1000 лазера со встроенным USB-осциллографом
- Переменный аттенюатор в держателе
- Делитель пучка и рулевая оптика в держателе
- Фокусирующая линза в держателе на реечном приводе
- Моторизированный поворотный столик с рассеивающим акриловым диском
Демонстрируются методы измерения, которые включают либо обнаружение пространственных сдвигов в субмикронном диапазоне, либо измерение сверхкоротких интервалов времени в наносекундном диапазоне. Эти методы широко используются в коммерческих устройствах, но в данном случае комплексы позволяют объяснять основы на примере открытой архитектуры и с предоставлением глубокого понимания каждой из установок.