Непрерывные DPSS УФ лазеры серии FQCW266
- Прочный и герметичный корпус
- Контроль выходной мощности через обратную связь
- Низкий уровень шума
- Большая длина когерентности
Производитель CryLaS
Описание
Характеристики
Материалы
Публикации
Описание
Лазеры данной серии имеют выходную мощность в диапазоне от 10 мВт до 500 мВт и доступны на трех разных платформах. В зависимости от потребностей применения запатентованный лазерный дизайн позволяет выбрать восемь уровней мощности. Лазеры FQCW266 всегда поставляется с блоком питания, блоком управления и программным обеспечением.
Отличительные особенности
- Простота работы и включения: «plug&play»
- Прочный и герметичный корпус
- Превосходное качество излучения
- Контроль выходной мощности через обратную связь
- Низкий уровень шума
- Большая длина когерентности
Области применения
- Рамановская спектроскопия: УФ рамановская спектроскопия с длинами волн возбуждения ниже 270 нм является очень многообещающим методом получения спектров комбинационного рассеяния без флуоресценции, поскольку флуоресценцию обычно можно обнаружить только при длинах волн более 300 нм.
- Флуоресцентные измерения (LIF, FLIM): Лазерно-индуцированная флуоресценция (LIF) – это спектроскопический метод, при котором атом или молекула возбуждаются до более высокого энергетического уровня путем поглощения лазерных фотонов с их последующим спонтанным излучением. LIF используется для изучения структуры молекул, обнаружения селективных образцов и измерений при визуализации потока.
- Визуализация времени жизни флуоресценции (FLIM) – это метод визуализации для получения изображения, основанный на различиях в экспоненциальной скорости затухания флуоресценции от флуоресцентного образца. Он может быть использован в качестве метода визуализации в конфокальной микроскопии, двухфотонной микроскопии возбуждения и многофотонной томографии. Время жизни флюорофорного сигнала, а не его интенсивность, используется для создания изображения в FLIM. Преимущество этого состоит в минимизации эффекта рассеяния фотонов в толстых слоях образца.
- Фотолюминесценция: Фотолюминесценция (PL) – это излучение света от любой формы вещества после поглощения фотонов. Это одна из многих форм свечения. После возбуждения обычно происходят различные релаксационные процессы, при которых переизлучаются другие фотоны. Временные интервалы между поглощением и излучением могут варьироваться: от короткого фемтосекундного режима для излучения с плазмой свободных носителей в неорганических полупроводниках до миллисекунд для процессов фосфоресценции в молекулярных системах; а при особых обстоятельствах задержка излучения даже может составлять от минут до часов. Наблюдение PL при определенной энергии можно рассматривать как указание на то, что электрон населяет возбужденное состояние, связанное с этой энергией перехода, и служит источником PL во многих системах, таких как полупроводники.
- Литография: Фотолитография, также известная как УФ-литография (UVL), представляет собой процесс, используемый в микрообработке для нанесения рисунка на части тонкой пленки или объем подложки. Процесс использует фотоны для переноса геометрического рисунка из фотомаски в светочувствительный химический фоторезист на подложке. Например, сложные интегральные схемы или CMOS-пластины проходят несколько фотолитографических циклов. Другие методы, такие как лазерная интерференционная литография (LIL), наноимпринт-литография (NIL) и стереолитография (SLA), представляют собой методы формирования регулярных массивов тонких структур без использования сложных оптических фотомасок и трехмерного прототипирования для медицинских и биотехнологических приложений.
- Рефлектометрия: Рефлектометры широко используются в метрологии для анализа шероховатости полированных и шлифованных поверхностей в полупроводниковой и точной механической промышленности. Они обеспечивают быструю и бесконтактную альтернативу традиционным стилусным методам для оценки топографии. Рефлектометры совместимы с вакуумной средой, не чувствительны к вибрации и могут быть легко интегрированы в процессы с обработкой поверхности и другими метрологическими инструментами.
Характеристики
Модель | Длина волны | Макс. мощность | Стабильность мощности | Качество пучка | Подробная информация |
FQCW266-10-C | 266 нм | > 10 мВт | СКО < 2.0% | M2 < 1.3 | Подробнее |
FQCW266-10 | 266 нм | > 10 мВт | СКО < 2.0% | M2 < 1.3 | Подробнее |
FQCW266-25-C | 266 нм | > 25 мВт | СКО < 2.0% | M2 < 1.3 | Подробнее |
FQCW266-25 | 266 нм | > 25 мВт | СКО < 2.0% | M2 < 1.3 | Подробнее |
FQCW266-50 | 266 нм | > 50 мВт | СКО < 1.0% | M2 < 1.3 | Подробнее |
FQCW266-100 | 266 нм | > 100 мВт | СКО < 1.0% | M2 < 1.3 | Подробнее |
FQCW266-200 | 266 нм | > 200 мВт | СКО < 1.0% | M2 < 1.3 | Подробнее |
FQCW266-300 | 266 нм | > 300 мВт | СКО < 0.5% | M2 < 1.3 | Подробнее |
FQCW266-500 | 266 нм | > 500 мВт | СКО < 0.5% | M2 < 1.3 | Подробнее |
- Molecular recognition of carboxylates in the protein leucine [...]: residue-specific, sensitive and label-free probing by UV resonance Raman spectroscopy, 2018
- UV Raman Spectroscopy article of DTU, 2016
- Temperature distribution in Scanning Thermal Microscopy tip investigated with micro-Raman spectroscopy, 2016
- Determination of sp fraction in ta-C coating using XPS and Raman spectroscopy, 2016
- Investigation of L(+)-Ascorbic acid with Raman spectroscopy in visible and UV light, 2014
- Applicability of UV laser-induced solid-state fluorescence spectroscopy for characterization of solid dosage forms, 2014
- On-line tar characterization from pyrolysis of wood particles in a technical-scale fixed-bed reactor by applying Laser-Induced Fluorescence (LIF), 2013
- On-line coupled capillary isotachophoresis‐capillary zone electrophoresis [...] with laser induced fluorescence detection, 2013
- Immuno-magnetic beads-based extraction-capillary zone electrophoresis-deep UV laser-induced fluorescence analysis of erythropoietin, 2012
- Analysis of gas-phase polycyclic aromatic hydrocarbon mixtures by laser-induced fluorescence, 2010
- Investigation on interface-related defects by photoluminescence of cubic (Al)GaN/AlN multi-quantum wells structures, 2018
- Measurement of the Emission Lifetime of a GaN Interface Fluctuation Quantum Dot by Power Dependent Single Photon Dynamics, 2018
- Process control of MOCVD growth for LEDs by in-situ photoluminescence, 2016
- Photoluminescence properties of zinc white: an insight into its emission mechanisms through the study of historical artist materials, 2016
- Transport of dipolar excitons in (Al,Ga)N/GaN quantum wells, 2015
- Structure and photoluminescence of the TiO2 films grown by atomic layer deposition using tetrakis-dimethylamino titanium and ozone, 2015
- Luminescence of Eu ion in alumina prepared by plasma electrolytic oxidation, 2015
- Analysis of cadmium-based pigments with time-resolved photoluminescence, 2014
- Extended-Defect-Related Photoluminescence Line at 3.33 eV in Nanostructured ZnO Thin Films, 2013
- Photoluminescence from SiNxOy films deposited by reactive sputtering, 2013
- Intra-center and recombination luminescence of bismuth defects in fused and unfused amorphous silica fabricated by SPCVD, 2013
- The luminescence of ZnO ceramics, 2010
- Real-Time Compensation of Simultaneous [...] Substrate Motion in Scanning Beam Laser Interference Lithography System, 2018
- Optimized vascular network by stereolithography for tissue engineered skin, 2018
- Single‐mode distributed feedback laser operation with no dependence on the morphology of the gain medium, 2017
- A physically transient and eco-friendly distributed feedback laser chemosensor for detecting acid vapor, 2017
- Low threshold simultaneous multi-wavelength amplified spontaneous emission modulated by the lithium fluoride/Ag layers, 2015
- Utilizing laser interference lithography to fabricate hierarchical optical active nanostructures inspired by the blue Morpho butterfly, 2014
- White organic light emitting diodes with enhanced internal and external outcoupling for ultra-efficient light extraction and Lambertian emission, 2012
- Metrology of nanoscale grating structures by UV scatterometry, 2017
- Numerical investigations of the influence of different commonly applied approximations in scatterometry, 2013
- First steps towards a scatterometry reference standard, 2012
- Deep ultraviolet scatterometer for dimensional characterization of nanostructures: system improvements and test measurements, 2011