Магнитно-силовая микроскопия с регулируемым магнитным полем (TM-MFM)
При помощи дополнительного генератора магнитного поля и используя режим магнитно-силовой микроскопии (МСМ) можно наблюдать за изменениями магнитного состояния образца, вызванными магнитным полем.
Микроскопы, работающие в режиме МСМ с регулируемым магнитным полем (TM-MFM):
- Самый оснащенный и универсальный АСМ
- Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
- Бесконтактный режим True Non-Contact
- Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение
- Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)
- Точная топография АСМ с применением малошумного Z-детектора
- Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
- Консольный Z-сканер высокого усилия
- Удобное крепление головки SLD по направляющей
- Удобный держатель образца
- Предметный столик XY с ручным управлением