Сканирующая туннельная спектроскопия (STS)
Используя кантилевер сканирующей туннельной микроскопии в качестве контакта (масштаб нанометры), сканирующая туннельная спектроскопия (СТС) обеспечивает построение кривой тока (I) как функции напряжения смещения наконечника (V), приложенного к образцу.
Для изучения электрических свойств поверхности образца I/V спектроскопия измеряется на выбранном участке образца поле получения его изображения СТМ.
Данные по спектроскопии можно использовать для изучения локального электронного состояния образца.
Микроскопы, работающие в режиме сканирующей туннельной спектроскопии (STS):
- Самый оснащенный и универсальный АСМ
- Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
- Бесконтактный режим True Non-Contact
- Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение
- Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)
- Точная топография АСМ с применением малошумного Z-детектора
- Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
- Консольный Z-сканер высокого усилия
- Удобное крепление головки SLD по направляющей
- Удобный держатель образца
- Предметный столик XY с ручным управлением
У вас есть вопросы?
Пожалуйста, заполните форму, и наш специалист свяжется с вами в ближайшее время