Спектроскопия пьезоэлектрического отклика
При спектроскопии пьезоэлектрического отклика пользователь может создавать массив из сигналов ПСМ в зависимости от измерений спектроскопии смещения на различных участках.
Спектроскопия позволяет получить информацию по характеру локальных разворотов пьезоэлектрических доменов и измерить абсолютное значение пьезоэлектрической постоянной.
Микроскопы, работающие в режиме спектроскопии пьезоэлектрического отклика:
- Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 100 мкм × 100 мкм
- Консольный Z-сканер высокого усилия
- Удобное крепление головки SLD по направляющей
- Множественный зажим
- Моторизированный предметный столик XY
- Самый оснащенный и универсальный АСМ
- Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
- Бесконтактный режим True Non-Contact
- Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение
- Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)
- Точная топография АСМ с применением малошумного Z-детектора
- Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
- Консольный Z-сканер высокого усилия
- Удобное крепление головки SLD по направляющей
- Удобный держатель образца
- Предметный столик XY с ручным управлением
У вас есть вопросы?
Пожалуйста, заполните форму, и наш специалист свяжется с вами в ближайшее время