Стандартный режим отображения
Химические свойства
- Химическая силовая микроскопия (CFM) с функциональным наконечником
- Электрохимическая микроскопия (EC-AFM, EC-STM)
Диэлектрик-пьезоэлектрик
Электрические свойства
Измерения на основе АСМ-микроскопии
Магнитные свойства
- Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)
Механические свойства
Оптические свойства
- TERS (Спектроскопия комбинационного рассеяния с усилением наконечника)
Термические свойства
- Сканирующая микроскопия теплопроводности (SThM)

Электростатическая силовая микроскопия (EFM)