Объемное АСМ - изображение
При силовом объемном отображении создается карта свойств материала образца путем построения графиков таких параметров, как жесткость, интеграция и адгезия. Параметры, полученные по кривым силовой F-D спектроскопии (F-D, «сила-расстояние»), вводятся в виде матрицы.
Микроскопы, работающие в режиме объемного АСМ - изображения:
- Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 100 мкм × 100 мкм
- Консольный Z-сканер высокого усилия
- Удобное крепление головки SLD по направляющей
- Множественный зажим
- Моторизированный предметный столик XY
- Самый оснащенный и универсальный АСМ
- Сканирующий диапазон: 50 мкм × 50 мкм (10 мкм × 10 мкм, 100 мкм × 100 мкм)
- Бесконтактный режим True Non-Contact
- Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение
- Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)
- Точная топография АСМ с применением малошумного Z-детектора
- Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
- Консольный Z-сканер высокого усилия
- Удобное крепление головки SLD по направляющей
- Удобный держатель образца
- Предметный столик XY с ручным управлением
У вас есть вопросы?
Пожалуйста, заполните форму, и наш специалист свяжется с вами в ближайшее время